微波暗室性能測試支架及其控制系統(tǒng)設(shè)計.pdf

1、在進行微波暗室性能測試時，其測試支架起著至關(guān)重要的作用。本文從工程實際需要出發(fā)，對其測試支架及其控制系統(tǒng)進行設(shè)計和分析。
　　 本測試支架有效工作范圍為水平面內(nèi)橫向（X方向）運動3m，縱向（Y方向）運動3m，垂直方向（Z方向）運動6m的立體空間，可同時采集三個通道的電磁信號。測試支架的主體材料為重量輕、強度大的MC尼龍及環(huán)氧玻璃布層壓板，以盡量降低由于反射對空間電磁信號分布測量所帶來的影響。測試支架各運動平臺沿每個方向軌道的運動

2、是通過平臺轉(zhuǎn)動軸上的齒輪與軌道齒條嚙合來實現(xiàn)的，轉(zhuǎn)動軸上齒輪的驅(qū)動力由步進電機經(jīng)齒輪減速后提供。測試支架各零部件的設(shè)計均參照相關(guān)技術(shù)標準進行，為確保安全性，對一些關(guān)鍵部件進行了有限元強度分析，為系統(tǒng)的可靠性提供了依據(jù)。在上述工作基礎(chǔ)上，完成了該系統(tǒng)的設(shè)計與制造。同時，以NI數(shù)據(jù)采集卡為硬件基礎(chǔ)，結(jié)合LabVIEW圖形化開發(fā)平臺，開發(fā)了控制和測量系統(tǒng)軟件，能自動完成信號采集、數(shù)據(jù)處理、曲線擬合、圖形化顯示等功能，并能實現(xiàn)試驗報告的自動生成