行波管夾持桿衰減涂層沿軸衰減分布的測(cè)試.pdf

1、行波管被廣泛的應(yīng)用于雷達(dá)、遙測(cè)、電子對(duì)抗等電子設(shè)備中，是微波領(lǐng)域中非常重要的器件，行波管工作的穩(wěn)定性與行波管內(nèi)所用集中衰減器的匹配性能密切相關(guān)，其匹配性能決定于構(gòu)成集中衰減器的涂有衰減層的夾持桿上衰減涂層的分布。由此可見，夾持桿上衰減涂層的分布對(duì)于行波管的性能有著極其重要的作用，所以測(cè)試衰減涂層的分布有著重要的意義。 對(duì)于行波管中的夾持桿上衰減涂層分布的測(cè)試，國(guó)內(nèi)目前還只是通過(guò)測(cè)直流電阻的方法來(lái)粗略估計(jì)衰減涂層的分布，這種方法的

2、誤差大。 本課題將會(huì)通過(guò)微波測(cè)量衰減的方法，建立一套測(cè)試系統(tǒng)對(duì)X，Ku波段行波管帶有衰減分布涂層夾持桿上沿軸衰減分布函數(shù)的測(cè)試。為了提高測(cè)試的分辨率，將會(huì)設(shè)計(jì)一個(gè)高分辨率的測(cè)試傳感器，并設(shè)計(jì)了避免場(chǎng)泄漏的屏蔽裝置。采用測(cè)試｜S21｜和｜S11｜兩個(gè)標(biāo)量參數(shù)，后者代表無(wú)功的反射損耗，我們將從代表總插損的｜S21｜中扣除以獲得代表試樣上所產(chǎn)生的純粹的有功損耗，即每段衰減量的值。 經(jīng)過(guò)仿真和優(yōu)化后加工出了X和Ku波段測(cè)試系統(tǒng)所