jb4730 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè).射線檢測(cè)

1、承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第2部分：射線檢測(cè),1 范圍JB/T4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料板和管的熔化焊對(duì)接接頭的X射線和γ射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)要求。本部分適用于承壓設(shè)備的制造、安裝、在用檢測(cè)中對(duì)接焊接接頭的射線檢測(cè)。用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。本部分規(guī)定的射線檢測(cè)技術(shù)分為三級(jí)：A級(jí)——低靈敏度技術(shù)；AB級(jí)——中靈敏度技術(shù)； B級(jí)——高靈敏度技術(shù)。

2、承壓設(shè)備的有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件的對(duì)接焊接接頭的射線檢測(cè)，也可參照使用。,1、 理解：（1）適用對(duì)象包括承壓設(shè)備的制造、安裝、在用（2）檢測(cè)的金屬材料包括； 碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金和鈦及鈦合金、鎳及鎳合金（3）A級(jí)AB級(jí)B級(jí)系指檢測(cè)技術(shù)分級(jí)，不是底片質(zhì)量分級(jí)。2 、應(yīng)用：（1）對(duì)不同的金屬材料透照的厚度不同例如碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金透照厚度2－400mm（5.1.1）鋁及鋁合金透照厚度2

3、－80mm（5.2.1）鈦合金2－50mm（5.3.1）（2）不適用范圍；鍛件、管材、棒材。T型焊縫、角焊縫、堆焊層一般也不宜采用。（使用原則4.2.2）3 、注意：如承壓設(shè)備的支承件或結(jié)構(gòu)件也采用該標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明《參照》同時(shí)應(yīng)有委托方的確認(rèn)。,2 規(guī)范性引用文件,下列文件中的條款，通過(guò)JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分。

4、然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。,GB 11533—1989 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)數(shù)視力表 GB 16357—1996 工業(yè)Ｘ射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GB 18465—2001 工業(yè)γ射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)要求GB 18871—2002 電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB/T 19384.1—2003 無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片 第1部分： 工業(yè)射線

5、膠片系統(tǒng)的分類(lèi)GB/T 19384.2—2003 無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相膠片 第2部分： 用參考值方法控制膠片處理,HB 7684—2000 射線照相用線型像質(zhì)計(jì)JB 4730.1—2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第1部分：通用要求JB/T 7902—1999 線型像質(zhì)計(jì) JB/T 7903—1999 工業(yè)射線照相底片觀片燈（共計(jì)10個(gè)),1、理解：（1）JB/

6、T4730直接引用了文件中的某些條款（2）在工作中要執(zhí)行這些標(biāo)準(zhǔn)中的有關(guān)規(guī)定。例如3.3.1觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T 7903—1999的有關(guān)規(guī)定。2、應(yīng)用：（1）除JB/T4730外，以上10個(gè)標(biāo)準(zhǔn)也是我們編制檢測(cè)通用工藝和管理規(guī)定的主要依據(jù)。（2）如果這些文件有新的版本鼓勵(lì)采用，但雙方要達(dá)成一致意見(jiàn)。3、注意：（1）凡從事射線檢測(cè)的單位或部門(mén)應(yīng)有這10個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的原件（2）當(dāng)某些條款與JB/T4730不相符時(shí)，以JB/T473

7、0規(guī)定的內(nèi)容為準(zhǔn)。（GB標(biāo)準(zhǔn)除外）例如附錄F專(zhuān)用像質(zhì)計(jì)的標(biāo)識(shí)。,一般要求 射線檢測(cè)的一般要求除應(yīng)符合JB/T4730.1的有關(guān)規(guī)定外，還應(yīng)符合下列規(guī)定。,3.1 射線檢測(cè)人員,3.1.1 從事射線檢測(cè)人員上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識(shí)的培訓(xùn)，并取得放射工作人員證。3.1.2 射線檢測(cè)人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0（小數(shù)記錄值為1.0）, 測(cè)試方法應(yīng)符合GB 11533的規(guī)定。從事評(píng)片的人員應(yīng)每年檢查

8、一次視力。,1、理解：取《放射工作人員證》的對(duì)象2、應(yīng)用：（1）對(duì)已取得國(guó)家質(zhì)檢總局或要取得國(guó)家質(zhì)檢總局所頒發(fā)的無(wú)損檢測(cè)資質(zhì)單位的射線檢測(cè)人員均應(yīng)有《放射工作人員證》（2）對(duì)其他單位（制造、安裝和檢驗(yàn)）現(xiàn)場(chǎng)操作人員應(yīng)有《放射工作人員證》3、注意：從事評(píng)片人員每年的視力檢查情況應(yīng)存檔。,3.2 射線膠片,3.2.1 膠片系統(tǒng)按照GB/T 19384.1分為四類(lèi)，即T1、T2、T3和T4類(lèi)。T1為最高類(lèi)別，T4為最低類(lèi)別。膠片系統(tǒng)的

9、特性指標(biāo)見(jiàn)附錄A（資料性附錄）。膠片制造商應(yīng)對(duì)所生產(chǎn)的膠片進(jìn)行系統(tǒng)性能測(cè)試并提供類(lèi)別和參數(shù)。膠片處理方法、設(shè)備和化學(xué)藥劑可按照GB/T 19384.2的規(guī)定，用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測(cè)試片進(jìn)行測(cè)試和控制。3.2.2 A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用T3類(lèi)或更高類(lèi)別的膠片，B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)應(yīng)采用T2類(lèi)或更高類(lèi)別的膠片。膠片的本底灰霧度應(yīng)不大于0.3。3.2.3 采用γ射線對(duì)裂紋敏感性大的材料進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí),應(yīng)采用T2類(lèi)或更高類(lèi)

