《超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)》考試習(xí)題概要_第1頁
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文檔簡介

1、《超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)》習(xí)題1.集成電路的發(fā)展過程經(jīng)歷了哪些發(fā)展階段劃分集成電路的標(biāo)準(zhǔn)是什么集成電路的發(fā)展過程:?小規(guī)模集成電路中規(guī)模集成電路大規(guī)模集成電路超大規(guī)模集成電路特大規(guī)模集成電路巨大規(guī)模集成電路劃分集成電路規(guī)模的標(biāo)準(zhǔn)21.降低生產(chǎn)成本2.提高工作速度3.降低功耗4.簡化邏輯電路5.優(yōu)越的可靠性6.體積小重量輕?為了保證由這些基本單元及其相互連線構(gòu)成的版圖能夠在工藝線上生產(chǎn)出來在芯片尺寸盡可能小的前提下使得即使存在工藝偏差也可以

2、正確的制造出IC盡可能地提高電路制備的成品率6.版圖驗(yàn)證和檢查主要包括哪些方面◆DRC(DesignRuleCheck:幾何設(shè)計(jì)規(guī)則檢查◆ERC(ElectricalRuleCheck:電學(xué)規(guī)則檢查◆LVS(LoyoutversusSchematic:網(wǎng)表一致性檢查◆LPE(LayoutParameterExtraction:版圖寄生參數(shù)提取◆POSTSIM:后仿真檢查版圖寄生參數(shù)對設(shè)計(jì)的影響7.版圖設(shè)計(jì)規(guī)則是根據(jù)什么制定出來的為什么說

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