2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、主板檢測(cè)卡常見(jiàn)代碼主板檢測(cè)卡常見(jiàn)代碼減小字體增大字體作者:佚名來(lái)源:本站整理發(fā)布時(shí)間:2009100914:33:55主板檢測(cè)卡常見(jiàn)代碼代碼代碼Awrard(廠家)(廠家)AMI(廠家)(廠家)PhoenixTy3000(廠(廠家)家)00同F(xiàn)F同F(xiàn)F同F(xiàn)F01處理器測(cè)試處理器測(cè)試1,處理器狀態(tài)核,處理器狀態(tài)核實(shí),如果測(cè)試失敗循環(huán)是無(wú)限實(shí),如果測(cè)試失敗循環(huán)是無(wú)限的。試換的。試換CPU,查,查CPU跳線跳線或CPU設(shè)置設(shè)置處理器寄存器的測(cè)

2、試即將開(kāi)始,處理器寄存器的測(cè)試即將開(kāi)始,非屏蔽中斷即將停用。排除方法非屏蔽中斷即將停用。排除方法同左同左CPU寄存器測(cè)試正在進(jìn)行或都寄存器測(cè)試正在進(jìn)行或都失敗。排除方法同左失敗。排除方法同左02確定診斷的類型(正?;蛑圃齑_定診斷的類型(正?;蛑圃欤?。如果鍵盤(pán)緩沖器含有數(shù)據(jù))。如果鍵盤(pán)緩沖器含有數(shù)據(jù)就會(huì)失效。試查主板中與鍵盤(pán)就會(huì)失效。試查主板中與鍵盤(pán)相關(guān)電路及鍵盤(pán)本身相關(guān)電路及鍵盤(pán)本身使用非屏蔽中斷:通過(guò)延遲開(kāi)始使用非屏蔽中斷:通過(guò)延遲開(kāi)

3、始。查主板和。查主板和CPUCMOS寫(xiě)入寫(xiě)入讀出正在進(jìn)行或讀出正在進(jìn)行或者失靈。試查主板電池者失靈。試查主板電池03清除清除8042鍵盤(pán)控制器,發(fā)出鍵盤(pán)控制器,發(fā)出TESTKBRD命令(命令(AAH)。查鍵盤(pán)內(nèi)部電路及軟件。查鍵盤(pán)內(nèi)部電路及軟件通電延遲已完成通電延遲已完成ROMBIOS檢查部件正在進(jìn)檢查部件正在進(jìn)行或者失靈。查主板電池行或者失靈。查主板電池04使8042鍵盤(pán)控制器復(fù)位,核鍵盤(pán)控制器復(fù)位,核實(shí)TESTKBRD。查鍵盤(pán)接口。

4、查鍵盤(pán)接口電路電路鍵盤(pán)控制器軟復(fù)位鍵盤(pán)控制器軟復(fù)位通電測(cè)試,通電測(cè)試,查鍵盤(pán)控制部分電路查鍵盤(pán)控制部分電路可編程間隔計(jì)時(shí)器的測(cè)試正進(jìn)可編程間隔計(jì)時(shí)器的測(cè)試正進(jìn)行或失靈。查主板中與定時(shí)器行或失靈。查主板中與定時(shí)器相關(guān)的電路相關(guān)的電路05如果不斷重復(fù)制造測(cè)試如果不斷重復(fù)制造測(cè)試1至5,可獲得,可獲得8042控制狀態(tài)。查控制狀態(tài)。查主板鍵盤(pán)控制電路主板鍵盤(pán)控制電路已確定軟復(fù)位已確定軟復(fù)位通電;媽將啟動(dòng)通電;媽將啟動(dòng)ROM。查主板。查主板ROM

5、芯片及支芯片及支持電路持電路DMA初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失初始準(zhǔn)備正在進(jìn)行或失靈。查主板中與靈。查主板中與DMA有關(guān)的有關(guān)的芯片及其外圍電路芯片及其外圍電路06使電路片作初始準(zhǔn)備,停用視使電路片作初始準(zhǔn)備,停用視頻,奇偶性,頻,奇偶性,DMA電路片以電路片以及清除及清除DMA電路片,所有頁(yè)電路片,所有頁(yè)面寄存器和面寄存器和CMOS寄存器的寄存器的工作。查主板中與工作。查主板中與DMA相關(guān)相關(guān)的電路的電路已啟動(dòng)已啟動(dòng)ROM計(jì)算計(jì)算ROMBIO

