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1、RSTRST內(nèi)存內(nèi)存檢測(cè)軟件(檢測(cè)軟件(RSTRST只能檢測(cè)只能檢測(cè)SDSD和DDRDDR內(nèi)存內(nèi)存,DDR2DDR2DDR3DDR3可能不可能不支持2010012411:18:04|分類:技術(shù)教程|標(biāo)簽:|字號(hào)大中小訂閱工廠檢測(cè)內(nèi)存內(nèi)存條質(zhì)量的軟件RamStressTest,只要有一丁點(diǎn)問(wèn)題,都能檢查出來(lái),推薦大家使用,各位一定都碰到過(guò),提示內(nèi)存內(nèi)存不能為READ,或者WRITTEN的情況,很多時(shí)候都是軟件問(wèn)題,要解決他首先檢查內(nèi)存內(nèi)存
2、條的質(zhì)量,然后再?gòu)能浖フ覇?wèn)題。這個(gè)軟件是最專業(yè)的,比那個(gè)MEMREST還好,只需要檢查一邊,好就是好,壞的就是壞的。這個(gè)軟件確實(shí)很好,內(nèi)存內(nèi)存壞的話會(huì)顯示紅色,并且報(bào)警。但是只能檢測(cè)一代內(nèi)存內(nèi)存,二代內(nèi)存內(nèi)存就需要微軟的檢測(cè)工具了。RamStressTest是美國(guó)UltraX公司旗下的一個(gè)專業(yè)記憶體測(cè)試程式,是專門給系統(tǒng)生產(chǎn)廠商出機(jī)前用的測(cè)試程式,他其實(shí)是從其他的產(chǎn)品獨(dú)立出來(lái)的一項(xiàng)測(cè)試,該公司專作系統(tǒng)測(cè)試的軟硬體,方便生產(chǎn)廠商將產(chǎn)品做
3、詳細(xì)測(cè)試,至于R.S.T.在目前記憶體生產(chǎn)業(yè)使用非常普遍,因?yàn)榻?jīng)過(guò)他的測(cè)試幾乎就能應(yīng)付大部分的記憶體問(wèn)題,所以是非常好用的一個(gè)測(cè)試工具?。∈褂梅浅:?jiǎn)易,只要設(shè)定為軟碟開機(jī)就行了,他是一個(gè)獨(dú)立開發(fā)的系統(tǒng),沒(méi)有依附任何作業(yè)系統(tǒng),相容于x86系列,只要BIOS認(rèn)的到的容量他都能測(cè)??!發(fā)現(xiàn)ATS選項(xiàng)錯(cuò)誤,在BIOS中,記憶體選項(xiàng)設(shè)成Auto時(shí),記憶體的CL=2,改成Manual,自設(shè)CL=2.5時(shí),上述選項(xiàng)才能通過(guò)。附件IMZ需要用winIma
4、ge展開到軟盤上,然后用此軟盤啟動(dòng)系統(tǒng)。附件NRG是用Nero燒錄可啟動(dòng)光盤的軟盤鏡像文件。程序執(zhí)行后,第一選項(xiàng)是測(cè)試物理內(nèi)存內(nèi)存中基本內(nèi)存內(nèi)存地址(640K),第二項(xiàng)是擴(kuò)展內(nèi)存內(nèi)存地址,第三項(xiàng)是測(cè)試你CPU的L2cache?!羁梢詼y(cè)試SD及DDR內(nèi)存內(nèi)存?!铋W動(dòng)數(shù)字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF依次代表內(nèi)存內(nèi)存條的8顆顆粒。從左到右橫
5、著數(shù):07代表第1顆粒區(qū)域、8F代表第2顆粒、07代表第3顆粒、8F代表第4顆粒、07代表第5顆粒代、8F代表第6顆粒、07代表第7顆粒、8F代表第8顆?!铧c(diǎn)不亮內(nèi)存內(nèi)存的測(cè)試方法——很多內(nèi)存內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點(diǎn)亮,點(diǎn)不亮的可以用一根好的內(nèi)存內(nèi)存去帶動(dòng)它(可解決部分點(diǎn)不亮問(wèn)題)。必須SD的帶SD的,DDR的帶DDR的。本軟件會(huì)自動(dòng)跳過(guò)好的去檢測(cè)壞的那根。1632M3248M4864M從1M到64M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話
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