質量管理信息系統(tǒng)中控制圖模式的研究及實現(xiàn).pdf

1、作為質量管理信息系統(tǒng)中的關鍵技術之一，SPC(統(tǒng)計過程控制)技術對于整個系統(tǒng)的運作起到了至關重要的作用。SPC 可以對質量數(shù)據(jù)進行分析，以便對過程的異常提出預警，幫助恢復過程的穩(wěn)定性，從而提高產(chǎn)品的質量。 本文主要針對 SPC 技術的控制圖部分展開研究，在借鑒國內外研究和應用技術的基礎上，提出了 SHEWHART 控制圖和 EWMA 控制圖相結合的控制圖模式。 論文對 SHEWHART 控制圖、CUSUM 控制圖以及

2、 EWMA 控制圖性能進行了較為詳細的研究，主要工作包括： (1) 借助 Matlab，確定平均運行長度的計算程序，得出樣本大小n對控制圖性能的影響。 (2) 運用平均運行長度為度量標準，確定控制圖參數(shù)，對三種控制圖檢測大小偏移的性能進行比較，得出其在不同情況和參數(shù)下的優(yōu)劣。 (3) 根據(jù)研究結果，分析不同控制圖對不同偏移的性能并提出 SHEWHART 控制圖和 EWMA控制圖相結合的控制圖模式以獲得對各種

3、偏移的良好識別能力。 (4) 將所提出的控制圖模式應用于系統(tǒng)開發(fā)當中，開發(fā)過程采用 Java 語言進行，系統(tǒng)實施方面則采用適用于本系統(tǒng)的 C/S 體系結構。 通過實例驗證，發(fā)現(xiàn)該控制圖模式能有效地識別大小偏移，彌補了單一控制圖的局限性。既保留了 SHEWHART 控制圖在識別大偏移上的優(yōu)勢又改進了其在識別小偏移上的不足。 本論文的內容對提高控制圖的靈敏性具有理論與應用價值，進而提高了質量管理信息系統(tǒng)的性能，