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1、承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)介紹,吳 偉云南省火電建設(shè)公司中心試驗(yàn)室昆明大石壩省火電建設(shè)公司基地院內(nèi) 650028Tel:0871-7213019 13208850580 Email: ww530112@126.com,工業(yè)數(shù)字化射線檢測(cè),前 言,隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展和普及,現(xiàn)在已進(jìn)入數(shù)字化時(shí)代 。 X射線無(wú)損探傷作為一種常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)方法在工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用已有近百年的歷史,X射線
2、無(wú)損探傷通常以膠片照相為主要方法,在檢測(cè)速度和成本等方面已無(wú)法滿足目前生產(chǎn)快速發(fā)展和競(jìng)爭(zhēng)日益激烈的需要。我國(guó)經(jīng)過(guò)十多年的發(fā)展,一種新興的X射線無(wú)損檢測(cè)方法-X射線數(shù)字化實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)已日臻成熟并已成功應(yīng)用于我國(guó)的實(shí)踐。X射線數(shù)字實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)主要特點(diǎn)是無(wú)需膠片照相,這與數(shù)碼相機(jī)可以代替普通相機(jī)技術(shù)一樣,檢測(cè)結(jié)果的載體是數(shù)字圖像,標(biāo)志著我國(guó)X射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)入無(wú)膠片時(shí)代,是無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的一次革命。,數(shù)碼照片與膠片照片相媲美,X 射線數(shù)字
3、化檢測(cè)圖像,一、數(shù)字化圖像的基本知識(shí),由連續(xù)信號(hào)構(gòu)成的圖像稱為模擬圖像,射線照相得到的底片圖像就是模擬圖像;而數(shù)字圖像是指由大量的點(diǎn)(像素)構(gòu)成,可用二進(jìn)制數(shù)字描述的圖像。有很多方法可以將模擬圖像轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像,如用掃描儀、或用數(shù)碼相機(jī)等。工業(yè)射線檢測(cè)數(shù)字圖像有很多方法: 1、底片數(shù)字化掃描技術(shù); 2、圖像增強(qiáng)器實(shí)時(shí)成像技術(shù); 3、計(jì)算機(jī)X射線照相技術(shù)(CR); 4、線陣列掃描技術(shù)(LDA);
4、 5、非晶硅和非晶硒數(shù)字平板成像技術(shù); 6、CMOS數(shù)字平板成像技術(shù); 7、層析照相技術(shù)。,射線數(shù)字化實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)基本原理,X射線數(shù)字化實(shí)時(shí)成像無(wú)損檢測(cè)原理如圖所示,它可用兩個(gè)“轉(zhuǎn)換”來(lái)概述:X射線穿透金屬材料后被圖像采集器所接收,圖像采集器把不可見(jiàn)的X射線檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為光學(xué)圖像,稱為“光電轉(zhuǎn)換”;圖像采集器(對(duì)于圖像不具備數(shù)字采集功能的圖像增強(qiáng)器而言,用高清晰度電視攝像機(jī)攝取光學(xué)圖像,輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行A/
5、D轉(zhuǎn)換),將采集到的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像,經(jīng)計(jì)算機(jī)處理后,還原在顯示器屏幕上,可顯示出材料內(nèi)部的缺陷性質(zhì)、大小、位置等信息,按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行缺陷等級(jí)評(píng)定,從而達(dá)到無(wú)損檢測(cè)的目的。X射線數(shù)字化實(shí)時(shí)成像技術(shù)無(wú)論在檢測(cè)效率、經(jīng)濟(jì)效益、表現(xiàn)力、遠(yuǎn)程傳送、方便實(shí)用等方面都比照相底片更勝一籌,因而具有良好的發(fā)展前景。所謂“實(shí)時(shí)”的是指圖像的采集速度制式,圖像采集速度能夠達(dá)到25幀/秒(PAL制)或30幀/秒(NTSC制),即視為實(shí)時(shí)成
