500kV直流支柱式瓷絕緣子離子遷移的研究.pdf

1、該文針對(duì)500kV直流支柱式瓷絕緣子離子遷移的問題進(jìn)行了研究,探討了離子遷移對(duì)500kV直流支柱式絕緣子瓷材料的影響,為國(guó)內(nèi)自行研制500kV直流支柱式絕緣子提供了理論和試驗(yàn)依據(jù).在對(duì)離子遷移試驗(yàn)研究的過程中,對(duì)原有離子遷移試驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行了改進(jìn),通過為每路泄漏電流回路設(shè)置接地開關(guān)及公共測(cè)量開關(guān),并在軟件上為測(cè)量回路設(shè)定4種狀態(tài),提高了測(cè)量系統(tǒng)的穩(wěn)定性.以懸式絕緣子離子遷移試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ),完整的設(shè)計(jì)了500kV直流支柱式瓷絕緣子離子遷移

2、試驗(yàn),其中包括研究了試品體積電阻隨溫度場(chǎng)強(qiáng)變化的規(guī)律,成功的設(shè)計(jì)了試驗(yàn)試品,確定了長(zhǎng)期離子遷移試驗(yàn)電壓(40kV)和試驗(yàn)溫度(130℃),計(jì)算了50年累計(jì)電荷量(0.173C).對(duì)10支試品進(jìn)行了長(zhǎng)期離子遷移試驗(yàn),測(cè)量了泄漏電流曲線和累計(jì)電荷量隨時(shí)間變化曲線,計(jì)算了試品的離子遷移率和遷移距離,并對(duì)試品Na<'+>、K<'+>的含量進(jìn)行了化學(xué)分析.長(zhǎng)期離子遷移試驗(yàn)結(jié)果表明,試品通過了離子遷移試驗(yàn)且表面沒有任何機(jī)械問題.化學(xué)分析結(jié)果表明長(zhǎng)期