嵌入式軟件測(cè)試與軟件質(zhì)量評(píng)估【開(kāi)題報(bào)告+文獻(xiàn)綜述+畢業(yè)設(shè)計(jì)】

1、1畢業(yè)設(shè)計(jì)開(kāi)題報(bào)告畢業(yè)設(shè)計(jì)開(kāi)題報(bào)告電子信息科學(xué)與技術(shù)電子信息科學(xué)與技術(shù)嵌入式軟件測(cè)試和軟件質(zhì)量評(píng)估嵌入式軟件測(cè)試和軟件質(zhì)量評(píng)估一、選題的背景與意義嵌入式系統(tǒng)出現(xiàn)至今已經(jīng)有30多年的歷史了，嵌入式技術(shù)也經(jīng)歷了幾個(gè)發(fā)展階段。20世紀(jì)70年代，嵌入式系統(tǒng)開(kāi)始應(yīng)用于工業(yè)控制領(lǐng)域。隨著國(guó)防、工業(yè)、醫(yī)療等部門(mén)對(duì)智能控制需求的不斷增長(zhǎng)和計(jì)算機(jī)技術(shù)、微電子技術(shù)的飛速發(fā)展，嵌入式微處理器在運(yùn)算速度、可擴(kuò)展能力、可靠性、功耗和集成度等方面都得到了顯著提高，

2、從而使得嵌入式系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域不斷擴(kuò)展。進(jìn)入21世紀(jì)后，多媒體技術(shù)與Inter的應(yīng)用迅速普及，消費(fèi)電子、計(jì)算機(jī)、通信一體化日趨明顯，嵌入式技術(shù)再次成為一個(gè)研究熱點(diǎn)，嵌入式技術(shù)不再簡(jiǎn)單的被用于功能控制，隨著集成電路工藝技術(shù)的不斷發(fā)展和集成度的大幅度提高，將操作系統(tǒng)集成到單一芯片中，實(shí)現(xiàn)單硅片嵌入式系統(tǒng)已成為現(xiàn)實(shí)，嵌入式系統(tǒng)憑借著自身的許多優(yōu)點(diǎn)已經(jīng)被應(yīng)用到人類生活的各個(gè)領(lǐng)域，如：金融、國(guó)防、航天等，并且將向網(wǎng)絡(luò)化、智能化繼續(xù)發(fā)展。信息化社會(huì)的

3、建設(shè)對(duì)嵌入式系統(tǒng)市場(chǎng)提出巨大需求，商業(yè)、工業(yè)、航天等領(lǐng)域?qū)η度胧皆O(shè)備的需求與日俱增，嵌入式系統(tǒng)產(chǎn)業(yè)在國(guó)內(nèi)外的市場(chǎng)上擁有著廣闊的天地。然而由于嵌入式設(shè)備的特殊性，對(duì)嵌入式系統(tǒng)及軟件的可靠性、有效性和穩(wěn)定性有著比普通設(shè)備更高的要求，嵌入式設(shè)備故障往往會(huì)導(dǎo)致災(zāi)難性的后果，即使是在對(duì)安全性要求不高的領(lǐng)域，由于大批量生產(chǎn)也會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。因此，嵌入式軟件質(zhì)量、嵌入式操作系統(tǒng)的性能等對(duì)嵌入式設(shè)備來(lái)說(shuō)至關(guān)重要，也越來(lái)越受到人們的重視。二、研究的

4、基本內(nèi)容與擬解決的主要問(wèn)題：本課題通過(guò)對(duì)嵌入式軟件特點(diǎn)及其測(cè)試策略的深入分析和對(duì)LinuxTestProject（簡(jiǎn)稱LTP）、IOzone、wk等相關(guān)測(cè)試套件的研究，實(shí)現(xiàn)三個(gè)專業(yè)的、完善的用于Cpu、IO、wk性能測(cè)試的工具并用于評(píng)估嵌入式平臺(tái)性能。主要研究?jī)?nèi)容包括：3間，而基于宿主的測(cè)試代價(jià)較小，目前的趨勢(shì)是把更多的測(cè)試轉(zhuǎn)移到宿主環(huán)境中進(jìn)行，但畢竟是在模擬環(huán)境中進(jìn)行的，目標(biāo)環(huán)境的復(fù)雜性和獨(dú)特性不可能完全模擬。本課題在測(cè)試過(guò)程中搭建基

5、于x86處理器上虛擬機(jī)宿主環(huán)境，用于測(cè)試一些單元、模塊等底層測(cè)試。3.2目標(biāo)環(huán)境與宿主環(huán)境對(duì)比測(cè)試由于目標(biāo)環(huán)境的復(fù)雜性和獨(dú)特性在宿主環(huán)境中無(wú)法完全模擬，所以在宿主環(huán)境中一邊進(jìn)行軟件的單元、模塊等底層測(cè)試，然后將系統(tǒng)移植到目標(biāo)環(huán)境中進(jìn)行集成、系統(tǒng)、基礎(chǔ)軟硬件、性能等測(cè)試。這樣既避免了底層測(cè)試環(huán)境搭建難得問(wèn)題，同時(shí)又能驗(yàn)證系統(tǒng)在向目標(biāo)環(huán)境移植的過(guò)程中可能出現(xiàn)的不知名的錯(cuò)誤，做到測(cè)試的高效和有效性。宿主環(huán)境測(cè)試完成后，測(cè)試代碼將會(huì)被移植到Fr

6、eescale7448平臺(tái)上運(yùn)行測(cè)試，該平臺(tái)是基于PowerPC處理器上的測(cè)試平臺(tái)。如此，可以做到在不同處理器環(huán)境中的對(duì)比測(cè)試。四、研究的總體安排與進(jìn)度：1、2010.102010.12查閱文獻(xiàn)，做英文翻譯；2、2010.122011.01完成開(kāi)題報(bào)告，熟悉嵌入式環(huán)境下的編程；3、2011.012011.03完成在虛擬機(jī)和Freescale7448平臺(tái)上運(yùn)行測(cè)試；4、2011.04撰寫(xiě)畢業(yè)論文，準(zhǔn)備答辯。五、主要參考文獻(xiàn)：[1](美)G

7、lenfdJMyers等著，王峰，陳杰譯TheArtofSoftwareTesting(SecondEdition)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社2006[2]RonPattonSoftwareTesting(2ndEdition)SAMSPublishing2006[3]WangLIssuesonsoftwaretestingfsafetycriticalrealtimeautomationSystemsThe23rdDigitalAv