6、像。關(guān)于圖像的采集制式,我國(guó)采用PAL制式,歐美等國(guó)家多采用NTSC制式。,二、底片數(shù)字化掃描技術(shù),底片掃描不采用反射式而采用透射式;由于底片黑度高,掃描光源必須保證有足夠透過(guò)光亮度;傳輸系統(tǒng)必須保證足夠精度;掃描得到的數(shù)字圖像必須保證足夠高的空間分辨率和灰度分辨率;目前工業(yè)底片數(shù)字掃描設(shè)備主要分為兩大類:基于CCD/CMOS成像的掃描系統(tǒng)和基于PMT成像的掃描。,底片數(shù)字化掃描技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)和局限性,與其他獲得數(shù)字化圖像的技術(shù)相比
7、,掃描技術(shù)所需投資費(fèi)用最低;操作簡(jiǎn)單,容易掌握,技術(shù)要求低;操作過(guò)程長(zhǎng),需要比膠照相更比的時(shí)間才能獲取數(shù)字圖像;圖形質(zhì)量會(huì)因掃描出現(xiàn)某種程度的退化。例如由于工業(yè)射線膠片雙面涂膜,掃描造成圖像清晰度損失。,二、圖像增強(qiáng)器實(shí)時(shí)成像技術(shù)CCD,,圖像增強(qiáng)器,圖像增強(qiáng)器工作原理,射線穿透工件后圖像增強(qiáng)器的前端熒光板,經(jīng)光電轉(zhuǎn)換,光電子在真空度很高的封閉的空腔內(nèi)經(jīng)高壓電場(chǎng)聚焦,工件的摸擬圖像被攝像機(jī)所攝取,輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行摸擬量/數(shù)字化轉(zhuǎn)換。
8、,CCD攝像機(jī)的工作方式,被攝物體的圖像經(jīng)過(guò)鏡頭聚焦至CCD芯片上,CCD根據(jù)光的強(qiáng)弱積累相應(yīng)比例的電荷,各個(gè)像素積累的電荷在視頻時(shí)序的控 制下,逐點(diǎn)外移,經(jīng)濾波、放大處理后,形成視頻信號(hào)輸出。視頻信號(hào)連接到監(jiān)視器或電視機(jī)的視頻輸入端便可以看到與原始圖像相同的視頻圖像。,1、圖象增強(qiáng)器基本結(jié)構(gòu),,,,2 3 4 5 1 6,2、射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)系統(tǒng)的圖象特性像素分辨率不清晰度
9、對(duì)比靈敏度,3、射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)工藝要點(diǎn)(1)最佳放大倍數(shù):Mo=1+(Us/df)3/2(2)掃描速度和定位精度(3)圖像處理(4)系統(tǒng)性能校驗(yàn),4、圖像培強(qiáng)器實(shí)時(shí)成像的優(yōu)點(diǎn)和局限性檢測(cè)速度快,工作效率比射線照相高數(shù)十倍。不使用膠片,不需要處理膠片的化學(xué)藥品,運(yùn)行成本低,且不造成環(huán)境污染。檢測(cè)結(jié)果可轉(zhuǎn)化為數(shù)字化圖像可用光盤(pán)等存儲(chǔ)器存放、調(diào)用、傳送比底片方便。僅在最后階段通過(guò)數(shù)字式攝像機(jī)才變成數(shù)字信號(hào)圖像,而其成像過(guò)程
10、,從射線作用多次轉(zhuǎn)換,造成信噪比降低和圖像質(zhì)量劣化,影響最終獲得的數(shù)字圖像質(zhì)量圖像質(zhì)量。顯示器視域有局限。圖像邊沿容易出現(xiàn)扭曲失真。設(shè)備一次投資較大。圖像增強(qiáng)器體積較大,檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用的靈活性和適用性不如普通射線照相裝置。,三、計(jì)算機(jī)射線照相技術(shù)(CR),計(jì)算機(jī)射線照相,是指將射透過(guò)工件后的信息記錄在成像板上,經(jīng)掃描裝置讀取,再由計(jì)算機(jī)生出數(shù)字化圖像的技術(shù)。整個(gè)系統(tǒng)由存儲(chǔ)磷光成像板(又稱IP板)、相應(yīng)的讀出裝置(掃描器和讀出器)、計(jì)
11、算機(jī)軟件(數(shù)字圖像處理和儲(chǔ)存管)、硬度(打印機(jī)和其他存儲(chǔ)介質(zhì))等組成。,1、計(jì)算機(jī)射線照相工作過(guò)程(1)曝光:射線穿過(guò)工件到達(dá)IP板,與熒光物質(zhì)相互作用,在較高能帶俘獲的電子形成光激發(fā)射熒光中心,構(gòu)成潛影;(2)掃描:將IP板裝入專用掃描器,有激光掃描被射線照射過(guò)的熒光物質(zhì),將存儲(chǔ)存在成像板上的射線影像轉(zhuǎn)換為可光信號(hào);(3)成像:輸出藍(lán)色光輻射被光電接收器捕獲,通過(guò)具有光電倍增和模數(shù)轉(zhuǎn)換功能的讀出器將其轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)輸出,通過(guò)計(jì)算
