基于偏振OCT和雙環(huán)OEO的快速雙折射率檢測技術(shù).pdf

1、雙折射率檢測廣泛應(yīng)用于珠寶鑒定中，隨著科技的發(fā)展，醫(yī)療水平的進(jìn)步，人們發(fā)現(xiàn)生物組織的雙折射率可以很好的反映組織的狀態(tài)。然而由于組織的特殊性，傳統(tǒng)的雙折射率檢測技術(shù)失去了其用武之地，因而迫切需要新的雙折射率檢測技術(shù)的出現(xiàn)。
　　偏振OCT技術(shù)作為最近非常熱門的醫(yī)學(xué)成像技術(shù)，由于其獨特的偏振光成像的技術(shù)，可以很好的進(jìn)行雙折射率檢測。然而對于傳統(tǒng)的時域偏振OCT，受限于參考臂的機械掃描，成像速度較慢;對于頻域偏振OCT，雖然不需要進(jìn)行縱

2、向掃描，但需要對探測到的信號作復(fù)雜的算法處理，性能也受到各種限制。因而改進(jìn)偏振OCT結(jié)構(gòu)以便更好的進(jìn)行雙折射率檢測，是非常必要的。
　　光電振蕩器技術(shù)由于其輸出信號的高Q值、低相位噪聲等特性，被廣泛應(yīng)用于微波信號的生成?？紤]到光電振蕩器輸出信號頻率與環(huán)路延時的密切關(guān)系，當(dāng)待測件折射率已知時，光電振蕩器的結(jié)構(gòu)可以用來測量待測件長度，當(dāng)待測件長度已知時，該結(jié)構(gòu)即可用來測量待測件的折射率。
　　本文結(jié)合了醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域的偏振OCT技

3、術(shù)和微波光子學(xué)領(lǐng)域的光電振蕩器技術(shù)，分別提出了兩種新型的雙折射率檢測方法和裝置。第一種方法，通過將時域偏振OCT參考臂的機械掃描轉(zhuǎn)化為對SOA的注入電流的調(diào)節(jié)，提高了時域偏振OCT的成像速度。仿真結(jié)果表明，所提出的結(jié)構(gòu)可以分辨出20μm樣品10-3的雙折射率變化;第二種方法，通過偏振控制器、偏振合波器組成偏振復(fù)用雙環(huán)結(jié)構(gòu)，利用輸出微波信號頻率對短環(huán)路延時的高度敏感性，對已知長度的樣品進(jìn)行雙折射率檢測。仿真結(jié)果表明，在長環(huán)光纖51m，短環(huán)