主板故障診斷卡代碼查詢手冊

1、查表必讀：（注意事項(xiàng)）1、特殊代碼“00”和“FF”及其它起始碼有三種情況出現(xiàn)：①已由一系列其它代碼之后再出現(xiàn)：“00”或“FF”，則主板OK。②如果將CMOS中設(shè)置無錯(cuò)誤，則不嚴(yán)重的故障不會影響B(tài)IOS自檢的繼續(xù)，而最終出現(xiàn)“00”或“FF”。③一開機(jī)就出現(xiàn)“00”或“FF”或其它起始代碼并且不變化則為板沒有運(yùn)行起來。2、本表是按代碼值從小到大排序，卡中出碼順序不定。3、未定義的代碼表中未列出。4、對于不同BIOS（常用的AMI、Aw

2、ard、Phoenix）用同一代碼所代表的意義有所不同，因此應(yīng)弄清您所檢測的電腦是屬于哪一種類型的BIOS，您可查問你的電腦使用手冊，或從主板上的BIOS芯片上直接查看，也可以在啟動屏幕時(shí)直接看到。5、有少數(shù)主板的PCI槽只有前一部分代碼出現(xiàn)，但I(xiàn)SA槽則有完整自檢代碼輸出。且目前已發(fā)現(xiàn)有極個(gè)別原裝機(jī)主板的ISA槽無代碼輸出，而PCI槽則有完整代碼輸出，故建議您在查看代碼不成功時(shí)，將本雙槽卡換到另一種插槽試一下。另外，同一塊主板的不同P

3、CI槽，有的槽有完整代碼送出，如DELL810主板只有靠近CPU的一個(gè)PCI槽有完整的代碼顯示，一直變化到“00”或“FF”，而其它槽走到“38”則不繼續(xù)變化。6、復(fù)位信號所需時(shí)間ISA與PCI不一定同步，故有可能ISA開始出代碼，但PCI的復(fù)位燈還不熄，故PCI代碼停在起始碼上。代碼AwardBIOSAmiBIOSPhoenixBIOS或Ty3000BIOS00.已顯示系統(tǒng)的配置；即將控制INI19引導(dǎo)裝入。.01處理器測試1，處理器

4、狀態(tài)核實(shí)如果測試失敗，循環(huán)是無限的。處理器寄存器的測試即將開始，不可屏蔽中斷即將停用。CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。02確定診斷的類型（正?；蛘咧圃欤Ｈ绻I盤緩沖器含有數(shù)據(jù)就會失效。停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。CMOS寫入／讀出正在進(jìn)行或者失靈。03清除8042鍵盤控制器，發(fā)出TESTKBRD命令（AAH）通電延遲已完成。ROMBIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。04使8042鍵盤控制器復(fù)位，核實(shí)TESTKBRD。鍵盤控制器軟復(fù)位

5、／通電測試?？删幊涕g隔計(jì)時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。05如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。已確定軟復(fù)位／通電；即將啟動ROM。DMA初如準(zhǔn)備正在進(jìn)行或者失靈。19測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。第一個(gè)64DKRAM第9位故障。1A測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時(shí)間。第一個(gè)64DKRAM第10位故障。1B測試C

6、MOS電池電平。完成存儲器更新時(shí)間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。第一個(gè)64DKRAM第11位故障。1C測試CMOS檢查總和。.第一個(gè)64DKRAM第12位故障。1D調(diào)定CMOS配置。.第一個(gè)64DKRAM第13位故障。1E測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。.第一個(gè)64DKRAM第14位故障。1F測試64K存儲器至最高640K。.第一個(gè)64DKRAM第15位故障。20測量固定的8259中斷位。開始基本的64K

7、存儲器測試；即將測試地址線。從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。21維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入／輸出通道的檢查）。通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。22測試8259的中斷功能。結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀／寫測試。主中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。23測試保護(hù)方式8086虛擬方式和8086頁面方式。基本的64K串行數(shù)據(jù)讀／寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。從屬中斷屏蔽

8、存器測試正在進(jìn)行或失靈。24測定1MB以上的擴(kuò)展存儲器。矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準(zhǔn)備。設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。25測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲器。完成中斷矢量初始準(zhǔn)備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。26測試保護(hù)方式的例外情況。讀出8042的輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局?jǐn)?shù)據(jù)作初始準(zhǔn)備。開啟A20地址線；使之參入尋址。27確定超高速緩沖

9、存儲器的控制或屏蔽RAM。全1數(shù)據(jù)初始準(zhǔn)備結(jié)束；接著將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準(zhǔn)備。鍵盤控制器測試正在進(jìn)行或失靈。28確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。完成中斷矢量之后的初始準(zhǔn)備；即將調(diào)定單色方式。CMOS電源故障／檢查總和計(jì)算正在進(jìn)行。29.已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。2A使鍵盤控制器作初始準(zhǔn)備。已調(diào)定彩色方式，即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。置空64K基本內(nèi)存。2B使