雙折射率測量系統(tǒng)的研究與改進(jìn).pdf

1、隨著電子技術(shù)、激光技術(shù)以及自動控制技術(shù)的飛速發(fā)展,光學(xué)測量技術(shù)也發(fā)生了本質(zhì)的變化,如通過引入光電接收轉(zhuǎn)換、模塊與程控設(shè)計(jì)、數(shù)字顯示,可極大的提高光學(xué)測量儀器的精度和效率,為精密光學(xué)測量系統(tǒng)的發(fā)展拓寬了道路。由于激光、偏光技術(shù)的發(fā)展迅速,導(dǎo)致了對波片精度的要求也越來越高,而波片的雙折射率又是其最重要的性質(zhì)之一,它將會直接或間接的影響到精密光學(xué)測量儀器的質(zhì)量、光的偏振態(tài)及光通信效率等,所以,通過直接測量波片的雙折射率來評價(jià)波片質(zhì)量是非常有價(jià)

2、值的。SZY-1型光學(xué)雙折射率測試儀便是依據(jù)電光調(diào)制的原理設(shè)計(jì)的一種用于測量波片的相位延遲量的儀器。
　　論文主要針對SZY-1型雙折射率測試儀存在的非自動化、系統(tǒng)老化引起的測量精度低等問題,結(jié)合模塊化電路及程控思想,研究并改造實(shí)施了能夠適應(yīng)波片進(jìn)行精確測量的雙折射率測量方法?？紤]到系統(tǒng)的產(chǎn)品實(shí)用性,結(jié)合單位內(nèi)部實(shí)際情況以及在波片制作、激光系統(tǒng)等方面的技術(shù)積累,將重點(diǎn)放在了提高系統(tǒng)測量精度、系統(tǒng)集成化和自動控制的研究上來。

3、　　為改變原有系統(tǒng)非自動化、電路老化和測量精度低等狀況,論文在認(rèn)真分析、研究前人攻關(guān)成果的基礎(chǔ)上,在緒論部分重點(diǎn)闡述了雙折射率測試儀的研究背景及國內(nèi)外研究現(xiàn)狀,重點(diǎn)介紹了3種不同系列的國外先進(jìn)測試儀。結(jié)合已有的波片測量知識,分析了SZY-1型雙折射率測試儀的工作原理,并對原有測量系統(tǒng)的電光調(diào)制信號發(fā)生電路、選頻網(wǎng)絡(luò)、光電接收轉(zhuǎn)換及高壓電源等部分進(jìn)行了改進(jìn)設(shè)計(jì)。硬件改造電路圍繞 STC89C52RC搭建,由單片機(jī)產(chǎn)生方波信號,用按鍵控制其