實驗一集成邏輯門電路的測試與使用

1、信息學(xué)院《數(shù)字電子技術(shù)》實驗講義1實驗一：集成邏輯門電路的測試與使用實驗一：集成邏輯門電路的測試與使用一實驗?zāi)康模?學(xué)會檢測常用集成門電路的好壞的簡易方法；2掌握TTL與非門邏輯功能和主要參數(shù)的測試方法；3掌握TTL門電路與CMOS門電路的主要區(qū)別。二實驗儀器與器件：1元器件：74LS20、74LS00(TTL門電路)，4011(CMOS門電路)；2實驗儀器：穩(wěn)壓電源、萬用表、數(shù)字邏輯實驗測試臺。三實驗原理：1集成邏輯門電路的管腳排列：

2、（1）74LS20（4輸入端雙與非門）：Y=ABCDVCC2A2BNC2C2D2Y1A1BNC1C1D1YGNDVCCCC：表示電源正極、：表示電源正極、GNDGND：表示電源負(fù)極、：表示電源負(fù)極、NC：表示空腳。：表示空腳。（2）74LS00（2輸入端4與非門）：Y=ABVCC4A4B4Y3A3B3Y1A1B1Y2A2B2YGND14131211109812345671413121110981234567信息學(xué)院《數(shù)字電子技術(shù)》實驗講

3、義3（2）低電平輸入電流IIL=。測試條件：VCC=5V，被測輸入端通過電流表接地，其余輸入端懸空，輸出空載，如圖（2），依次測量每個輸入端。（3）高電平輸入電流IIH=。測試條件：VCC=5V，被測輸入端通過電流表接VCC，其余輸入端接地，輸出空載，如圖（3），每個輸入端都測一下。注意：在測試中萬用表應(yīng)串入電路中，檔位選擇應(yīng)由注意：在測試中萬用表應(yīng)串入電路中，檔位選擇應(yīng)由10mA檔逐漸減小。檔逐漸減小。圖（3）圖（4）3比較TTL門電

4、路和CMOS門電路的性能：在下列情況下，用萬用表電壓檔測量圖（4）Vi2端得到的電壓填入表（2）：表（2）：在不同的Vi1下74LS004011Vi1接高電平（3V）Vi1接低電平（0.4V）Vi1經(jīng)100Ω電阻接地Vi1經(jīng)10kΩ電阻接地思考：請回答為何結(jié)果不同？思考：請回答為何結(jié)果不同？五實驗報告要求：1記錄本次實驗中所得到的各種數(shù)據(jù)。根據(jù)測試數(shù)據(jù)判斷所測與非門的邏輯關(guān)系是否正確。2思考并回答下列問題：TTL與非門中不用的輸入端可如