一種基于支路潮流的電壓穩(wěn)定指標(biāo)的研究及應(yīng)用.pdf

1、隨著近年來一系列電壓失穩(wěn)事故的發(fā)生，電壓穩(wěn)定越來越受到了人們的重視。盡管國內(nèi)外學(xué)者在這方面已經(jīng)做了很多研究，但電壓穩(wěn)定的許多問題至今仍然沒有達成共識，因此電壓穩(wěn)定的研究依然有著重要的意義。在總結(jié)前人研究工作的基礎(chǔ)上，本文對電壓穩(wěn)定問題做了進一步研究。首先回顧了電壓穩(wěn)定研究中所關(guān)心的一些問題，重點分析了現(xiàn)已提出的一些電壓穩(wěn)定指標(biāo)的優(yōu)缺點。然后基于支路潮流分析，由電壓的二次方程有解條件提出了一種電壓穩(wěn)定指標(biāo)——LSI(Line Stabil

2、ity Index)。該指標(biāo)計算簡單快速，避免了大規(guī)模矩陣運算和復(fù)雜迭代過程等缺點。LSI取值在0到1之間，與1的距離反映了該支路的電壓穩(wěn)定裕度，它可以反映節(jié)點和支路的信息，不僅能夠判斷系統(tǒng)中的弱節(jié)點，還可以判斷出系統(tǒng)中的弱傳輸支路，這也是該指標(biāo)優(yōu)于節(jié)點電壓穩(wěn)定指標(biāo)之處。提出基于LSI的預(yù)想事故的排序和篩選方案。以本文提出的電壓穩(wěn)定指標(biāo)作為事故對系統(tǒng)電壓穩(wěn)定性影響大小的判據(jù)，把事故后系統(tǒng)電壓穩(wěn)定指標(biāo)作為樣本，用改進的模糊K-均值算法將其