平板顯示器電極缺陷圖像識別算法的研究.pdf

1、平板顯示器在生產過程中由于受原材料、生產設備、工藝水平和生產環(huán)境等因素的影響，不可避免的存在各種各樣的缺陷。缺陷的存在使得顯示質量變差，甚至導致產品的報廢，造成人力、物力資源的浪費。因此有必要對平板顯示器進行缺陷檢測。傳統(tǒng)的人工檢測方法容易漏檢、檢測速度慢、檢測時間長，已經不能滿足生產的需要，快速、高效的檢測手段已成為研究的重點。 基于圖像處理的缺陷檢測技術通過線陣CCD照相的方式獲得電極的圖像，然后經過計算機圖像處理和識別來判

2、斷缺陷位置及種類。這種檢測技術對工業(yè)生產中實時在線檢測具有重要的意義。 本文從PDP的制造工藝出發(fā)，介紹了PDP的結構、工藝流程及在工藝生產中可能產生的缺陷種類，并詳細分析了缺陷產生的原因。重點研究了PDP電極缺陷檢測與識別算法，通過對數學形態(tài)學算法和骨架法缺陷檢測與識別原理的分析和比較，提出了一種計算速度快、識別準確率高、適合于平板顯示特別是PDP的電極缺陷檢測與識別算法——構建模板法。該算法對顯示區(qū)域的直線電極部分和引出的斜