6、S檢查總和,以及檢查鍵盤(pán)緩沖檢查總和,以及檢查鍵盤(pán)緩沖器是否清除。查主板器是否清除。查主板ROM芯片芯片及其支持電路及其支持電路DMA初始頁(yè)面寄存器讀初始頁(yè)面寄存器讀寫(xiě)測(cè)寫(xiě)測(cè)試正進(jìn)行或失靈。查主板中與試正進(jìn)行或失靈。查主板中與DMA有關(guān)芯片及其外圍電路有關(guān)芯片及其外圍電路07處理器測(cè)試處理器測(cè)試2,核實(shí),核實(shí)CPU寄存器的工作。查存器的工作。查CPU是否插是否插好,或好,或CPU壞,或壞,或CPU跳線跳線等設(shè)置出錯(cuò)等設(shè)置出錯(cuò)ROMBIO

7、S檢查總和正常,檢查總和正常,鍵盤(pán)緩沖器已清除,向鍵盤(pán)發(fā)出鍵盤(pán)緩沖器已清除,向鍵盤(pán)發(fā)出BAT(基本保證測(cè)試)命令。(基本保證測(cè)試)命令。查主板中鍵盤(pán)接口電路或更換鍵查主板中鍵盤(pán)接口電路或更換鍵盤(pán)08使CMOS計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備計(jì)時(shí)器作初始準(zhǔn)備,正常地更新計(jì)時(shí)器的特環(huán)。,正常地更新計(jì)時(shí)器的特環(huán)。查主板中查主板中COMSS電路及芯片電路及芯片已向鍵盤(pán)發(fā)出已向鍵盤(pán)發(fā)出BAT命令,即將命令,即將寫(xiě)入寫(xiě)入BAT命令。查主板鍵盤(pán)控命令。查主板鍵盤(pán)控制

8、電路及鍵盤(pán)本身制電路及鍵盤(pán)本身RAM更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失更新檢驗(yàn)正在進(jìn)行或失靈。查主板的內(nèi)存接口電路及靈。查主板的內(nèi)存接口電路及內(nèi)存槽和內(nèi)存條內(nèi)存槽和內(nèi)存條09EPROM檢查總總和且必須等檢查總總和且必須等于零才通過(guò)。查主板的于零才通過(guò)。查主板的BIOS電路及芯片電路及芯片核實(shí)鍵盤(pán)的基本保證測(cè)試,接著核實(shí)鍵盤(pán)的基本保證測(cè)試,接著核實(shí)鍵盤(pán)命令字節(jié)。查主板的鍵核實(shí)鍵盤(pán)命令字節(jié)。查主板的鍵盤(pán)插座及試換鍵盤(pán)盤(pán)插座及試換鍵盤(pán)第一個(gè)第一個(gè)64KRA

9、M測(cè)試正在進(jìn)測(cè)試正在進(jìn)行。排除方法同上行。排除方法同上始。查主板中始。查主板中8254或與計(jì)時(shí)或與計(jì)時(shí)器有關(guān)的芯片及其支持電路器有關(guān)的芯片及其支持電路15測(cè)8259中斷屏蔽位。查主板中斷屏蔽位。查主板中的中的8259芯片及其周邊電路芯片及其周邊電路第2通道計(jì)時(shí)器測(cè)試了一半;通道計(jì)時(shí)器測(cè)試了一半;8254第2通道計(jì)時(shí)器即將完成通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)試。查主板中計(jì)時(shí)器電路部分測(cè)試。查主板中計(jì)時(shí)器電路部分第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第5位故位故障。

10、同代碼障。同代碼1016建立建立8259所用的中斷矢量表所用的中斷矢量表。查主板中。查主板中8259芯片及其同芯片及其同邊電路邊電路第2通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束;通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束;8254第1通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)試。查主板中計(jì)時(shí)器芯片及其外試。查主板中計(jì)時(shí)器芯片及其外圍電路圍電路第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第6位故位故障。同代碼障。同代碼1017調(diào)準(zhǔn)視頻輸入調(diào)準(zhǔn)視頻輸入輸出工作,若裝輸出工作,若裝有視頻有視頻BIOS則啟用。

