全光譜反射式膜厚量測(cè)儀考核記錄表reflectometer

1、全光譜反射式膜厚量測(cè)儀考核記錄表全光譜反射式膜厚量測(cè)儀考核記錄表(Reflectometer)姓名：姓名：學(xué)校系所：學(xué)校系所：日期：日期：學(xué)號(hào)：學(xué)號(hào)：以上題目是為保護(hù)機(jī)臺(tái)並讓使用者正常操作機(jī)臺(tái)而設(shè)計(jì)，成績(jī)80分以上及格。1.使用前機(jī)臺(tái)檢查，包括:(a)24V直流電源開關(guān)、(b)工業(yè)電腦、(c)光源、(d)光譜儀、(e)指示牌、(f)stage位置。請(qǐng)?jiān)敿?xì)說明機(jī)臺(tái)狀況。(每項(xiàng)4分，共24分)2.機(jī)臺(tái)何時(shí)需要重新初始化(8分)如何進(jìn)行初始化

2、校正(8分)3.樣品量測(cè)(共35分)(a)選擇量測(cè)軟體。(b)試片放置[正確位置及動(dòng)作(輕關(guān)拉門、不碰撞機(jī)臺(tái))]。(c)量測(cè)前設(shè)定。(d)執(zhí)行Measurement。(f)繼續(xù)量測(cè)其它試片時(shí)，是否仍需要進(jìn)行(c)。(f)量測(cè)結(jié)果是否fitness、樣品厚度。(e)量測(cè)完畢之檔案儲(chǔ)存。4.實(shí)驗(yàn)結(jié)束後，注意事項(xiàng)(a)樣品、(b)量測(cè)軟體、(c)分析軟體、(d)刷卡機(jī)、(e)指示牌、(f)使用記錄表。(15分)5.緊急異常狀況之處理，(a)分

3、析軟體、(b)光源及光譜儀、(c)中心毒氣或火災(zāi)警報(bào)時(shí)處置。(10分)考試時(shí)間:：～：評(píng)分考核員簽名：修訂日期:107年6月11日全光譜反射式膜厚量測(cè)儀考核記錄表全光譜反射式膜厚量測(cè)儀考核記錄表(Reflectometer)姓名：姓名：學(xué)校系所：學(xué)校系所：日期：日期：學(xué)號(hào)：學(xué)號(hào)：以上題目是為保護(hù)機(jī)臺(tái)並讓使用者正常操作機(jī)臺(tái)而設(shè)計(jì)，成績(jī)80分以上及格。1.使用前機(jī)臺(tái)檢查，包括:(a)24V直流電源開關(guān)、(b)工業(yè)電腦、(c)光源、(d)光譜

4、儀、(e)指示牌、(f)stage位置。請(qǐng)?jiān)敿?xì)說明機(jī)臺(tái)狀況。(每項(xiàng)4分，共24分)2.機(jī)臺(tái)何時(shí)需要重新初始化(8分)如何進(jìn)行初始化校正(8分)3.樣品量測(cè)(共35分)(a)選擇量測(cè)軟體。(b)試片放置[正確位置及動(dòng)作(輕關(guān)拉門、不碰撞機(jī)臺(tái))]。(c)量測(cè)前設(shè)定。(d)執(zhí)行Measurement。(f)繼續(xù)量測(cè)其它試片時(shí)，是否仍需要進(jìn)行(c)。(f)量測(cè)結(jié)果是否fitness、樣品厚度。(e)量測(cè)完畢之檔案儲(chǔ)存。4.實(shí)驗(yàn)結(jié)束後，注意事項(xiàng)(