高分辨A-D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試軟件研究.pdf

1、高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試軟件研究課題是針對(duì)實(shí)際工作中A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試遇到的困難而提出的。目前，國(guó)內(nèi)大多數(shù)A/D靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是利用傳統(tǒng)的外掛信號(hào)源與數(shù)字集成電路電路測(cè)試系統(tǒng)集成而成。在測(cè)試時(shí)由外掛信號(hào)源提供模擬信號(hào)，由數(shù)字系統(tǒng)提供被測(cè)A/D的數(shù)字激勵(lì)并捕獲被測(cè)A/D產(chǎn)生的數(shù)字量，再對(duì)數(shù)字量進(jìn)行算法處理得出測(cè)試結(jié)果。在這種測(cè)試方法中，由測(cè)試系統(tǒng)的模擬部分產(chǎn)生鋸齒波作為測(cè)試波形。鋸齒波以微小步進(jìn)上升，就會(huì)使被測(cè)試A/D的數(shù)字輸出逐步變

2、大。此時(shí)通過(guò)統(tǒng)計(jì)，得知每一個(gè)被測(cè)A/D的數(shù)字輸出碼對(duì)應(yīng)的鋸齒波微小步進(jìn)的次數(shù)，就可計(jì)算出被測(cè)A/D的各項(xiàng)靜態(tài)參數(shù)。但由于鋸齒波的步進(jìn)很小，因此當(dāng)測(cè)試高分辨率的A/D時(shí)，被測(cè)試的信號(hào)就很可能被誤差所掩蓋。 本設(shè)計(jì)先用美國(guó)IMS公司的ATS60E大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)對(duì)A/D進(jìn)行測(cè)試，獲得測(cè)試數(shù)據(jù)后，將依據(jù)直方圖法的原理，用美國(guó)國(guó)家儀器公司的Labview軟件程序，對(duì)所獲得的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到被測(cè)試A/D的各項(xiàng)靜態(tài)參數(shù)。先推導(dǎo)出直方

3、圖測(cè)試法的高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)計(jì)算公式，并用Labview對(duì)靜態(tài)參數(shù)計(jì)算公式的算法編程，完成了高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)直方圖測(cè)試法的具體實(shí)現(xiàn)。鋸齒波以微小步進(jìn)上升，被測(cè)A/D的LSB<,IDEAL>至少是鋸齒波微小步進(jìn)的16倍且是整數(shù)倍數(shù)。由于Labview是圖形化的程序語(yǔ)言，又稱為“G”語(yǔ)言，是一個(gè)面向最終用戶的工具，它提供了實(shí)現(xiàn)儀器編程和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的便捷途徑。使用這種語(yǔ)言編程時(shí)，基本上不寫程序代碼，取而代之的是流程圖。因此在設(shè)計(jì)好