12、機(jī)重建為可視影像在顯示器上顯示。,2、計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的性能和技術(shù)參數(shù)(1)激光掃描儀(2)IP板(3)空間分辨力和信噪比(4)圖像不清晰度,3、CR技術(shù)和優(yōu)點(diǎn)和局限性(1)目前最好的CR成像空間分辨率可達(dá)到25μm,稍低于膠片水平,但優(yōu)于其他各種數(shù)字成像方法。(2)原有的X射線設(shè)備不需要更換或改造,可以真接使用。(3)IP板與膠片一樣,能夠分割和彎曲,能適用于復(fù)雜部位,成像板可重復(fù)使用幾千次,其壽命決定于機(jī)械磨損程度。
13、雖然價(jià)格昂貴,但實(shí)際比膠片更便宜。(4)寬容度大,曝光條件易選擇。對(duì)于曝光不足或過(guò)度的膠片可通過(guò)影像處理進(jìn)行補(bǔ)救。(5)雖然比膠片照相速度快一些,但是不能直接獲得圖像,必須將IP板放入掃描讀取器中才能得到圖像。(6)IP成像板與膠片一樣,對(duì)使用條件有一定要求,不能在潮濕的環(huán)境中和極端的溫度條件下使用。,四、線陣列掃描成像技術(shù)(LDA),由射線機(jī)發(fā)出的一束射線,穿過(guò)被檢測(cè)工件,被線掃描直接成像器(LDA探測(cè)器)接收,將射線直接轉(zhuǎn)換成
14、數(shù)字信號(hào),然后傳送至圖像采集控制器和計(jì)算機(jī)中。每次掃描LDA探測(cè)器所生成的圖像僅僅是很窄的一條線,為了獲得完整的圖像,就必須使被檢測(cè)工件作勻速運(yùn)動(dòng),逐次進(jìn)行掃描。計(jì)算將多次掃描獲得的線形圖像進(jìn)行組合。最后在顯示器上顯示出完整的圖象,從而完成整個(gè)成像過(guò)程。,1、LDA線陣列掃描數(shù)字成像系統(tǒng),1,,7,,6,1、X射線管 2、準(zhǔn)直后的X射線束 3、工件 4、傳磅裝置 5、LDA探測(cè)器6、數(shù)據(jù)采集和控制系統(tǒng) 7、顯示器,線陣
15、列探測(cè)器,2、線陣列掃描數(shù)字成像系統(tǒng)的技術(shù)特性,(1)空間分辨率(2)動(dòng)態(tài)范圍(3)動(dòng)態(tài)標(biāo)定(4)掃描速度(5)閃爍體與射線能量的匹配,3、LDA技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)和局限性,(1)一次投資費(fèi)用較低,比數(shù)字平板(DR)技術(shù)低很多,大致與圖像增強(qiáng)器實(shí)時(shí)成像技術(shù)相近;(2)成像質(zhì)量比圖像增強(qiáng)器實(shí)時(shí)成像技術(shù)好,但低于數(shù)字平板(DR)技術(shù),更低于計(jì)算機(jī)射線照相(CR)技術(shù);(3)成像速度比計(jì)算機(jī)射線照相(CR)技術(shù)快得多,但比圖像增強(qiáng)器實(shí)時(shí)成
16、像技術(shù)慢;(4)運(yùn)行費(fèi)用較低,大致與圖像增強(qiáng)器實(shí)時(shí)成像技術(shù)相近。,五、數(shù)字平板直接成像技術(shù)(DR),數(shù)字平板技術(shù)與膠片或CR的處理過(guò)程不同,在兩次照射期間,不必更換膠片和存儲(chǔ)熒光板,僅僅需要幾秒種的數(shù)據(jù)采集,就可以觀察到圖像,檢測(cè)速度和效率大大高于膠片和CR技術(shù)。數(shù)字平板的成像質(zhì)量比圖像增強(qiáng)器射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)好很多,不僅成像區(qū)均勻,沒(méi)有邊緣幾何變形,而且空間分辨率和靈敏度更高一些。與LDA線陣列掃描相比,數(shù)字平板可做成大面積平板一次曝
17、光形成圖像,而不需要通過(guò)移動(dòng)或旋轉(zhuǎn)工件,經(jīng)過(guò)多次線掃描才獲得圖像。 數(shù)字平板技術(shù)有非晶硅(a-Si)、非晶硒(a-Se)和CMOS三種,1、非晶硅平板和非晶硒平板,非晶硅平板成像稱為間接成像:需要中間媒體——閃爍層將X射線轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光,再轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。非晶硒平板成像稱為直接成像:X射線撞擊硒層,、硒層直接將X射線轉(zhuǎn)化成電荷。當(dāng)要求分辨率小于200μm時(shí)應(yīng)使用非晶硒板,而當(dāng)允許分辨率大于200μm時(shí),可考慮使用非晶硅。非
18、晶硅板成像速度比非晶硒快。,2、CMOS數(shù)字平板,CMOS數(shù)字平板由集成的CMOS記憶芯片構(gòu)成,所謂“CMOS”是互補(bǔ)金屬氧化硅半導(dǎo)體。和CCD一樣,是可記錄光線變化的半導(dǎo)體。,CMOS的制造技術(shù)和一般計(jì)算機(jī)芯片沒(méi)什么差別,主要是利用硅和鍺這兩種元素所做成的半導(dǎo)體,使其在CMOS上共存著帶N(帶–電) 和 P(帶+電)級(jí)的半導(dǎo)體,這兩個(gè)互補(bǔ)效應(yīng)所產(chǎn)生的電流即可被處理芯片紀(jì)錄和解讀成影像。 “活性像元探頭技術(shù)”是指把所有的電子控制和放大