10、別的膠片。,1、理解：（1）按膠片系統(tǒng)進(jìn)行分類(lèi)，不是按膠片的感光速度分類(lèi)。膠片系統(tǒng)包括了膠片、增感屏和沖洗條件。（2）檢測(cè)的技術(shù)級(jí)別與膠片的類(lèi)別有關(guān)。2、應(yīng)用：選擇的原則（1）A級(jí)和AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)不得低于T3類(lèi)、B級(jí)檢測(cè)技術(shù)不得低于T2類(lèi)（2）采用γ射線允許采用T3類(lèi)膠片，但靈敏度應(yīng)滿足要求。3、注意：（1）當(dāng)對(duì)公稱(chēng)厚度或透照厚度較薄的工件進(jìn)行γ射線照相時(shí)應(yīng)采用高類(lèi)別的膠片。（2）對(duì)可焊性差的材料或Rm≥540MPa高強(qiáng)鋼， γ射

11、線照相時(shí)應(yīng)選擇T2類(lèi)或更高類(lèi)別的膠片。,3.3 觀片燈,3.3.1 觀片燈的主要性能應(yīng)符合JB/T 7903的 有關(guān)規(guī)定。3.3.2 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評(píng)片的要求。,1、理解：（1）觀片燈的主要性能指標(biāo)除了亮度以外還包括:亮度的均勻性、外殼溫度、噪聲、絕緣程度等（2）觀片燈亮度和照度的關(guān)系，即140000lx——45000cd/m22、應(yīng)用：當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度≤2.5時(shí)，觀片燈的亮度不應(yīng)低于9400 cd

12、/m2、當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度2.5＜D≤4時(shí)觀片燈的亮度不應(yīng)低于100000 cd/m23、注意：生產(chǎn)觀片燈的廠家所提供的亮度指標(biāo)應(yīng)用cd/m2表示。,3.4 黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）,3.4.1 黑度計(jì)可測(cè)的最大黑度應(yīng)不小于4.5，測(cè)量值的誤差應(yīng)不超過(guò)±0.05。3.4.2 黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次。校驗(yàn)方法可參照附錄B（資料性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。,1、理解：在一定情況下底片的黑度允許大于4

13、 （4.11.2）2、應(yīng)用：黑度計(jì)屬于自校驗(yàn)儀器，不是強(qiáng)制校驗(yàn)設(shè)備，而標(biāo)準(zhǔn)黑度片是要強(qiáng)制檢驗(yàn)的。黑度計(jì)的校驗(yàn)應(yīng)有記錄并有校驗(yàn)者和審核者簽字，保存到下一校驗(yàn)周期。3、注意：校準(zhǔn)黑度計(jì)用的標(biāo)準(zhǔn)黑度片必須在有效期內(nèi)，并通過(guò)計(jì)量部門(mén)的鑒定(2年）新購(gòu)置的標(biāo)準(zhǔn)黑度片只要在有效期內(nèi)也允許。,3.5 增感屏,射線檢測(cè)一般應(yīng)使用金屬增感屏或

14、不用增感屏。增感屏的選用應(yīng)符合表1的規(guī)定,1、理解：（1）X射線照相，能量在500KV以下增感屏的材料應(yīng)是鉛，鉛屏的厚度不涉及技術(shù)級(jí)別只與射線能量有關(guān)（2）如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度與技術(shù)級(jí)別有關(guān)。（3）如采用Co60或高能X射線（4MeV以下）選擇增感屏所用的材料和厚度均與技術(shù)級(jí)別有關(guān)。2、應(yīng)用：（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同（2）如采用Se-75和Ir-192射線照相，AB級(jí)或B級(jí)檢測(cè)技術(shù)，前屏和后屏的

15、厚度均不能小于0.1mm。3、注意： AB級(jí)或B級(jí)檢測(cè)技術(shù)使用前屏≤0.03mm真空包裝膠片時(shí)，另有規(guī)定。（僅限于γ射線）,3.6 像質(zhì)計(jì),3.6.1 底片影像質(zhì)量采用線型像質(zhì)計(jì)測(cè)定。線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合JB/T 7902的規(guī)定，JB/T 7902中未包含的絲徑、線號(hào)等內(nèi)容，應(yīng)符合HB 7684的有關(guān)規(guī)定。3.6.2 像質(zhì)計(jì)的材料、材料代號(hào)和不同材料的像質(zhì)計(jì)適用的工件材料范圍應(yīng)符合表2的規(guī)定。,1、理解：（1）取消了象

16、質(zhì)指數(shù)“Z”的概念，用線徑或線號(hào)表示底片的靈敏度。（2）原JB4730標(biāo)準(zhǔn)選用的是R10等比系列像質(zhì)計(jì)最細(xì)線的編后為16號(hào)，線徑為0.100mm,這一線徑已不能滿足JB/T4730厚度的下線（2mm）AB級(jí)和B級(jí)的要求，因此JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)引出HB 7684－2000增加了小于0.100mm的線，即17號(hào)，0.080mm、18號(hào)，0.063mm,19號(hào)，0.050mm.組成了4組像質(zhì)計(jì)：1－7、6－12、10－16、13－19。2

