pcb設(shè)計(jì)問答集

1、賽微電子網(wǎng)整理更多電子資料請登錄賽微電子網(wǎng)PCB設(shè)計(jì)問答集設(shè)計(jì)問答集PCB設(shè)計(jì)問答集（一）設(shè)計(jì)問答集（一）1、如何選擇PCB板材？選擇PCB板材必須在滿足設(shè)計(jì)需求和可量產(chǎn)性及成本中間取得平衡點(diǎn)。設(shè)計(jì)需求包含電氣和機(jī)構(gòu)這兩部分。通常在設(shè)計(jì)非常高速的PCB板子(大于GHz的頻率)時(shí)這材質(zhì)問題會比較重要。例如，現(xiàn)在常用的FR4材質(zhì)，在幾個(gè)GHz的頻率時(shí)的介質(zhì)損耗(dielectricloss)會對信號衰減有很大的影響，可能就不合用。就電氣而言

2、，要注意介電常數(shù)(dielectricconstant)和介質(zhì)損在所設(shè)計(jì)的頻率是否合用。2、如何避免高頻干擾？避免高頻干擾的基本思路是盡量降低高頻信號電磁場的干擾，也就是所謂的串?dāng)_(Crosstalk)?？捎美蟾咚傩盘柡湍M信號之間的距離，或加groundguardshunttraces在模擬信號旁邊。還要注意數(shù)字地對模擬地的噪聲干擾。3、在高速設(shè)計(jì)中，如何解決信號的完整性問題？信號完整性基本上是阻抗匹配的問題。而影響阻抗匹配的因素有

3、信號源的架構(gòu)和輸出阻抗(outputimpedance)，走線的特性阻抗，負(fù)載端的特性，走線的拓樸(topology)架構(gòu)等。解決的方式是靠端接(termination)與調(diào)整走線的拓樸。4、差分布線方式是如何實(shí)現(xiàn)的？差分對的布線有兩點(diǎn)要注意，一是兩條線的長度要盡量一樣長，另一是兩線的間距(此間距由差分阻抗決定)要一直保持不變，也就是要保持平行。平行的方式有兩種，一為兩條線走在同一走線層(sidebyside)，一為兩條線走在上下相鄰兩

4、層(overunder)。一般以前者sidebyside(并排并肩)實(shí)現(xiàn)的方式較多。5、對于只有一個(gè)輸出端的時(shí)鐘信號線，如何實(shí)現(xiàn)差分布線？要用差分布線一定是信號源和接收端也都是差分信號才有意義。所以對只有一個(gè)輸出端的時(shí)鐘信號是無法使用差分布線的。6、接收端差分線對之間可否加一匹配電阻？接收端差分線對間的匹配電阻通常會加其值應(yīng)等于差分阻抗的值。這樣信號質(zhì)量會好些。賽微電子網(wǎng)整理PCB設(shè)計(jì)問答集（二）設(shè)計(jì)問答集（二）11、在高速PCB設(shè)計(jì)中

5、，信號層的空白區(qū)域可以敷銅，而多個(gè)信號層的敷銅在接地和接電源上應(yīng)如何分配？一般在空白區(qū)域的敷銅絕大部分情況是接地。只是在高速信號線旁敷銅時(shí)要注意敷銅與信號線的距離，因?yàn)樗蟮你~會降低一點(diǎn)走線的特性阻抗。也要注意不要影響到它層的特性阻抗，例如在dualstripline的結(jié)構(gòu)時(shí)。12、是否可以把電源平面上面的信號線使用微帶線模型計(jì)算特性阻抗？電源和地平面之間的信號是否可以使用帶狀線模型計(jì)算？是的，在計(jì)算特性阻抗時(shí)電源平面跟地平面都必須視為

6、參考平面。例如四層板:頂層電源層地層底層，這時(shí)頂層走線特性阻抗的模型是以電源平面為參考平面的微帶線模型。13、在高密度印制板上通過軟件自動產(chǎn)生測試點(diǎn)一般情況下能滿足大批量生產(chǎn)的測試要求嗎？一般軟件自動產(chǎn)生測試點(diǎn)是否滿足測試需求必須看對加測試點(diǎn)的規(guī)范是否符合測試機(jī)具的要求。另外，如果走線太密且加測試點(diǎn)的規(guī)范比較嚴(yán)，則有可能沒辦法自動對每段線都加上測試點(diǎn)，當(dāng)然，需要手動補(bǔ)齊所要測試的地方。14、添加測試點(diǎn)會不會影響高速信號的質(zhì)量？至于會不會

7、影響信號質(zhì)量就要看加測試點(diǎn)的方式和信號到底多快而定?；旧贤饧拥臏y試點(diǎn)(不用在線既有的穿孔(viaDIPpin)當(dāng)測試點(diǎn))可能加在在線或是從在線拉一小段線出來。前者相當(dāng)于是加上一個(gè)很小的電容在在線，后者則是多了一段分支。這兩個(gè)情況都會對高速信號多多少少會有點(diǎn)影響，影響的程度就跟信號的頻率速度和信號緣變化率(edgerate)有關(guān)。影響大小可透過仿真得知。原則上測試點(diǎn)越小越好(當(dāng)然還要滿足測試機(jī)具的要求)分支越短越好。15、若干PCB組成