19、電路放置于每一個(gè)圖像探頭上,取代一般探頭器在邊沿布線的結(jié)構(gòu)。這種結(jié)構(gòu)使CMOS探測(cè)器的抗震性更強(qiáng),壽命更長(zhǎng)。CMOS工作溫度很寬。CMOS探測(cè)器的填充系數(shù)高達(dá)90%以上,高出非晶硅探測(cè)器約60%。采用軸外檢測(cè)方法,可減少噪音(不希望的信號(hào)),減少輻射對(duì)探測(cè)器的直接沖擊(輻射噪音),延長(zhǎng)探測(cè)器壽命。由于主要的輻射束被屏蔽,可以提高信噪比??梢允褂酶鞣NX射線源:脈沖的、整流的、恒壓的,電流從幾微安培到30安培。使用小型CMOS系統(tǒng)
20、,曝光時(shí)間為0.5-3秒,把數(shù)據(jù)修正并把圖像傳輸?shù)接?jì)算機(jī)工作站上,并顯示出來(lái)再需10秒種。,六、X射線層析照相,工業(yè)CT是用經(jīng)過(guò)高度準(zhǔn)直的窄束X射線,對(duì)工件分層進(jìn)行掃描。X射線管與探測(cè)器作為同步轉(zhuǎn)動(dòng)的整體,分別位于工年兩側(cè)的相對(duì)位置。檢查中X射線束從各個(gè)方向?qū)Ρ惶讲榈臄嗝孢M(jìn)行掃描,位于對(duì)側(cè)的探測(cè)器接收透過(guò)斷面的X射線,然后將這些X射線信息轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào),再由模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理,最后由圖像顯示器用不同的灰度等級(jí)
21、顯示出來(lái),就成為一幅X-CT圖像。,(1)特點(diǎn)準(zhǔn)確率高。產(chǎn)生的數(shù)字化圖像信號(hào)貯存、轉(zhuǎn)錄十分方便。完整地檢測(cè)一個(gè)工件比常規(guī)射線照相需要長(zhǎng)得多的時(shí)間,費(fèi)用要高得多。(2)應(yīng)用缺陷檢測(cè)尺寸測(cè)量結(jié)構(gòu)和密度分布檢查,七、數(shù)字化射線成像技術(shù)特點(diǎn)總結(jié),各種數(shù)字化射線成像技術(shù)的共同點(diǎn)是:檢測(cè)過(guò)程容易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,工作效率高,數(shù)字圖像的處理、存儲(chǔ)、傳輸、提取、觀察應(yīng)用十分方便。(1)成像速度 數(shù)字化射線成像技術(shù)成像速度與成像精度有
22、關(guān),一般來(lái)說(shuō)成像速度越快,所獲得的圖像質(zhì)量就越低。 各種檢測(cè)技術(shù)按速度排列: 成像速度最高——圖象增強(qiáng)器CCD實(shí)時(shí)成像 非晶硅 非晶硒 CMOS LDA CR 膠片照相 底片掃描,,,,,,,,(2)空間分辨率 各種檢測(cè)技術(shù)按速度排列:分辨率最高——膠片照相 CR 底片掃描 CMOS 非晶硒 非晶硅 LDA 圖像
23、增強(qiáng)器CCD實(shí)時(shí)成像(3)一次投入費(fèi)用/運(yùn)營(yíng)成本 把各種檢測(cè)技術(shù)按一次投入費(fèi)用排列:一次投入費(fèi)用最高——CMOS 非晶硒 非晶硅 LDA CR 圖像增強(qiáng)器CCD實(shí)時(shí)成像 底片掃描 膠片照相 把各種檢測(cè)技術(shù)按運(yùn)營(yíng)成本排列:運(yùn)營(yíng)成本最高——底片掃描 膠片照相 CR 非晶硒 非晶硅 CMOS LDA 圖像增強(qiáng)器CCD實(shí)時(shí)成像 (4)使
24、用適應(yīng)性使用適應(yīng)性最好——CR 膠片照相 底片掃描 非晶硅非晶硒 CMOS LDA 圖像增強(qiáng)器CCD實(shí)時(shí)成像,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,八、數(shù)字化射線圖像優(yōu)勢(shì),與射線照相底片的模擬圖像相比,數(shù)字化的射線圖像至少有以下優(yōu)勢(shì):(1)不再需要龐大的底片庫(kù),檢測(cè)結(jié)果的保存問(wèn)題很容易解決;(2)形成的電子文檔資料庫(kù)可通過(guò)先進(jìn)和軟件實(shí)現(xiàn)高水平的管理