17、、應(yīng)用：（1）應(yīng)根據(jù)檢測(cè)技術(shù)級(jí)別、透照方式和像質(zhì)計(jì)擺放的位置及公稱(chēng)厚度（T）透照厚度（W）確定像質(zhì)計(jì)靈敏度（2）以低原子序數(shù)材料制作的像質(zhì)計(jì)可以用于高原子序數(shù)材料制成的工件照相。即鐵（Fe）像質(zhì)計(jì)可以用于鎳（Ni）、銅（Cu）材料的照相，但不能用于鈦（Ti）、鋁（AI）材料的照相。,3.7 表面要求和射線檢測(cè)時(shí)機(jī),3.7.1 在射線檢測(cè)之前，對(duì)接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，

18、否則應(yīng)對(duì)表面作適當(dāng)修整。3.7.2 除非另有規(guī)定，射線檢測(cè)應(yīng)在焊后進(jìn)行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行射線檢測(cè)。,1、理解：（1）焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進(jìn)行。（2）除非另有規(guī)定系指設(shè)計(jì)圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。（3）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強(qiáng)鋼。2、應(yīng)用：（1）射線檢測(cè)工藝卡中應(yīng)明確檢測(cè)時(shí)機(jī)（2）當(dāng)?shù)灼洗嬖诓挥绊懺u(píng)定的偽缺陷時(shí)應(yīng)在底片評(píng)定原始記錄中注明。3、注意：所謂適

19、當(dāng)修整是指打磨或較淺補(bǔ)焊。,3.8 射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇,3.8.1 射線檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭的制造、安裝、在用時(shí)的射線檢測(cè)，一般應(yīng)采用AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對(duì)接焊接接頭，可采用B級(jí)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。3.8.2 由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí), 經(jīng)檢測(cè)

20、方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類(lèi)別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定,則可認(rèn)為按AB級(jí)（或B級(jí)）射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。3.8.3 承壓設(shè)備在用檢測(cè)中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制,檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí), 經(jīng)檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類(lèi)別的膠片）后可采用A級(jí)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)，但應(yīng)同時(shí)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)

21、充檢測(cè)。,1、理解：（1）承壓類(lèi)設(shè)備的制造、安裝、在用的檢測(cè)技術(shù)級(jí)別一般不應(yīng)低于AB級(jí)（2）承壓設(shè)備在用檢測(cè)特殊情況下可以采用A級(jí)檢測(cè)技術(shù)（3）檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人系指無(wú)損檢測(cè)單位的技術(shù)負(fù)責(zé)人，如是制造、安裝單位或檢驗(yàn)單位，檢測(cè)方技術(shù)負(fù)責(zé)人是指該單位的總工程師或分管技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)（4）有效措施一般包括：高類(lèi)別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。2、應(yīng)用：（1）技術(shù)負(fù)責(zé)人要確認(rèn)是否確實(shí)存在“結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等

22、方面的限制”（2）技術(shù)負(fù)責(zé)人一般應(yīng)在專(zhuān)用工藝或工藝卡批準(zhǔn)欄中簽字。3、注意：底片靈敏度必須達(dá)到相應(yīng)技術(shù)級(jí)別的規(guī)定。對(duì)在用設(shè)備如采用A級(jí)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)補(bǔ)充其他檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。返修焊縫應(yīng)采用AB級(jí)或達(dá)到AB級(jí)靈敏度,3.9 輻射防護(hù),3.9.1 放射衛(wèi)生防護(hù)應(yīng)符合GB 18871、GB 16357和GB 18465的有關(guān)規(guī)定。3.9.2 現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行Ｘ射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志。檢測(cè)工作人員應(yīng)

23、佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。3.9.3 現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行γ射線檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標(biāo)志，檢測(cè)作業(yè)時(shí)，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測(cè)定輻射水平。檢測(cè)工作人員應(yīng)佩帶個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。,1、理解：（1）現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行Ｘ射線檢測(cè)或進(jìn)行γ射線檢測(cè)時(shí)對(duì)輻射防護(hù)提出了不同的要求。（2）在兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)都提出了輻射照射量的新名詞《比釋動(dòng)能》和《空氣比釋動(dòng)能率》，比釋動(dòng)能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用，在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出

24、來(lái)的所有帶電粒子的初始動(dòng)能的總和。2、應(yīng)用：（1）空氣比釋動(dòng)能率用儀器可以測(cè)出（2）控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據(jù)空氣比釋動(dòng)能率量值進(jìn)行劃分的。3、注意：盡管兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的某些條款內(nèi)容相同或相近，但在使用中不能相互代替。,4 具體要求,4.1 透照布置4.1.1 透照方式 應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式。典型的透照

25、方式參見(jiàn)附錄C（資料性附錄）。4.1.2 透照方向 透照時(shí)射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，需要時(shí)也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。4.1.3 一次透照長(zhǎng)度 一次透照長(zhǎng)度應(yīng)以透照厚度比K進(jìn)行控制。不同級(jí)別射線檢測(cè)技術(shù)和不同類(lèi)型對(duì)接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表3的規(guī)定。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄D（資料性附錄）的曲線圖確定。,1、理解：（1）單壁透照最有利于發(fā)現(xiàn)缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（

