基于非參數(shù)方法的多變點(diǎn)識別方法與應(yīng)用研究.pdf

1、統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)是對過程進(jìn)行監(jiān)控的重要方法,過程監(jiān)控中有效并廣泛使用的工具是控制圖,控制圖的構(gòu)建可以分為兩個(gè)階段:回溯分析階段以及監(jiān)測階段。本文的研究對象是回溯期階段的分析。從目前的研究現(xiàn)狀來看,一般均假設(shè)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)表現(xiàn)為單一的運(yùn)行模式,而現(xiàn)實(shí)生活中通常存在多個(gè)運(yùn)行模式,無法僅以一種統(tǒng)計(jì)模型對所有運(yùn)行模式監(jiān)控,對SPC的運(yùn)用實(shí)施提出了重大挑戰(zhàn)。因此,為了更好地實(shí)現(xiàn)第二階段,即高效地監(jiān)控過程的異常變化,需要在第一階段對過程的變點(diǎn)進(jìn)行準(zhǔn)

2、確識別,以準(zhǔn)確提取過程正常的運(yùn)行狀態(tài),構(gòu)建合理準(zhǔn)確的控制圖。
　　變點(diǎn)識別問題是回溯分析問題中的熱點(diǎn)問題之一,最初針對一元參數(shù)的單變點(diǎn)問題,之后向多元問題或多變點(diǎn)問題擴(kuò)展,但是目前對于多變點(diǎn)的研究仍然不完善,而且大多研究均以過程服從某已知參數(shù)分布為基本假設(shè),其方法對特定分布的依賴性很高,鑒于此,本文以非參數(shù)統(tǒng)計(jì)方法中的K-S檢驗(yàn)以及曼惠特尼U檢驗(yàn)為支撐,提出了回溯期自由分布下的多變點(diǎn)識別流程,研究多種變化類型漂移同時(shí)存在時(shí)的回溯分