25、,檢索、查找、統(tǒng)計(jì)、調(diào)用快速方便;(3)可在網(wǎng)絡(luò)上傳輸,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果的異地遠(yuǎn)程分析評(píng)定;(4)可通過(guò)計(jì)算機(jī)處理,提高圖像質(zhì)量;(5)容易復(fù)制,可保存時(shí)間幾乎無(wú)限,對(duì)于設(shè)備運(yùn)行后期維修和安全具有十分重要的意義。,九、標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于X 射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)方法,到目前為止我國(guó)已發(fā)布了GB 17925-1999《氣瓶對(duì)接焊縫 X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)》和GB/T 19293-2003《對(duì)接焊縫X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)法》兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。GB/T 19293-2
26、003是關(guān)于對(duì)接焊縫X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)的通用方法標(biāo)準(zhǔn),GB 17925-1999是關(guān)于氣瓶產(chǎn)品對(duì)接焊縫X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)的方法標(biāo)準(zhǔn)。這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布,標(biāo)志著我國(guó) X 射線實(shí)時(shí)成像無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的研究和應(yīng)用已達(dá)到了一個(gè)新水平。但是,作為射線實(shí)時(shí)成像無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化體系在我國(guó)尚未建立起來(lái),需要盡快建立我國(guó)射線實(shí)時(shí)成像無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化體系。,十、應(yīng)用,X射線數(shù)字化實(shí)時(shí)成像技術(shù)在工業(yè)各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,例如在氣瓶、鍋爐、壓力容器、壓力管道、油氣長(zhǎng)
27、輸管道對(duì)接焊縫的無(wú)損檢測(cè),汽車輪轂、汽車/飛機(jī)輪胎等領(lǐng)域的無(wú)損檢測(cè),機(jī)械 零件的無(wú)損檢測(cè)等。,氣瓶對(duì)接焊縫X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè),在20世紀(jì)90年代中期,X射線數(shù)字化實(shí)時(shí)成像檢測(cè)已正式應(yīng)用于液化石油氣鋼瓶對(duì)接焊縫的無(wú)損檢測(cè)。,1-X射線管焦點(diǎn) 2-氣瓶 3-被檢測(cè)焊縫 4-圖像增強(qiáng)器 5-光學(xué)鏡頭 6-攝象機(jī),當(dāng)時(shí)圖像采集器主要是采用圖像增強(qiáng)器技術(shù),可以說(shuō)是X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)的第一代技術(shù),在此技術(shù)的基礎(chǔ)上形成了17925-1999標(biāo)準(zhǔn)。
28、采用此技術(shù)的設(shè)備造價(jià)較低,雖然圖像質(zhì)量比現(xiàn)在的線陣列探測(cè)器技術(shù)低一些,但經(jīng)過(guò)十多年實(shí)際應(yīng)用,證明技術(shù)已經(jīng)日臻成熟,能滿足氣瓶和壓力管道及有關(guān)壓力容器焊縫無(wú)損檢測(cè)的要求,至今仍然有堅(jiān)強(qiáng)生命力。檢測(cè)工裝由兩個(gè)自由構(gòu)成,檢測(cè)環(huán)焊縫時(shí),氣瓶在工裝上繞軸線呈360°旋轉(zhuǎn),檢測(cè)縱焊縫時(shí),氣瓶沿水平方向移動(dòng),確保焊縫100%檢驗(yàn)。,線陣列探測(cè)器X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù),線陣列探測(cè)器X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)是當(dāng)前比較流行的X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù),
29、它采用線陣列探測(cè)器作為圖像采集器,可以說(shuō)是第二代X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)。,線陣列探測(cè)器X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù),,長(zhǎng)輸管道中心內(nèi)透法實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)(爬行器將X射線機(jī)推入管道內(nèi)),管道爬行器,管子-管板角接焊接接頭 射線檢測(cè),一、管子-管板角接焊接接頭射線照相技術(shù)應(yīng)用意義,1、管子-管板角焊縫無(wú)損檢測(cè)的重要性管子-管板角接焊接接頭是列管式換熱器和列管式反應(yīng)器管子與管板聯(lián)接的主要部位,即使小的缺陷也會(huì)大大地降低該類接頭的密封性和聯(lián)接