26、2）對(duì)《在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式》要有正確的理解，不能實(shí)施時(shí)主要針對(duì)工況條件和檢驗(yàn)檢測(cè)單位的資源條件而言，不是指最佳的透照方式。（3）一次透照長(zhǎng)度與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)。2、應(yīng)用：透照方式不能任意選取，在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式。（在用設(shè)備）3、注意：其他方式透照環(huán)向?qū)咏宇^時(shí)，有不能實(shí)施的部位即陰影區(qū)。,4.1.4 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置,小徑管采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時(shí)滿足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用

27、傾斜透照方式橢圓成像：T（壁厚）≤8mm； g（焊縫寬度）≤Do /4橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。,4.1.5 小徑管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù) 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^100%檢測(cè)的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時(shí)，當(dāng)T/ Do≤0.12時(shí),相隔90°透照2次。當(dāng)T/ Do＞0.12時(shí),相隔120°或6

28、0°透照3次。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120°或60°透照3次。 由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實(shí)現(xiàn)焊縫全長(zhǎng)的100%檢測(cè)，此時(shí)應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證底片評(píng)定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。,1、理解：（1）雙壁雙影橢圓成像的實(shí)施原則，即T（壁厚）≤8mm、 g（焊縫寬度）≤Do /4（Ø60×5mm）

29、（2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。（3）小徑管的透照次數(shù)與管外徑和壁厚有關(guān)，與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無(wú)關(guān)（4）規(guī)定小徑管的透照次數(shù)的主要目的是控制透照厚度比（5）結(jié)構(gòu)：一般系指排管或盤(pán)管2、應(yīng)用：（1）為控制影像的開(kāi)口寬度應(yīng)采用偏心距法（2）擴(kuò)大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術(shù)、適當(dāng)提高管電壓、窗口加濾波板3、注意：當(dāng)Do ≤20mm、T≥ 8mm 、g ＞Do /4重點(diǎn)檢查根部裂紋或未焊透時(shí)應(yīng)采用垂直透照,4.2

30、射線能量,4.2.1 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓。 對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過(guò)圖1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對(duì)鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過(guò)50kV；對(duì)鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過(guò)40kV；對(duì)鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過(guò)30kV。,1、理解：（1）不同材料、不同透照厚度

31、允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無(wú)關(guān)（2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對(duì)比度，避免影響小缺陷的檢出率。（3）截面厚度變化大（以AB級(jí)T3類(lèi)膠片為基準(zhǔn)，如較厚部位黑度為2.0，而較薄部位的黑度大于4 .0）2、應(yīng)用：（1）在能穿透工件的前提下，應(yīng)盡量選擇較低的KV值（2）對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，適當(dāng)提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對(duì)準(zhǔn)較厚部位、采用雙膠片技術(shù)、補(bǔ)償技術(shù)3、注意：選擇能量時(shí)必須考慮穿透厚度。,42

32、.2γ射線源和高能Ｘ射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。 采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到4.11.3要求的前提下，允許γ射線最小透照厚度取表4下限值的二分之一。 采用其他透照方式，在采取有效補(bǔ)償措施并保證像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到4.11.3要求的前提下，經(jīng)合同各方同意，A 級(jí) ,AB級(jí)技術(shù)的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm， Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。,1、理解：（1）鼓勵(lì)和提倡采

33、用源在內(nèi)中心透照方式盡可能實(shí)現(xiàn)單壁透照，同時(shí)也有利于橫向裂紋的檢出（2）其他透照方式包括：雙壁雙影、雙壁單影、內(nèi)透法F＞R、F＜R（3）經(jīng)合同各方同意的主要目的是 對(duì)‘放寬最小透照厚度’要慎重（4）其他透照方式‘放寬最小透照厚度’與技術(shù)級(jí)別有關(guān)（僅限于A級(jí)AB級(jí)）2、應(yīng)用：（1）采用Ir-192源中心透照時(shí)最小透照厚度可為10mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。采用其他透照方式當(dāng)透照厚

34、度小20mm時(shí)，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于10mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。,（2）采用Se-75源中心透照時(shí)最小透照厚度可為5mm，且不用合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。采用其他透照方式當(dāng)透照厚度小10mm時(shí)，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。如最小透照厚度小于5mm時(shí)，即使合同各方同意也不能實(shí)施。（3）有效補(bǔ)償措施包括：高類(lèi)別的膠片、適當(dāng)提高底片黑度、提高增感屏的厚度、散射線的屏蔽。3、注意：

35、（1）最小透照厚度以公稱(chēng)厚度計(jì)算。（2）合同各方同意：一般指在施工方案上或工藝文件上有甲方簽字認(rèn)可，并存檔。,4.3 射線源至工件表面的最小距離,4.3.1 所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下式的要求： －A 級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)： f ≥ 7.5d·b 2/3 － AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)： f ≥ 10d·b 2/3

36、 － B 級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)： f ≥ 15d·b 2/3圖2是A級(jí)和B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定f的諾模圖，圖3是AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定f的諾模圖。有效焦點(diǎn)尺寸d 按附錄E（規(guī)范性附錄）的規(guī)定計(jì)算。,4.3.2 采用源在內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50%。4.3.3 采用源在內(nèi)單壁透照方式時(shí)，只要得到的底片質(zhì)量符合

