si仿真操作

1、1SI仿真介紹信號(hào)完整性（SIGNALINTEGRITY簡(jiǎn)稱(chēng)SI）是指信號(hào)在電路中以正確的時(shí)序和電壓作出響應(yīng)的能力。由于信號(hào)速率的提高，信號(hào)在板級(jí)的整個(gè)傳輸鏈路不再是集中參數(shù)，如傳輸線(xiàn)、過(guò)孔、器件封裝焊盤(pán)、連接器等都要看成分布參數(shù)，這些分布參數(shù)會(huì)造成信號(hào)的延時(shí)、阻抗不匹配引起的信號(hào)反射、速率提高造成的趨膚損耗增大、PCB板材的介電損耗增大等等，這些高速效應(yīng)均會(huì)給信號(hào)質(zhì)量帶來(lái)一系列惡化影響，如過(guò)沖、振鈴、非單調(diào)性、噪聲裕量減小、上升下降沿

2、變緩、眼圖惡化、抖動(dòng)加大等等，最終會(huì)導(dǎo)致誤碼、系統(tǒng)不穩(wěn)定等多種產(chǎn)品問(wèn)題。1.1SI仿真內(nèi)容SI仿真分為前仿真和后仿真，主要對(duì)DDR和NFLASH的信號(hào)完整性進(jìn)行仿真，具體內(nèi)容包括過(guò)沖、振鈴和眼圖三方面。過(guò)沖：過(guò)沖就是第一個(gè)峰值或谷值超過(guò)設(shè)定電壓——對(duì)于上升沿是指最高電壓而對(duì)于下降沿是指最低電壓。振蕩：振蕩和過(guò)沖在本質(zhì)上是相同的，在一個(gè)時(shí)鐘周期中反復(fù)的出現(xiàn)過(guò)沖和下沖我們就稱(chēng)之為振蕩。振蕩是電路中因?yàn)榉瓷涠a(chǎn)生的多余能量無(wú)法被及時(shí)吸收的結(jié)果

3、。振蕩根據(jù)表現(xiàn)形式可分為振鈴和環(huán)繞振蕩。振鈴為欠阻尼振蕩而環(huán)繞振蕩為過(guò)阻尼振蕩。眼圖：指利用實(shí)驗(yàn)的方法估計(jì)和改善（通過(guò)調(diào)整）傳輸系統(tǒng)性能時(shí)在示波器上觀察到的一種圖形。眼圖的成因：由于示波器的余輝作用，掃描所得的每一個(gè)碼元波形將重疊在一起，從而形成眼圖。閾值電壓(ThresholdVoltagesV_high_refV_low_ref)示波器開(kāi)始停止測(cè)量的電壓，如下圖所示：V_high：信號(hào)的額定高電平（或最高電壓）；V_high_ref

4、：信號(hào)高電平的參考電壓（80%V_high）；V_low:信號(hào)的低電平（或最低電壓）；V_low_ref：信號(hào)低電平的參考電壓（V_low20%V_high）。如圖1所示：圖1Tsu：信號(hào)建立時(shí)間；Th：信號(hào)保持時(shí)間。信號(hào)傳輸時(shí)差：T_high：在眼圖中信號(hào)高電平所經(jīng)歷的時(shí)差（如圖2中菱形框中上部分實(shí)線(xiàn)橫杠所示）T_low：在眼圖中信號(hào)高電平所經(jīng)歷的時(shí)差（如圖2中菱形框中下部分實(shí)線(xiàn)橫杠所示）2.4鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)擊第一排的兩個(gè)IC符號(hào)以便激活

5、LineSim原理圖中的驅(qū)動(dòng)器和接收器IC（CELLA0和B0），點(diǎn)擊連接兩個(gè)IC之間的標(biāo)準(zhǔn)的傳輸線(xiàn)符號(hào)，就可以激活此傳輸線(xiàn)，點(diǎn)擊RS(A0)后出現(xiàn)選擇電阻、電容、電感的窗口，如圖4和圖5所示：圖4圖52.5添加器件的IBIS模型庫(kù)點(diǎn)擊菜單欄中的ModelsEditModelsLibraryPaths，進(jìn)入SetDirecties窗口。在SetDirecties中點(diǎn)擊左邊的Edit，進(jìn)入DirectiesFICModelFiles，點(diǎn)擊