基于ARM的微波暗室測試系統(tǒng)硬件設計.pdf

1、高性能的天線研發(fā)離不開一套高精度的測試系統(tǒng)。微波暗室中的天線測試系統(tǒng)主要包括轉臺及伺服系統(tǒng)、測試儀器和監(jiān)控系統(tǒng)。其中轉臺及伺服系統(tǒng)等硬件部分的性能優(yōu)劣將直接影響微波暗室中天線測試的準確性，因此硬件部分的設計顯得十分重要。本文設計并研究出一種基于ARM的微波暗室測試系統(tǒng)的硬件方案，主要包括伺服系統(tǒng)的底層驅動設計和電機控制部分設計。測試系統(tǒng)通過ARM處理器控制電機的轉動，調整被測天線的姿態(tài)的同時記錄被測天線的天線圖等測試數據。本設計硬件核心

2、基于型號為Atmel AT91SAM9263的單板機，設計出一種可以自動完成遠場收發(fā)的測試系統(tǒng)，簡化了天線測試的操作步驟。借助頻譜儀，系統(tǒng)能夠準確測量天線方向圖、主瓣寬度、波瓣寬度、增益等參數。本系統(tǒng)具有測量誤差小、抗干擾能力強、測量靈敏度高等特點。
　　本設計的創(chuàng)新點是借助于嵌入式系統(tǒng)良好的擴展性，使用高精度的軸角編碼器，以及裁剪了內核linux2.6.24，刪除了MCI、顯示屏等驅動，移植了網絡接口、AD等驅動。通過PID算法