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文檔簡介
1、近十年,有賴于半導體工藝技術(shù)的飛速發(fā)展,EDA——電子設(shè)計自動化(Electronic Design Automation)技術(shù)和VLSI——超大規(guī)模集成電路(Very Large Scale Integration)技術(shù)的推廣和普及十分迅速,將一個或多個CPU單元以及功能部件集成在單個芯片上已經(jīng)不再是什么夢想,我們現(xiàn)在通常將這種單個的集成芯片稱之為SOC——片上系統(tǒng)(System On Chip)。
SOC的整個開發(fā)過程當中
2、一般由用戶通過硬件描述語言定義整個系統(tǒng),然后通過仿真工具進行仿真驗證,仿真驗證通過后設(shè)計人員會將設(shè)計源代碼或者設(shè)計版圖交給半導體芯片制造商進行流片[1]。然而,摩爾定律指出,驗證的復雜程度是與芯片的面積的平方成正比的,芯片單位面積容量每隔18個月增加一倍,驗證的復雜程度每隔6-9個月也就會翻一番。為了解決SOC驗證過程中的這個困難,必須進一步優(yōu)化方案,軟硬件協(xié)同驗證是當今SOC驗證的主要手段,與以往單純在軟件環(huán)境下模擬、流片后測試不同,
3、基于此項技術(shù),軟件模塊能夠在硬件設(shè)備上高速運行[2]。例如,軟件環(huán)境下模擬1s鐘的時序行為可能要5-6個小時,在FPGA上就只是實實在在的1s鐘,差距是顯而易見的,但同時大規(guī)模集成電路設(shè)計向FPGA的移植過程,就目前來來看,效率不高也不夠智能,仍有很多問題需要解決。
基于以上問題,本文研究的主要內(nèi)容就是基于FPGA的SOC驗證過程中系統(tǒng)集成、代碼移植、環(huán)境搭建過程中的自動化方案,文章將結(jié)合我再中科院計算所基帶芯片原型驗證的實際
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