30、強(qiáng)度。氣孔是造成管子-管板角接焊接接頭泄漏失效的重要原因。在設(shè)備投入使用后一至三年,由于腐蝕作用,有氣孔的部位會(huì)出現(xiàn)穿透,發(fā)生泄漏,導(dǎo)致停產(chǎn),造成重大經(jīng)濟(jì)損失和環(huán)境污染。提前發(fā)現(xiàn)缺陷是無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的重要課題。,管子-管板角焊縫泄漏的危害,A.影響承壓設(shè)備運(yùn)行的安全;B.造成不正常停車,縮短裝置運(yùn)行周期;C.泄漏可能引起設(shè)備腐蝕;D.泄漏可能對(duì)產(chǎn)品指標(biāo)和質(zhì)量造成影響。E泄漏造成環(huán)境污染,存在于管子-管板角接接頭焊縫中的氣孔,氣
31、孔造成管子-管板角接接頭焊縫泄漏失效,2、管子-管板角焊縫其它無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的難點(diǎn)管子-管板角焊縫因其形狀特殊,應(yīng)用常規(guī)射線和超聲波技術(shù)檢測(cè)很困難;只能用表面檢測(cè)(滲透或磁粉),但此方法只能檢查焊縫的表面缺陷,無(wú)法知道焊縫內(nèi)部缺陷的情況??捎锰厥獬暡夹g(shù)檢測(cè)管子-管板焊縫:但專用設(shè)備系統(tǒng)價(jià)格昂貴,效率低,現(xiàn)場(chǎng)適應(yīng)能力差,對(duì)氣孔的檢測(cè)靈敏度低。,管板角接接頭焊縫的檢測(cè)方法,MT?PT?UT?ET?RT?,,3、管子-管板角焊
32、縫射線照相成效該方法不僅能檢出氣孔外,還能檢出接頭中的裂紋、未熔合、未焊透、夾渣等各類缺陷。管子-管板焊縫的射線照相是一項(xiàng)降低換熱器和反應(yīng)器的失效概率非常有效的預(yù)防性控制措施。過(guò)去的25年的國(guó)外應(yīng)用實(shí)踐表明,管子-管板焊縫射線照相技術(shù)的應(yīng)用大大降低泄漏事故發(fā)生率從而減少了生產(chǎn)成本,提高了經(jīng)濟(jì)效益。尤其是大型石油化工裝置,長(zhǎng)周期運(yùn)行可以獲得可觀的經(jīng)濟(jì)利益,而意外停車損失是巨大的。,二、管子-管板角焊縫射線照相技術(shù)適用的檢測(cè)對(duì)象,1、
33、重要設(shè)備、關(guān)鍵設(shè)備、高價(jià)值設(shè)備;2、劇毒介質(zhì)設(shè)備;3、要求高可靠性,長(zhǎng)周期運(yùn)行的設(shè)備;4、投用后無(wú)法維護(hù)修理的設(shè)備;5、管程和殼程高壓差設(shè)計(jì)條件;6、高溫或溫度劇烈變化設(shè)計(jì)條件;,7、難以避免振動(dòng)的設(shè)計(jì)條件; 8、負(fù)荷經(jīng)常變化或循環(huán)負(fù)荷的設(shè)計(jì)條件; 9、泄漏可能引起系統(tǒng)嚴(yán)重腐蝕的設(shè)計(jì)條件;10、泄漏會(huì)對(duì)工藝參數(shù)和產(chǎn)品質(zhì)量造成影響,因此微量泄漏也不允許的運(yùn)行條件;11、被檢測(cè)管子內(nèi)徑應(yīng)在14~46mm范圍內(nèi),采用特殊措施
34、可檢測(cè)小徑管內(nèi)徑為11mm。12、用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金、鋯及鋯合金。,三、管子-管板角接焊接接頭射線照相的難點(diǎn),,透照厚度變化大;從 0 到1.4×(T+2)mm焦距?。煌刚蘸穸入S焦距而變化;透照布置困難;,,透照厚度變化大:黑度變化大,散射嚴(yán)重。焦距選擇:F↑→透照厚度↑; F ↓ →影像畸變↑焦點(diǎn)尺寸影響:焦距↓要求df ↓ df ↑→Ug↑
35、→靈敏度↓源-膠片相對(duì)位置膠片在源前方,還是膠片在源后方,四、管子-管板角接接接頭射線檢測(cè)設(shè)備和器材,1.射線源:X射線源或γ源X射線源:微焦點(diǎn)棒陽(yáng)極X射線管;γ源:高活度微小焦點(diǎn)Ir192源。焦點(diǎn)尺寸:Ф0.5×1mm、Ф0.7×1.4。2、射線膠片:T1或T2類膠片膠片尺寸:不小于80mm×80mm。增感屏和濾板:散裝膠片:0.1~0.2mm鉛增感屏;真空包裝膠片0.03mm鉛增感屏(可
36、在暗盒與工件之間使用錫板作為濾板)。3、象質(zhì)計(jì):專用象質(zhì)計(jì)4、補(bǔ)償塊,技術(shù)措施(1):使用補(bǔ)償塊,技術(shù)措施(2),使用微小焦點(diǎn)γ源,盡量減小幾何不清晰度:有效焦點(diǎn)尺寸:φ0.5 mm; φ0.7 mm;與普通源相比,微小焦點(diǎn)γ源的比活度大10倍;單位價(jià)格(元/Ci)貴100倍。,五、管子-管板角接接接頭射線檢測(cè)表面準(zhǔn)備和檢測(cè)時(shí)機(jī),實(shí)施檢測(cè)前應(yīng)采用適當(dāng)?shù)墓に嚾コ齼?nèi)側(cè)(管內(nèi)壁及
