峰值電流限流的優(yōu)化方案_第1頁(yè)
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1、峰值電流限流的優(yōu)化方案峰值電流限流的優(yōu)化方案電子設(shè)計(jì)應(yīng)用摘要:通過(guò)采用峰值電流限流的方法電流限制功能可以使電感電流在超出閾值時(shí)抑制電源轉(zhuǎn)換器的開(kāi)關(guān)電流。但是由于比較器延時(shí)有效閾值削減問(wèn)題通常難以避免。本文將針對(duì)這一問(wèn)題介紹一種峰值電流限流的優(yōu)化方案。引言電流限制是開(kāi)關(guān)式電源轉(zhuǎn)換器的一個(gè)重要保護(hù)功能它可以在電流限制模式下限制可用的輸出電流以防止出現(xiàn)系統(tǒng)故障。峰值電流限制是目前業(yè)內(nèi)普遍采用的電流限制方法。每當(dāng)電感的電流IL超出閾值IV時(shí)電源

2、轉(zhuǎn)換器的開(kāi)關(guān)(如圖1所示)便會(huì)關(guān)斷以制止電流從輸入電壓源VIN注入直至IL小于IV時(shí)開(kāi)關(guān)才會(huì)重新開(kāi)通。由于輸出電流IOUT總是等于IL的平均值(在工作期間IL呈線型紋波)故在電流限制模式下的IOUT(CLDES)為:(4)圖1降壓電源轉(zhuǎn)換器從式(4)中可清楚地看到INIV由增大L或減少tD來(lái)降低??墒歉呒?jí)電源轉(zhuǎn)換器為減少元件尺寸已傾向于朝著高頻化發(fā)展。因此預(yù)計(jì)L會(huì)比較小。另一方面tD的減少會(huì)導(dǎo)致比較器的轉(zhuǎn)換速率增大這會(huì)增加功率的損耗從而

3、降低整體的轉(zhuǎn)換效率。再者工作頻率有可能超出1MHz使開(kāi)關(guān)周期達(dá)至1ms。毫無(wú)疑問(wèn)tD的減少意味著比較器的帶寬很高這在現(xiàn)實(shí)中很難實(shí)現(xiàn)。由此可以看出在這種情況下較小的L會(huì)被使用加上tD也與開(kāi)關(guān)周期相匹配所以IN將會(huì)在工作頻率較高時(shí)降低。結(jié)果IOUT(CL)會(huì)在工作頻率較高時(shí)明顯小于IOUT(CLDES)并會(huì)在低工作頻率時(shí)維持正常水平。盡管IV可設(shè)定為較高值以確保IOUT(CL)可達(dá)到IOUT(CLDES)但這種超常的設(shè)計(jì)會(huì)為MOSFET帶來(lái)

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