37、4.11.2和4.11.3的要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20%。,1、理解：（1）確定射線源至工件表面的最小距離與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)。（2）鼓勵(lì)和提倡采用內(nèi)透法特別是中心內(nèi)透法。體現(xiàn)了采用單壁透照的原則。減少透照厚度，有利與檢驗(yàn)缺陷；減少照射角，有利裂紋檢出。2、應(yīng)用：（1）由諾模圖中可直接得出射線源至工件表面最小距離（2）工件表面至膠片的距離應(yīng)根據(jù)透照方式確定，同時(shí)應(yīng)考慮焊縫余高和墊板（雙壁單影、單壁單影）的厚度3、

38、注意：由諾模圖中給出的數(shù)據(jù)是射線源至工件表面的最小距離。,4.4 曝光量,4.4.1 Ｘ射線照相，當(dāng)焦距為700mm時(shí)，曝光量的推薦值為：A級(jí)和AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于15mA·min；B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)不小于20mA·min。當(dāng)焦距改變時(shí)可按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算。4.4.2 采用γ射線源透照時(shí), 總的曝光時(shí)間應(yīng)不少于輸送源往返所需時(shí)間的10倍。,1、理解：（1）曝光量的大小與焦距有關(guān)（2）曝

39、光量的選擇與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)（3）采用γ射線源透照時(shí)，在某一時(shí)段焦距是在不斷變化，為保證底片質(zhì)量，從而確定了總的曝光時(shí)間2、應(yīng)用：以AB級(jí)為例：當(dāng)焦距700mm時(shí)，曝光量應(yīng)大于或等于15mA·min、當(dāng)焦距大于700mm時(shí)，曝光量應(yīng)大于15mA·min、當(dāng)焦距小于700mm時(shí)，曝光量可小于或等于15mA·min、焦距改變時(shí)按平方反比定律對(duì)曝光量的推薦值進(jìn)行換算。3、注意：對(duì)小口徑薄壁管采用γ射線源透照

40、時(shí)，強(qiáng)度不宜太大,4.5 曝光曲線,4.5.1 對(duì)每臺(tái)在用射線設(shè)備均應(yīng)做出經(jīng)常檢測(cè)材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)。4.5.2 制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應(yīng)達(dá)到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應(yīng)符合本部分的規(guī)定。4.5.3 對(duì)使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次。射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作。,1、理解：（1）曝光曲線是針對(duì)X射線機(jī)（2）每臺(tái)X射線機(jī)

41、必須有曝光曲線且不能混用（3）射線設(shè)備重要部件是指X射線管和高壓包2、應(yīng)用：（1）曝光曲線橫坐標(biāo)上的厚度應(yīng)是穿透厚度（2）當(dāng)實(shí)際拍片的條件與制作曝光曲線的條件不一致時(shí)，必須對(duì)曝光曲線作相應(yīng)的修正。3、注意：曝光曲線的校驗(yàn)日期（至少每年一次）,4.6 無(wú)用射線和散射線屏蔽,4.6.1 應(yīng)采用金屬增感屏、鉛板、濾波板、準(zhǔn)直器等適當(dāng) 措施，屏蔽散射線和無(wú)用射線，限制照射場(chǎng)范圍。4.6.2 對(duì)初次

42、制定的檢測(cè)工藝或當(dāng)在使用中檢測(cè)工藝的 條件、環(huán)境發(fā)生改變時(shí),應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查。 檢查背散射防護(hù)的方法是：在暗盒背面貼附“B”鉛字標(biāo)記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測(cè)工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周?chē)尘昂诙鹊摹癇”字影像，則說(shuō)明背散射防護(hù)不夠,應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn) “B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周?chē)尘昂诙鹊摹癇”字影像，則說(shuō)明背散射防護(hù)符合要

43、求。,1、理解：（1）金屬增感屏、鉛板、濾波板、準(zhǔn)直器等是屏蔽和控制散射線的主要器件（2）屏蔽和控制散射線與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別無(wú)關(guān)（3）背散射檢查的前提條件（初次制定的檢測(cè)工藝或當(dāng)在使用中檢測(cè)工藝的條件、環(huán)境發(fā)生改變）2、應(yīng)用：對(duì)不是初次制定的檢測(cè)工藝或在使用中檢測(cè)工藝的條件、環(huán)境未發(fā)生變化時(shí)，不用每次都進(jìn)行背散射檢查3、注意：在薄工件或不用增感屏?xí)r，有時(shí)會(huì)出現(xiàn)黑度高于周?chē)尘昂诙鹊摹癇”字影像,4.7 像質(zhì)計(jì)的使用,4.7.1

44、像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置）,金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。,4.7.2 像質(zhì)計(jì)放置原則,a) 單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。b) 單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無(wú)法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)。c) 單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，

45、應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)。對(duì)比試驗(yàn)方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用與工件相同的條件透照，測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以此修正像質(zhì)指數(shù)規(guī)定，以保證實(shí)際透照的底片靈敏度符合要求。d) 當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記， F標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明。,4.7.3 原則上每張底片上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。當(dāng)一次曝光完成多張膠片照相時(shí)，使用的像質(zhì)計(jì)數(shù)量允許減少

46、但應(yīng)符合以下要求: a) 環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時(shí)，至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)計(jì);b) 球罐對(duì)接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時(shí)，至少在北極區(qū)、赤道區(qū)、南極區(qū)附近的焊縫上沿緯度等間隔地各放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)，在南、北極的極板拼縫上各放置1個(gè)像質(zhì)計(jì); c) 一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時(shí)，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。,4.7.4 小徑管可選用通用線型像質(zhì)計(jì)或附錄F（規(guī)范性附錄）規(guī)定的專(zhuān)用

