寬帶隙稀磁半導體納晶的特性研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩63頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、稀磁半導體材料和納米材料是當前國際兩大重點研究領域。稀磁半導體納晶材料則集兩者特點于一身,更是備受關注,探索稀磁納晶材料的新穎特性和調控手段成為當前研究的熱點。
   本論文簡要回顧了自旋電子學、寬帶隙稀磁半導體和低維相的研究歷史和現(xiàn)狀;詳細闡述了密度泛函理論以及電子結構計算方法;離散變分方法和ADF以及原子模擬方法。
   首先利用第一性原理電子結構計算方法系統(tǒng)考察了寬帶隙稀磁半導體Mn/Cr-GaN納晶團簇的電子結構

2、和磁學特性,深入研究了該納晶體系的對稱性,表面吸附原子和磁學特性間的關系;最后采用原子模擬方法對過渡金屬Co/Fe摻雜不同尺寸ZnO 納晶團簇的缺陷分布特性進行了研究。
   本研究表明,具有Oh對稱的Ga12MnN14H24,Ga12MnN14H32和Ga12MnN14H38巖鹽型納晶團簇,每個Ga原子上吸附2個H原子,每個頂角和面心處N原子上無或吸附一個H原子,H原子覆蓋度為44[%],59[%]和70[%],其納晶團簇的總

3、磁矩均為3μB。而Cr摻雜時為2μB。具有Oh對稱的Ga12Mn(Cr)N14H48巖鹽型納晶團簇,每個Ga原子吸附2個H原子,每個頂角處N原子吸附3個H原子,這樣H原子覆蓋度為89[%]。對于Mn摻雜情形,發(fā)現(xiàn)了一個低自旋基態(tài)結構和一個高自旋亞穩(wěn)態(tài)結構,總磁矩分別為1μB和5μB,能量差僅為0.03eV,兩態(tài)間的渡越勢壘為0.17eV,0.14eV。然而對于Cr 摻雜情形,只得到一個總磁矩為3.8μB的磁性基態(tài)結構。繼續(xù)在每個面心處N

4、原子上吸附一個H原子,使H原子覆蓋度達到100[%],此時Ga12MnN14H54納晶團簇僅有一個總磁矩為5μB的高自旋基態(tài)。具有D4h對稱的Ga12Mn(Cr)N14H40巖鹽型納晶團簇,H原子覆蓋度為74[%],其中每個Ga原子吸附2個H原子,每個頂角處N原子吸附2個H原子。對于Mn摻雜情形,發(fā)現(xiàn)了一個低自旋基態(tài)結構和兩個高自旋亞穩(wěn)態(tài)結構,總磁矩分別為1μB,3μB和5μB,磁亞穩(wěn)態(tài)能量比基態(tài)高0.10eV,0.15eV。對于Cr摻

5、雜情形,同樣發(fā)現(xiàn)了一個低自旋基態(tài)結構和兩個高自旋亞穩(wěn)態(tài)結構,總磁矩分別為0.2μB,2μB和4μB,磁亞穩(wěn)態(tài)能量比基態(tài)高0.01eV,0.08eV。多重磁態(tài)主要來源于Mn/Cr與近鄰N原子的鐵磁或反鐵磁耦合。對于具有Td對稱的Ga12MnN16H36閃鋅礦型納晶團簇,每個Ga原子吸附1個H原子,每個外層N原子吸附2個H原子。計算結果表明,基態(tài)結構總磁矩為5μB。
   最后研究了摻雜離子Co2+和Fe2+在ZnO納晶團簇(粒徑為

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論