11、查顯卡則啟用。查顯卡及主板中與顯示有關(guān)控制電路及主板中與顯示有關(guān)控制電路第1通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束;通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束;8254第0通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)通道計(jì)時(shí)器即將完成測(cè)試。查主板中計(jì)時(shí)器電路試。查主板中計(jì)時(shí)器電路第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第7位故位故障。同代碼障。同代碼1018測(cè)試視頻存儲(chǔ)器,如果安裝選測(cè)試視頻存儲(chǔ)器,如果安裝選用的視頻用的視頻BIOS通過(guò)本項(xiàng)測(cè)試通過(guò)本項(xiàng)測(cè)試,則可繞過(guò)。查顯卡中的,則可繞過(guò)。查顯卡中的BIOS芯片及其周邊

12、電路芯片及其周邊電路第0通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束;即通道計(jì)時(shí)器測(cè)試結(jié)束;即將開(kāi)始更新存儲(chǔ)器。查主板中內(nèi)將開(kāi)始更新存儲(chǔ)器。查主板中內(nèi)存管理電路,內(nèi)存槽及內(nèi)存條存管理電路,內(nèi)存槽及內(nèi)存條第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第8位故位故障。同代碼障。同代碼1019測(cè)試第測(cè)試第1通道的中斷控制器(通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。查主板中)屏蔽位。查主板中8259的芯片的芯片已開(kāi)始更新存儲(chǔ)器已開(kāi)始更新存儲(chǔ)器第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第9位故位故障。同代碼障。同代

13、碼101A測(cè)試第測(cè)試第2通道的中斷控制器(通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。查主板中的)屏蔽位。查主板中的8259芯片芯片正在觸發(fā)存儲(chǔ)器更新線路,即將正在觸發(fā)存儲(chǔ)器更新線路,即將檢查檢查15微秒通微秒通斷時(shí)間。查主斷時(shí)間。查主板內(nèi)存芯片及其接口電路板內(nèi)存芯片及其接口電路第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第10位故位故障。同代碼障。同代碼101B測(cè)試測(cè)試CMOS電池電平。查主電池電平。查主板中電池是否有電,有些主板板中電池是否有電,有些主板的電池

14、裝在的電池裝在CMOS模塊里面模塊里面,可拆下上蓋更換電池,可拆下上蓋更換電池完成存儲(chǔ)器更新時(shí)間完成存儲(chǔ)器更新時(shí)間30微秒測(cè)微秒測(cè)試;即將開(kāi)始基本的試;即將開(kāi)始基本的64K存儲(chǔ)存儲(chǔ)器。查主板內(nèi)存控制部分及內(nèi)存器。查主板內(nèi)存控制部分及內(nèi)存槽和內(nèi)存條槽和內(nèi)存條第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第11位故位故障。同代碼障。同代碼101C測(cè)試測(cè)試CMOS檢查總和。查主檢查總和。查主板中板中CMOS芯片及其電路芯片及其電路第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第12位故

15、位故障。同代碼障。同代碼101D調(diào)定調(diào)定CMOS的配置。查主板的配置。查主板中CMOS芯片芯片第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第13位故位故障。同代碼障。同代碼101E測(cè)試系統(tǒng)存儲(chǔ)器的大小,并且測(cè)試系統(tǒng)存儲(chǔ)器的大小,并且把它和把它和CMOS值比較。查主值比較。查主板中的板中的CMOS電路及主板中電路及主板中的內(nèi)存的內(nèi)存第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第14位故位故障。同代碼障。同代碼101F測(cè)試測(cè)試64K存儲(chǔ)器至最高存儲(chǔ)器至最高640K。查主板中的內(nèi)存

16、條或內(nèi)存。查主板中的內(nèi)存條或內(nèi)存芯片芯片第一個(gè)第一個(gè)64KRAM第15位故位故障。同代碼障。同代碼1020測(cè)試固定的測(cè)試固定的8259中斷位。查中斷位。查主板中主板中8259芯片及周邊電路芯片及周邊電路開(kāi)始基本的開(kāi)始基本的64K存儲(chǔ)器測(cè)試;存儲(chǔ)器測(cè)試;即將測(cè)試地址線。查主板中內(nèi)存即將測(cè)試地址線。查主板中內(nèi)存接口及內(nèi)存槽和內(nèi)存條接口及內(nèi)存槽和內(nèi)存條從屬?gòu)膶貲MA寄存器測(cè)試正在進(jìn)寄存器測(cè)試正在進(jìn)行或失靈。查主板中包含有行或失靈。查主板中包含

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