37、其附近)和外側(cè)上多余和不規(guī)則的焊縫金屬,以保證透照時(shí)補(bǔ)償塊能順利放入,同時(shí)保證底片上缺陷的影像不會(huì)被干擾或混淆。射線檢測(cè)應(yīng)在焊后外觀檢查和表面裂紋檢查合格后進(jìn)行。對(duì)有延遲裂紋的材料,至少應(yīng)在焊接完成20小時(shí)后進(jìn)行。,六、透照工藝,1、透照方式:向后透照;向前透照。2、焦點(diǎn)-膠片距離:根據(jù)管內(nèi)徑選擇。3、曝光時(shí)間:不小于30s。4、工件標(biāo)識(shí)5、底片標(biāo)識(shí),膠片在源前方——向前透照的示意圖,膠片在源后方——向后透照的示意圖,管子-管
38、板角焊縫射線照相工藝試驗(yàn),,厚度補(bǔ)償試驗(yàn):不同形狀厚度補(bǔ)償塊;不同材質(zhì)補(bǔ)償塊散射線屏蔽試驗(yàn):不同增感屏工藝參數(shù)試驗(yàn):不同膠片不同焦距,專用象質(zhì)計(jì)1,,圖C.1 II型專用象質(zhì)計(jì),專用象質(zhì)計(jì)2,,圖C.2 II型專用象質(zhì)計(jì),七、評(píng)定,缺陷評(píng)定: TRST2003《特殊無(wú)損檢測(cè)方法:管子-管板焊接接頭射線檢測(cè)》1、底片質(zhì)量要求:(1)底片上不應(yīng)有邊蝕散射跡象;(2)底片上焊縫影像的變形程度應(yīng)不影響缺陷識(shí)別;(3)管口
39、部位顯示的黑度應(yīng)與被評(píng)定的焊縫區(qū)域一樣均勻;(4)底片評(píng)定區(qū)黑度范圍控制在D=2.5-3.5;(5)工藝鑒定試驗(yàn)應(yīng)能檢出試塊上φ0.5mm小孔。,2、不允許存在缺陷和可接受缺陷,不允許缺陷:裂紋;條孔;蛀孔;密集氣孔;熔合不足;熔深不足(缺陷性質(zhì)參照ISO6520-1)??山邮苋毕荩簹饪缀蛫A渣(缺陷性質(zhì)參照ISO6520-1)。管徑≤20mm,缺陷直徑dp ≤0.5t,且最大不超過(guò)1mm,其間距≥2dp允許3點(diǎn) ;管徑>
40、20mm,缺陷直徑dp ≤0.5t,且最大不超過(guò)1mm,其間距≥2dp允許3點(diǎn) ;其間距≥5dp允許5點(diǎn)。(t=管壁厚度),管子-管板角焊縫射線照相現(xiàn)場(chǎng),管子-管板角焊縫射線照相工裝,管子-管板焊縫射線照相的第一種形式 (適用管子內(nèi)徑14mm-60mm,厚度2mm-8mm, 管板厚度不限,照相靈敏度Φ0.5 mm。),,管子-管板焊縫射線照相的第二種形式 (放射源伸出最大長(zhǎng)度:300mm;阻擋結(jié)構(gòu)距管子管板,角焊縫最大距離:25
41、0mm;阻擋結(jié)構(gòu)開(kāi)孔最小直徑:≥ 管子管板角焊縫外圓尺寸2mm,管子-管板焊縫射線照相的第三種形式 (適用管子內(nèi)徑≥19-90mm,厚度2mm-20mm,照 相靈敏度Φ0.5 mm),這是一張標(biāo)準(zhǔn)的管子-管板焊縫射線照相的底片。兩條紅線中間的區(qū)域?yàn)楣茏庸馨搴缚p的影像。,,,氣孔,,,,,這是一張φ40×2mm管子與管板焊縫的人工缺陷樣片。,,氣孔,,,,冷凝器射線照相的一張底片,上面有兩處缺陷:夾鎢和氣孔。,,這是上面
42、那張底片的放大圖,較粗黑線為管子-管板焊縫的內(nèi)邊緣。,,這是一張φ40×2mm管子與管板焊縫的人工缺陷樣片。,,八、管子-管板角焊縫射線照相技術(shù)的應(yīng)用,主要應(yīng)用于以下條件下運(yùn)行的石油化工反應(yīng)器和換熱器設(shè)備:高壓差;高應(yīng)力或交變應(yīng)力;不允許微量泄漏的高毒性介質(zhì);不允許微量泄漏的強(qiáng)腐蝕介質(zhì);,過(guò)去的25年的國(guó)外應(yīng)用實(shí)踐表明,管子-管板焊縫射線照相技術(shù)的應(yīng)用大大降低了換熱器和反應(yīng)器的失效概率,泄漏事故發(fā)生率從18%降至3%,
43、從18%降至3%,,超聲導(dǎo)波檢測(cè)技術(shù),壓力管道低頻超聲導(dǎo)波檢測(cè),導(dǎo)波檢測(cè)是一種新的無(wú)損檢測(cè)方法,在許多結(jié)構(gòu)上得到應(yīng)用,特別是在用管道檢驗(yàn)上;導(dǎo)波(Guided Wave)屬于超聲波范疇,是一種與介質(zhì)斷面尺寸有關(guān)的特殊波動(dòng);管道檢測(cè)所應(yīng)用的低頻導(dǎo)波的頻率范圍大致為20KHz-100KHz;,管道中傳輸?shù)膶?dǎo)波類型—縱波和扭曲波,鋼管中的縱波(L),扭曲波(T),以及散射撓曲波(F)的曲線。,4.1.1導(dǎo)波檢測(cè)原理,導(dǎo)波主要沿管道軸向傳輸
