基于液晶顯示控制芯片的驗(yàn)證方法的研究.pdf

1、近幾年來，移動電話、個人數(shù)字助理和數(shù)碼相機(jī)等消費(fèi)類電子產(chǎn)品需求的不斷增長推動了液晶顯示器市場的發(fā)展，從而也為控制器帶來了廣闊的市場前景。由于功能的不斷增加，液晶顯示控制器正變得越來越復(fù)雜，對其驗(yàn)證的難度也呈指數(shù)級增長。
　　 本文主要討論當(dāng)前各種流行的驗(yàn)證方法，并詳細(xì)敘述了如何對一個液晶顯示控制芯片進(jìn)行盡可能完備的系統(tǒng)驗(yàn)證。寄存器傳輸級代碼的驗(yàn)證是保證芯片功能正確的最關(guān)鍵因素，為此，本文討論了邏輯功能仿真驗(yàn)證和原型驗(yàn)證這兩種方法

2、。在邏輯功能仿真驗(yàn)證方法中，首先通過代碼靜態(tài)檢查保證代碼風(fēng)格。在詳細(xì)研究設(shè)計(jì)規(guī)格說明書的基礎(chǔ)上，構(gòu)建了一個可重用的驗(yàn)證平臺，綜合運(yùn)用了總線功能模型和可編程語言接口等方法。最后，對驗(yàn)證平臺的覆蓋率進(jìn)行了詳盡的分析以保證仿真的完備性。對于原型驗(yàn)證，使用FPGA作為目標(biāo)器件來構(gòu)造原型，模擬可能的流片結(jié)果，在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中進(jìn)行測試。
　　 現(xiàn)代ASIC設(shè)計(jì)需要經(jīng)歷眾多流程，每一道流程都必須保證設(shè)計(jì)的正確性和相關(guān)的性能指標(biāo)。正是基于這一點(diǎn)

3、，本文還討論了如何在設(shè)計(jì)流程中對網(wǎng)表和版圖等設(shè)計(jì)形式進(jìn)行驗(yàn)證。針對門級網(wǎng)表，主要進(jìn)行功能和時(shí)序的收斂性驗(yàn)證，包括形式驗(yàn)證、靜態(tài)時(shí)序分析和動態(tài)后仿真等。針對物理版圖，主要進(jìn)行版圖的可靠性驗(yàn)證，確保所實(shí)現(xiàn)出來的設(shè)計(jì)對象沒有物理違規(guī)，包括設(shè)計(jì)規(guī)則檢查和版圖原理圖一致性驗(yàn)證等。此外，芯片制造工藝的不斷復(fù)雜化導(dǎo)致了成品率的降低，為了驗(yàn)證制造過程的正確性，對流片回來的硅片進(jìn)行驗(yàn)證是必不可少的流程。本文針對液晶顯示控制芯片，介紹了兩種硅驗(yàn)證手段：掃描