基于分組傳送的流量管理芯片調(diào)度的驗(yàn)證.pdf

1、隨著半導(dǎo)體工藝的飛速發(fā)展，開發(fā)功能復(fù)雜、規(guī)模龐大、集成度高的芯片已成為芯片開發(fā)的主流。芯片規(guī)模不斷增加、設(shè)計(jì)門數(shù)不斷增長(zhǎng)，驗(yàn)證已成為芯片開發(fā)的主要瓶頸。如何保證芯片驗(yàn)證的高效性和完備性是芯片成功開發(fā)的關(guān)鍵，也是目前驗(yàn)證的主要研究方向。本課題結(jié)合項(xiàng)目的要求，對(duì)分組傳送芯片組中一款千萬(wàn)門級(jí)的流量管理芯片進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。
　　本課題研究了芯片驗(yàn)證平臺(tái)的搭建以及仿真驗(yàn)證的具體實(shí)現(xiàn)。在芯片驗(yàn)證過(guò)程中，以芯片規(guī)格的正確性為目的，緊緊圍繞驗(yàn)證的

2、完備性和高效性進(jìn)行了深入思考，分別從驗(yàn)證方法的選取上、芯片的一般驗(yàn)證過(guò)程中以及針對(duì)流量管理芯片的特殊性等幾方面進(jìn)行了考慮。
　　1）、驗(yàn)證方法的選取上：○1、為了提高驗(yàn)證的完備性，我們采取了提取驗(yàn)證特性，根據(jù)驗(yàn)證特性分解測(cè)試點(diǎn)，根據(jù)測(cè)試點(diǎn)編寫測(cè)試用例的方法；○2、為了提高驗(yàn)證的效率，我們采用了分層次的驗(yàn)證架構(gòu)，并以代碼覆蓋率為驗(yàn)證技術(shù)。
　　2）、芯片的一般驗(yàn)證過(guò)程中：○1、為了提高驗(yàn)證環(huán)境的抽象層次，我們采用接口機(jī)制對(duì)DU

3、T與驗(yàn)證環(huán)境的信號(hào)進(jìn)行封裝，將對(duì)多信號(hào)的引用轉(zhuǎn)化為對(duì)同一接口的引用；○2、為了滿足不同階段的測(cè)試需求，我們提供了凈荷類型可選的定向和隨機(jī)發(fā)包機(jī)制；○3、為了便于觀測(cè)仿真結(jié)果，我們提供了報(bào)文正確性檢測(cè)機(jī)制，并在仿真log文件的最后集中顯示；○4、為了提高定位問(wèn)題的速度，我們提供了流隊(duì)列和端口隊(duì)列獨(dú)立的亂序檢測(cè)機(jī)制，并對(duì)報(bào)文的正確性進(jìn)行分段檢測(cè)；○5、同時(shí)提供打印信息可控機(jī)制便于滿足不同仿真階段的信息需要。
　　3）、針對(duì)流量管理芯片

4、的特殊性：○1、為了便于調(diào)度的測(cè)試，我們提供了發(fā)包速率可控機(jī)制，并提供了流隊(duì)列和端口隊(duì)列獨(dú)立的流量檢測(cè)機(jī)制，窗口位置可移、長(zhǎng)度可調(diào)的流量檢測(cè)窗口可以滿足不同的測(cè)試需求；○2、為了提高仿真環(huán)境的自動(dòng)化程度，我們提供了消除shaping突發(fā)的時(shí)間窗起點(diǎn)自動(dòng)計(jì)算機(jī)制；○3、為了提高仿真驗(yàn)證的可靠性，我們?cè)隍?yàn)證環(huán)境中檢測(cè)并響應(yīng)了DUT的反壓；○4、為了便于觀測(cè)調(diào)度結(jié)果，我們提供了流量分層顯示機(jī)制，不僅顯示各用戶的流量還顯示基于用戶的各業(yè)務(wù)的流量