44、,平均分布于管壁內(nèi)部,當(dāng)導(dǎo)波傳輸過(guò)程中遇到缺陷時(shí)(缺陷在環(huán)狀截面有一定的面積),導(dǎo)波會(huì)在缺陷處返回一定比例的反射波,因此可根據(jù)反射波來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷和判斷缺陷的大小。,導(dǎo)波檢測(cè)的優(yōu)越性(1),只要在管道上某一段部位(約0.5米長(zhǎng))安裝探頭卡環(huán),便可對(duì)卡環(huán)兩側(cè)各數(shù)十米長(zhǎng)度的管道進(jìn)行100%的快速檢測(cè)??梢詸z測(cè)空中和水下管道而無(wú)需在空中或水下作業(yè) ??梢詸z測(cè)被保溫或絕熱材料包覆的管道,除安放探頭的位置外,無(wú)需破壞包覆層,導(dǎo)波檢測(cè)的優(yōu)越性(2)
45、,可以檢測(cè)難以接近區(qū)段的管道,例如有支座,夾套的管段,被墻壁、容器壁、其它管子或結(jié)構(gòu)件阻礙的管段,橋梁下的管道以及穿越道路、堤壩的管道,而無(wú)需破壞造成障礙的結(jié)構(gòu)。 可在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行在線檢測(cè)。檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)無(wú)需電源,無(wú)污染、不影響周圍工作,2-3人即可進(jìn)行操作,每天檢測(cè)長(zhǎng)度達(dá)5公里(視現(xiàn)場(chǎng)條件)。,導(dǎo)波檢測(cè)的特點(diǎn)(1),導(dǎo)波容易檢出的缺陷包括局部腐蝕,沖蝕,機(jī)械損傷,成群的點(diǎn)蝕以及環(huán)向裂紋。對(duì)均勻腐蝕,個(gè)別點(diǎn)蝕,軸向裂紋,焊縫中的小缺陷
46、則不敏感。但如果軸向裂紋和焊縫中的缺陷足夠大,也是可以檢出的。,導(dǎo)波檢測(cè)的特點(diǎn)(2),導(dǎo)波一次檢測(cè)的可檢測(cè)長(zhǎng)度可達(dá)卡環(huán)兩側(cè)各80米。當(dāng)管內(nèi)有介質(zhì)或外面包裹有瀝青等材料,或管壁及內(nèi)部存在較大的缺陷(如裂紋、未焊透、腐蝕坑等),以及管道結(jié)構(gòu)特征(如焊縫余高、接管、支架、變徑處等)會(huì)使一次可檢測(cè)長(zhǎng)度減少,減少程度與管道腐蝕程度、具體接觸物質(zhì)特性、管道結(jié)構(gòu)特征有關(guān)。,導(dǎo)波的檢測(cè)靈敏度,導(dǎo)波的檢測(cè)靈敏度用管道環(huán)狀截面上的金屬缺損面積與管道環(huán)狀截
47、面的百分比評(píng)價(jià),目前的檢測(cè)靈敏度可達(dá)到3%,即當(dāng)缺損面積達(dá)到管道截面積的3%便可檢出。,揚(yáng)子石化的檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng),這是一張管道較好部位的導(dǎo)波檢測(cè)圖,這是一張管道表面有點(diǎn)狀腐蝕坑的導(dǎo)波檢測(cè)圖,高頻超聲導(dǎo)波檢測(cè)技術(shù),特點(diǎn):頻率0 .5-2MHZ;可在大面積的金屬平面或曲面上,對(duì)凹坑(腐蝕)、裂紋等缺陷進(jìn)行快速檢測(cè);靈敏度高于低頻導(dǎo)波;正面和背面的缺陷均可檢測(cè);可越過(guò)障礙物,對(duì)遠(yuǎn)距離缺陷進(jìn)行掃查。,典型的應(yīng)用范圍包括:,1.從外部檢測(cè)儲(chǔ)罐
48、的底板和罐壁環(huán)板;2.從外部檢測(cè)在用管道3.從外部檢測(cè)在用長(zhǎng)管拖車氣瓶?jī)?nèi)壁缺陷;4.從外部檢測(cè)無(wú)法進(jìn)入的容器的內(nèi)壁缺陷5.從內(nèi)部檢測(cè)在用多層容器內(nèi)筒的背面缺陷;6.從內(nèi)部檢測(cè)埋地罐的外壁缺陷;,導(dǎo)波的波束和檢測(cè)范圍,導(dǎo)波定點(diǎn)掃查的檢測(cè)范圍:對(duì)于平板狀工件,檢測(cè)區(qū)域?yàn)橐簧刃螀^(qū)域,最大探測(cè)距離一般1~1.5m ;適用的工件厚度范圍為6~30mm。,,高頻導(dǎo)波檢測(cè)具有較高的靈敏度和分辨率,靈敏度:可檢出深度0.5mm,長(zhǎng)5mm
49、的裂紋; 對(duì)自然裂紋分辨能力:兩條相鄰3mm裂紋,可以得到明顯分辨,見(jiàn)右圖的波形:,,高頻導(dǎo)波從外部檢測(cè)儲(chǔ)罐的底板,應(yīng)用高頻導(dǎo)波技術(shù)對(duì)尿素合成塔內(nèi)筒的外壁裂紋檢測(cè)的試驗(yàn)從尿素合成塔內(nèi)壁檢測(cè)內(nèi)筒外壁的環(huán)向與縱向裂紋,實(shí)驗(yàn)總結(jié),超聲導(dǎo)波技術(shù)可以用于多層包扎式尿素合成塔內(nèi)筒外壁裂紋缺陷檢測(cè),具有以下優(yōu)點(diǎn):1、檢測(cè)效率高,掃查速度快;2、檢測(cè)覆蓋率可達(dá)到100%;3、探測(cè)距離遠(yuǎn),在試塊上可清晰分辨距離為2米處的1.5mm深裂紋;
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