高壓脈沖晶閘管熱特性研究.pdf

1、高壓脈沖晶閘管作為一種耐壓高、通流大的半導體開關被廣泛應用于脈沖功率領域。本文主要研究脈沖晶閘管的熱特性，包括基于瞬態(tài)熱阻抗網(wǎng)絡晶閘管結溫計算，有限元仿真分析晶閘管結溫不均勻分布和晶閘管結溫的實驗測量。
　　論文推導了晶閘管熱阻抗網(wǎng)絡模型與電路模型之間的等效過程，求解了晶閘管的熱阻抗參數(shù)，在此基礎上求解了不同脈沖電流下晶閘管結溫響應曲線，同時計算了考慮結溫對晶閘通態(tài)壓降的反饋影響下的結溫響應曲線。計算結果表明，流過晶閘管的脈沖電流

2、其峰值對結溫的影響比脈寬對結溫的影響顯著，考慮結溫對晶閘管通態(tài)壓降反饋影響后計算的結溫要比不考慮反饋影響下的結溫要大。
　　論文分析了脈沖晶閘管開通過程中導通區(qū)域的擴展過程，建立了晶閘管耗散功率密度的不均勻分布數(shù)學模型，結合晶閘管傳熱有限元模型，求解晶閘管不均勻溫度分布。仿真結果表明，晶閘管在流過脈沖大電流時，熱量開始時主要集中在門極附近，隨后開始逐漸往周圍陰極區(qū)域擴散。熱量擴散速度的快慢主要取決于導通區(qū)域的擴展速度。同時由于硅片

3、和鉬片的導熱系數(shù)都比較小，所以晶閘管閥片上的熱量主要集中在硅片上，從硅片往兩側鉬片上擴散的熱量很小，而擴散到鉬片外側銅基座上的熱量就更少。晶閘管的溫度不均勻分布導致局部溫度高達數(shù)百至一千攝氏度，達到晶閘管閥片缺陷點的熔點，造成閥片熔化，導致晶閘管熱擊穿和損壞。
　　論文基于熱敏參數(shù)法的基本原理，針對熱敏參數(shù)法測量脈沖晶閘管結溫所存在的技術難點，設計了合理的實驗方案，通過在待測晶閘管兩端并聯(lián)一個恒流源支路，提前觸發(fā)待測晶閘管導通，這