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文檔簡介
1、隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,單顆芯片的規(guī)模越來越大,基于總線平臺的SoC設計方法漸漸成為芯片設計的主要方法,SoC(System on Chip,片上系統(tǒng))技術是將系統(tǒng)中的模塊(包括CPU、控制器、DSP等)全部集成到一顆芯片上的技術,基于總線平臺的SoC設計方法是遵循某個成熟的總線標準,為SoC模塊提供統(tǒng)一的標準總線接口,大大提升知識產(chǎn)權(Intellectual Property,IP)核的復用程度。隨著SoC技術的發(fā)展,SoC芯片
2、的安全問題逐漸產(chǎn)生:不良廠商將參數(shù)性能不達標或重回收利用的劣質(zhì)芯片投入市場,對整個集成電路產(chǎn)業(yè)帶來很大威脅。在巨大的非法經(jīng)濟利益驅動下,假劣集成電路芯片制造及流通呈現(xiàn)愈演愈烈的趨勢,因此開發(fā)檢測及阻止假劣集成電路芯片的相關技術具有十分重大的經(jīng)濟及社會意義。
物理不可克隆函數(shù)(Physical Unclonable Function,PUF)作為一種解決SoC芯片安全問題的新技術,受到人們的關注。PUF利用集成電路芯片在制造過程
3、中的工藝差異性,比如路徑延時,對于相同的激勵,不同的芯片產(chǎn)生不同的響應,并在廠商的數(shù)據(jù)庫中注冊各個芯片的激勵響應對。對于待檢驗芯片,輸入特定的激勵信號,將得到的響應數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫中記錄的該芯片的響應數(shù)據(jù)作對比,如果相同則該芯片為正版產(chǎn)品,否則為假劣產(chǎn)品。
本文以環(huán)形振蕩器PUF(RO-PUF)為基礎,分析基本RO-PUF的優(yōu)缺點,設計一款新型變頻環(huán)形振蕩器PUF,該新型變頻環(huán)形振蕩器PUF繼承了基本RO-PUF的優(yōu)點,并解決了基
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