基于μC-OS_Ⅱ的萬能試驗機控制系統(tǒng)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、電子萬能材料試驗機是測定材料機械性能的基本設(shè)備之一，應(yīng)用范圍廣泛。隨著試驗機技術(shù)和微電子技術(shù)的快速發(fā)展，舊有的試驗機測控系統(tǒng)已逐漸不能適應(yīng)廣大用戶的測試需求，迫切要求新一代試驗機測控系統(tǒng)向數(shù)字化、智能化、集成化方面邁進。 本課題研究的主要任務(wù)是針對原有的材料試驗機存在的缺陷，進行技術(shù)改造和升級，將嵌入式操作系統(tǒng)Μc/OS_II移植到ARM處理器上，共同構(gòu)建試驗平臺，論文主要圍繞如下幾個方面的進行了研究工作: 1. 針對原

2、來試驗機控制系統(tǒng)存在的缺陷，結(jié)合最新國家材料試驗標準，通過對系統(tǒng)工作原理和試驗參數(shù)分析的基礎(chǔ)上，提出控制系總體設(shè)計方案。主控制器改用ARM7體系結(jié)構(gòu)的LPC2210，A/D轉(zhuǎn)換芯片改用24位模數(shù)轉(zhuǎn)換器CS5532，上下位機數(shù)據(jù)交換改用USB口進行通訊。 2. 根據(jù)改進后的總體設(shè)計方案，完成硬件電路的設(shè)計。編寫Μc/OS_II與LPC2210的硬件接口函數(shù)，移植Μc/OS_II到LPC2210，測試移植代碼的正確性。 3．

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