一種基于支路潮流的電壓穩(wěn)定指標(biāo)的研究及應(yīng)用.pdf

1、隨著近年來(lái)一系列電壓失穩(wěn)事故的發(fā)生，電壓穩(wěn)定越來(lái)越受到了人們的重視。盡管國(guó)內(nèi)外學(xué)者在這方面已經(jīng)做了很多研究，但電壓穩(wěn)定的許多問(wèn)題至今仍然沒(méi)有達(dá)成共識(shí)，因此電壓穩(wěn)定的研究依然有著重要的意義。在總結(jié)前人研究工作的基礎(chǔ)上，本文對(duì)電壓穩(wěn)定問(wèn)題做了進(jìn)一步研究。首先回顧了電壓穩(wěn)定研究中所關(guān)心的一些問(wèn)題，重點(diǎn)分析了現(xiàn)已提出的一些電壓穩(wěn)定指標(biāo)的優(yōu)缺點(diǎn)。然后基于支路潮流分析，由電壓的二次方程有解條件提出了一種電壓穩(wěn)定指標(biāo)——LSI(Line Stabil

2、ity Index)。該指標(biāo)計(jì)算簡(jiǎn)單快速，避免了大規(guī)模矩陣運(yùn)算和復(fù)雜迭代過(guò)程等缺點(diǎn)。LSI取值在0到1之間，與1的距離反映了該支路的電壓穩(wěn)定裕度，它可以反映節(jié)點(diǎn)和支路的信息，不僅能夠判斷系統(tǒng)中的弱節(jié)點(diǎn)，還可以判斷出系統(tǒng)中的弱傳輸支路，這也是該指標(biāo)優(yōu)于節(jié)點(diǎn)電壓穩(wěn)定指標(biāo)之處。提出基于LSI的預(yù)想事故的排序和篩選方案。以本文提出的電壓穩(wěn)定指標(biāo)作為事故對(duì)系統(tǒng)電壓穩(wěn)定性影響大小的判據(jù)，把事故后系統(tǒng)電壓穩(wěn)定指標(biāo)作為樣本，用改進(jìn)的模糊K-均值算法將其