47、（等徑金屬絲）像質(zhì)計(jì)，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。4.7.5 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。專(zhuān)用像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。,1、理解：（1）在像質(zhì)計(jì)擺放原則中對(duì)1/4處是一個(gè)相對(duì)概念（2）根據(jù)透照方式的不同規(guī)定了像質(zhì)計(jì)應(yīng)的擺放位置（3）規(guī)定了允許減少的三種情況（環(huán)形焊縫周向曝光：≥3；連續(xù)多張一次曝光：≥3；球：≥3×3＋2）（4）小

48、徑管即可以選用通用線型像質(zhì)計(jì)也可以選用專(zhuān)用線型像質(zhì)計(jì)（4）像質(zhì)計(jì)的觀察一般在母材上而不是在焊縫上。（考慮深槽焊）（5）“ F”標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上（像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記是指像質(zhì)計(jì)上的標(biāo)準(zhǔn)號(hào)）2、應(yīng)用：（1）只有在單壁透照，象質(zhì)計(jì)放在膠片測(cè)時(shí)才進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，其他方式均不用做對(duì)比試驗(yàn)。（2）像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)僅限于小徑管雙壁雙影時(shí)使用（3）“F”標(biāo)記一般應(yīng)放置在像質(zhì)計(jì)標(biāo)識(shí)的右上角。（4）當(dāng)焊縫寬度較大時(shí)應(yīng)加

49、長(zhǎng)金屬絲的長(zhǎng)度，或適當(dāng)移動(dòng)像質(zhì)計(jì)的位置。（5）當(dāng)象質(zhì)計(jì)放在膠片測(cè)時(shí)，應(yīng)在檢驗(yàn)報(bào)告像質(zhì)計(jì)靈敏度一欄中注明,注意：（1）雙壁雙影最大透照厚度上限；A級(jí)為54mm、AB為54mm、B級(jí)為56mm（表6）（2）小徑管使用專(zhuān)用像質(zhì)計(jì)時(shí)要看到2根,4.8 標(biāo)記,4.8.1 透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數(shù)字、拼音字母和符號(hào)等構(gòu)成。4.8.2 識(shí)別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號(hào)、對(duì)接焊接接頭編

50、號(hào)、部位編號(hào)和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記,擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記。4.8.3 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號(hào)的方向,一般用十字箭頭“↑→ ”表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段標(biāo)記，可用符號(hào)“↑”或其他能顯示搭接情況的方法表示。,4.8.4 標(biāo)記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，搭接標(biāo)記放置的部位還應(yīng)符合附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定。所有標(biāo)記的

51、影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定范圍內(nèi)的影像。,1、理解：（1）未對(duì)返修標(biāo)記,擴(kuò)大檢測(cè)比例的擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記作出統(tǒng)一規(guī)定。（2）搭接標(biāo)記可以用“↑”表示也可以用其他符號(hào)表示（如1、2、或A、B、C）（3）（3）根據(jù)射線源、工件、膠片的相互位置按附錄G規(guī)定放置搭接標(biāo)記。2、應(yīng)用：（1）應(yīng)在工藝文件中對(duì)返修標(biāo)記、擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記以及搭接標(biāo)記的符號(hào)作出明確規(guī)定。（2）小徑管雙壁雙影或垂直透照不用搭接標(biāo)記。（3）除中心100％透照或連續(xù)多張一次曝光

52、外，否則每張底片上均應(yīng)有中心標(biāo)記。（Ø20mm以下小徑管除外）3、注意：不是100％透照的焊接接頭也要放置搭接標(biāo)記。（有效區(qū)段標(biāo)記）,4.9 膠片處理,4.9.1 可采用自動(dòng)沖洗或手工沖洗方式處理,推薦采用自動(dòng)沖洗方式處理。 4.9.2 膠片處理一般應(yīng)按膠片使用說(shuō)明書(shū)的規(guī)定進(jìn)行。,1、理解：（1）手工沖洗方式處理是指槽洗不是盤(pán)洗（2）推薦采用自動(dòng)沖洗方式處理的目的是盡量防止采用增加或減少顯影時(shí)間來(lái)控制底片的黑度。2

53、、應(yīng)用：在工藝文件中要明確膠片處理的方式和處理的條件。3、注意：采用自動(dòng)洗片機(jī)時(shí)要經(jīng)常清洗防止產(chǎn)生劃傷。,4.10 評(píng)片要求,4.10.1 評(píng)片一般應(yīng)在專(zhuān)用的評(píng)片室內(nèi)進(jìn)行。評(píng)片室應(yīng)整潔、安靜，溫度適宜,光線應(yīng)暗且柔和。4.10.2 評(píng)片人員在評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時(shí)間。從陽(yáng)光下進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間一般為5 min～10min；從一般的室內(nèi)進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。4.10.3 評(píng)片時(shí)，底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)符

54、合下列規(guī)定： 當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度 D≤2.5時(shí)，透過(guò)底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于30cd/m2； 當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度 D＞2.5時(shí),透過(guò)底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。 4.10.4 底片評(píng)定范圍的寬度一般為焊縫本身及焊縫兩側(cè)5mm寬的區(qū)域。,1、理解：增加評(píng)片暗適應(yīng)過(guò)程規(guī)定的目的是光強(qiáng)的突然變化會(huì)使人的視覺(jué)靈敏度下降從而造成評(píng)片時(shí)的漏檢2、應(yīng)用：（1）評(píng)片室不能全黑，一般要等于或略低于透過(guò)底片

