基于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)總線的數(shù)字化截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng).pdf

1、過程參數(shù)截面檢測(cè)技術(shù)是近年來迅速發(fā)展的一種在線檢測(cè)技術(shù),其通過采用基于輻射、電磁和光學(xué)等原理的陣列式傳感器,獲取被測(cè)對(duì)象特定剖面二維分布信息和圖像,具有非擾動(dòng)、可視化、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低等特點(diǎn),在石油、化工、制藥、食品加工、冶金以及環(huán)境監(jiān)測(cè)等過程參數(shù)的在線測(cè)量方面有廣泛的應(yīng)用前景。
　　在生產(chǎn)過程參數(shù)的檢測(cè)中的,對(duì)于過程參數(shù)的實(shí)時(shí)準(zhǔn)確的獲取對(duì)生產(chǎn)過程的監(jiān)測(cè)與優(yōu)化具有重要意義。但是,在實(shí)際工業(yè)生產(chǎn)過程中,過程參數(shù)變化往往十分迅速,已有

2、的截面檢測(cè)技術(shù)很難滿足工業(yè)應(yīng)用上對(duì)實(shí)時(shí)性要求。此外,由于大多截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采用的是非工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)傳輸協(xié)議,從而使過程參數(shù)截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的工業(yè)推廣及發(fā)展受到限制。
　　本課題以過程參數(shù)截面檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性提高和滿足工業(yè)化應(yīng)用為出發(fā)點(diǎn),設(shè)計(jì)了一種基于工業(yè)系統(tǒng)總線標(biāo)準(zhǔn)——Compact PCI的數(shù)字化過程參數(shù)截面檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),主要研究工作如下:
　　1.通過研究傳統(tǒng)的過程參數(shù)截面檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采用模擬濾波和模擬解調(diào)方案的不足

3、,本課題以截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性性能的提高為出發(fā)點(diǎn),設(shè)計(jì)了基于FPGA數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)的數(shù)字濾波和數(shù)字解調(diào)方案;
　　2.通過研究Compact PCI總線技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用,本課題從截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的穩(wěn)定性和實(shí)時(shí)性出發(fā),以截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的工業(yè)應(yīng)用與推廣為目的,設(shè)計(jì)了基于Compact PCI總線技術(shù)的過程參數(shù)截面數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)方案;
　　3.完成過程參數(shù)截面檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的各個(gè)模塊的電路原理和印制電路板的設(shè)計(jì),并進(jìn)行系統(tǒng)