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文檔簡介
1、集成電路(IC)所用材料主要有硅、鍺和砷化鎵等,但目前單晶硅的使用占據(jù)全球IC生產(chǎn)的90%以上。硅材料是典型的脆性難加工材料,隨著IC技術向著大尺寸化方向發(fā)展,對高表面質量的硅片加工技術提出了越來越嚴峻的挑戰(zhàn)。基于這一背景,本文提出采用冰凍固結磨具進行硅片的塑性模態(tài)加工新技術,開展了硅片塑性模態(tài)加工機理、冰凍固結磨具的制備以及拋光工藝等方面的研究,對所提新技術的應用進行了積極的探索。主要工作和取得的成果如下: 1. 設計制作了用
2、于低溫硬度實驗用的低溫實驗臺,對單晶硅片進行了高溫、低溫以及常溫下的維氏顯微硬度實驗,獲得了單晶硅的硬度值、壓痕裂紋長度值隨溫度變化和壓痕載荷變化的趨勢。 2. 設計制作了用于冰凍固結磨具制備的模具,對冰凍固結磨具的制備工藝開展了實驗研究,總結了其制備步驟;針對冰凍固結磨具凍結過程中出現(xiàn)的氣泡、裂紋、磨料沉降等問題提出了相應的解決辦法,成功地制備出磨料均勻分布的納米SiO2和Al2O3冰凍固結磨具。 3. 建立了冰凍固結
3、磨具拋光硅片時單顆磨粒和多顆磨粒的運動軌跡模型,推導出了單顆磨粒和多顆磨粒的拋光軌跡方程;仿真分析了偏心距、磨具與工件的轉速比以及磨粒顆粒數(shù)等因素對拋光軌跡的影響,得出了相應的影響趨勢,為預測表面粗糙度提供了基礎。 4. 設計制作了用于低溫拋光的工件盤,搭建了低溫拋光實驗環(huán)境,采用原子力顯微鏡分析比較了納米SiO2和Al2O3冰凍固結磨具對硅片的拋光效果,包括表面微觀形貌和表面粗糙度。結果表明,納米SiO2比納米Al2O3具有更
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