55、光的亮度。（2）觀片燈的亮度必須可以調(diào)節(jié)（3）觀片燈應(yīng)有足夠的照明區(qū)一般是300×80mm（4）要用照度計(jì)測(cè)定透過(guò)底片后，可見(jiàn)光的強(qiáng)度是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的要求。3、注意：對(duì)低合金高強(qiáng)鋼要特別注意熱影響區(qū)的觀察。,4.11 底片質(zhì)量,4.11.1 底片上,定位和識(shí)別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。4.11.2 底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度D應(yīng)符合下列規(guī)定: A 級(jí)：1.5≤D≤4.0； AB級(jí)：2.0≤D≤

56、4.0 ； B 級(jí)：2.3≤D≤4.0。 用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，AB級(jí)最低黑度允許降至1.5；B級(jí)最低黑度可降至2.0。 采用多膠片方法時(shí)，單片觀察的黑度應(yīng)符合以上要求。雙片疊加觀察僅限于A級(jí)，疊加觀察時(shí)，單片的黑度應(yīng)不低于1.3。 對(duì)評(píng)定范圍內(nèi)的黑度D＞4.0的底片，如有計(jì)量檢定報(bào)告證明底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度能夠滿足4.10.3的要求，允許進(jìn)行評(píng)定。,1、理解：（1）底片評(píng)定范圍

57、內(nèi)的黑度與技術(shù)級(jí)別有關(guān)（2）只有當(dāng)用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，黑度才可降低而且與技術(shù)級(jí)別有關(guān)（ AB級(jí)最低黑度允許降至1.5；B級(jí)最低黑度可降至2.0）（3）允許黑度降低的前提條件；a.只能是工件不能是設(shè)備的焊接接頭《4.2.1》b.當(dāng)較薄部位的黑度為4.0時(shí)，較厚部位的黑度尚未達(dá)到1.5時(shí)。（AB級(jí)T3類(lèi)膠片為基準(zhǔn)）（4）雙膠片技術(shù)一般是指兩張感光速度不同的膠片也可以是兩張感光速度相同的膠片2、應(yīng)用：（1）評(píng)片時(shí)

58、每張底片均應(yīng)測(cè)定其黑度值（2）黑度一般測(cè)三點(diǎn)即兩搭接標(biāo)記的焊縫上各測(cè)一點(diǎn)，焊縫中心靠近焊縫母材部位測(cè)一點(diǎn)。（3）小徑管無(wú)論是雙壁雙影或垂直透照黑度均可降至1.5（X射線、AB級(jí)）3、注意：（1）AB級(jí)、B級(jí)不能采用雙片觀察,（2）小徑管只有在黑度大于1.5以上的區(qū)域是有效評(píng)定范圍（X射線、AB級(jí)）（3）當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度大于4時(shí)需有計(jì)量檢定報(bào)告證明底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度能夠滿4.10.3的要求時(shí)，才允許進(jìn)行評(píng)定。,4.11.3

59、底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度,單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表5的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表6的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)時(shí)應(yīng)符合表7的規(guī)定。4.11.4底片評(píng)定范圍內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷影像識(shí)別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。,1、理解：底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度不僅與檢測(cè)技術(shù)級(jí)別有關(guān)，而且還與透照方式、公稱(chēng)厚度、透照厚度有關(guān)。2、應(yīng)用：（1）除單壁透照像質(zhì)計(jì)放在膠片側(cè)外，其他形式的底片像質(zhì)計(jì)靈敏度均可從表中查出

60、（2）底片評(píng)定范圍以外的偽缺陷不屬于底片質(zhì)量不合格的依據(jù)。3、注意：（1）當(dāng)對(duì)接接頭兩邊的公稱(chēng)厚度不等時(shí)以較薄為準(zhǔn)。（2）底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度不能按穿透厚度計(jì)算。,5 承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí),5.1 鋼、鎳、銅制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)5.1.1 范圍本條規(guī)定適用于厚度為2 mm～400mm，材質(zhì)為碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金制承壓設(shè)備，以及厚度為2 mm～80mm銅及銅合

61、金制承壓設(shè)備的熔化焊對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè)的質(zhì)量分級(jí)。管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)按照第6條的規(guī)定執(zhí)行,1、理解：（1）必須是對(duì)接接頭（2）適用范圍和厚度（碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅和銅合金。厚度2 mm～400mm、 2 mm～80mm。2、應(yīng)用：凡不在本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的范圍之內(nèi)，均不能按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)。3、注意：厚度是指母材的公稱(chēng)厚度。,5.1.2 缺陷類(lèi)型對(duì)接焊接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分

62、為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類(lèi)。5.1.3 質(zhì)量分級(jí)依據(jù)根據(jù)對(duì)接接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度，其質(zhì)量等級(jí)可劃分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ級(jí)。,5.1.4 質(zhì)量分級(jí)一般規(guī)定,5.1.4.1 Ⅰ級(jí)對(duì)接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。5.1.4.2 Ⅱ級(jí)和Ⅲ級(jí)對(duì)接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。5.1.4.3 對(duì)接焊接接頭中缺陷超過(guò)Ⅲ級(jí)者為Ⅳ級(jí)。5.1.4.4 當(dāng)各類(lèi)缺陷評(píng)定的質(zhì)量級(jí)

63、別不同時(shí)，以質(zhì)量最差的級(jí)別作為對(duì)接焊接接頭的質(zhì)量級(jí)別。,5.1.5 圓形缺陷的質(zhì)量分級(jí),5.1.5.1 圓形缺陷用圓形缺陷評(píng)定區(qū)進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)評(píng)定，圓形缺陷評(píng)定區(qū)為一個(gè)與焊縫平行的矩形，其尺寸見(jiàn)表8。圓形缺陷評(píng)定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重的區(qū)域。5.1.5.2 在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)或與圓形缺陷評(píng)定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評(píng)定區(qū)內(nèi)。將評(píng)定區(qū)內(nèi)的缺陷按表9的規(guī)定換算為點(diǎn)數(shù)，按表10的規(guī)定評(píng)定對(duì)接焊接接頭的質(zhì)量級(jí)別。,1、理解：（1）特種設(shè)備對(duì)

64、接接頭內(nèi)的缺陷分為5種即裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷。（2）以對(duì)接接頭中存在缺陷的性質(zhì)、數(shù)量和密集程度進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)與技術(shù)級(jí)別無(wú)關(guān)。2、應(yīng)用：（1）圓形缺陷評(píng)定區(qū)的尺寸要根據(jù)公稱(chēng)厚度確定。（2）在確定圓形缺陷嚴(yán)重部位的數(shù)量時(shí)，評(píng)定區(qū)應(yīng)與焊縫平行。（3）圓形缺陷的長(zhǎng)徑大于T/2時(shí)應(yīng)注明其尺寸3、注意：必須與圓形缺陷評(píng)定區(qū)邊界線相割的缺陷才能劃入評(píng)定區(qū)內(nèi),5.1.5.3 由于材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因,進(jìn)行返修可能會(huì)產(chǎn)生不利后果的對(duì)接

65、焊接接頭，各級(jí)別的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1點(diǎn)～2點(diǎn)。5.1.5.4 對(duì)致密性要求高的對(duì)接焊接接頭，制造方底片評(píng)定人員應(yīng)考慮將圓形缺陷的黑度作為評(píng)級(jí)的依據(jù)。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷,當(dāng)對(duì)接焊接接頭存在深孔缺陷時(shí)，其質(zhì)量級(jí)別應(yīng)評(píng)為Ⅳ級(jí)。,5.1.5.5 當(dāng)缺陷的尺寸小于表11的規(guī)定時(shí)，分級(jí)評(píng)定時(shí)不計(jì)該缺陷的點(diǎn)數(shù)。質(zhì)量等級(jí)為Ⅰ級(jí)的對(duì)接焊接接頭和母材公稱(chēng)厚度T ≤5mm的Ⅱ級(jí)對(duì)接焊接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于1

66、0個(gè)，超過(guò)時(shí)對(duì)接焊接接頭質(zhì)量等級(jí)應(yīng)降低一級(jí)。,1、理解：（1）圓形缺陷放寬的原則（2）致密性要求高的對(duì)接焊接接頭是指一旦泄漏將會(huì)發(fā)生起火、爆炸或嚴(yán)重污染環(huán)境的焊接接頭。（3）制造方底片評(píng)定人員：（包括檢驗(yàn)檢測(cè)，設(shè)備制造或安裝單位的評(píng)片人員）2、應(yīng)用：（1）圓形缺陷的放寬不能是普遍現(xiàn)象只能是個(gè)別現(xiàn)象，如果對(duì)圓形缺陷放寬應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告的附件中說(shuō)明圓形缺陷的實(shí)際點(diǎn)數(shù)，以及放寬的理由和依據(jù)。（2）只有對(duì)薄板焊接接頭評(píng)定時(shí)當(dāng)圓形缺陷的黑度明顯大于

67、母材的黑度時(shí)才能定義為深孔（并在報(bào)告中注明）3、注意：監(jiān)檢人員以及第三方抽檢一般不考慮將圓形缺陷的黑度作為評(píng)級(jí)的依據(jù)。,5.1.6 條形缺陷的質(zhì)量分級(jí),條形缺陷按表12的規(guī)定進(jìn)行分級(jí)評(píng)定。,1、理解：（1）條形評(píng)定區(qū)的寬度與母材的公稱(chēng)厚度有關(guān)（T≤25mm.4mm、100mm≥ T＞25mm.6mm 、T＞100mm.8mm（2）對(duì)條形缺陷的累計(jì)長(zhǎng)度規(guī)定了最小值（3）T為公稱(chēng)厚度2、應(yīng)用：（1）當(dāng)測(cè)定條形缺陷的累計(jì)長(zhǎng)度時(shí)，條形評(píng)定

68、區(qū)應(yīng)與焊縫平行（２)應(yīng)用條形評(píng)定區(qū)的目的是確定當(dāng)?shù)灼嫌卸嗵帡l形缺陷時(shí)，根據(jù)間距大小確定是否為一組或兩組（3）凡在同一直線的條狀缺陷應(yīng)根據(jù)間距的情況是否按單個(gè)條狀缺陷處理.（相鄰缺陷的間距大于較短缺陷時(shí)除外）圖1、23、注意：當(dāng)母材公稱(chēng)厚度不等時(shí)取薄板的厚度值。,5.1.7 綜合評(píng)級(jí),5.1.7.1 在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在圓形缺陷和條形缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí)。5.1.7.2 綜合評(píng)級(jí)的級(jí)別如下確定：對(duì)圓形缺陷和條形缺陷分別