介質(zhì)阻擋放電微型原子化器在原子熒光光譜分析中的應(yīng)用研究.pdf

1、介質(zhì)阻擋放電（Dielectric barrier discharge，DBD）是利用高介電性材料（石英、陶瓷等）插入兩電極之間，從而形成一種穩(wěn)定、均勻的氣體放電。DBD作為一種低溫等離子體發(fā)生技術(shù)，在放電過程中會(huì)產(chǎn)生大量化學(xué)性質(zhì)活躍的自由基或離子，對(duì)促進(jìn)化學(xué)分子的氧化還原及分解過程起著重要作用，能夠作為揮發(fā)性組分的原子化方式。同時(shí)，DBD等離子體具有低溫、低能耗、小體積等特點(diǎn)，為原子光譜分析儀器的微型化提供了可能。因此，DBD技術(shù)在原

2、子光譜領(lǐng)域具有很高的研究?jī)r(jià)值和商品化前景。
　　本研究采用石英管和陶瓷管等材料自制了同軸圓柱型DBD微型原子化器，將其嵌入商品化原子熒光光譜儀(AFS)中，以替換原有電熱石英爐原子化器，并利用冷蒸氣發(fā)生(CVG)和氫化物發(fā)生(HG)進(jìn)樣方式，建立了DBD-AFS分析系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了環(huán)境樣品中痕量Cd和Te的分析測(cè)定。該DBD微型原子化器具有易加工、價(jià)格低、污染小、干擾少等優(yōu)點(diǎn)。
　　當(dāng)進(jìn)樣體積為1000μL時(shí)，本系統(tǒng)對(duì)Cd的檢出

3、限為0.006μg/L，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為3.0％（1μg/L）;對(duì)Te的檢出限為0.04μg/L，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為1.8％（5μg/L），與商品化AFS的檢測(cè)能力相當(dāng)。將本系統(tǒng)應(yīng)用于標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和實(shí)際樣品中Cd和Te的測(cè)定，測(cè)定值與標(biāo)準(zhǔn)值相符，加標(biāo)回收率結(jié)果滿意。在此基礎(chǔ)上，利用該系統(tǒng)對(duì)Hg、As、Se、Pb、Sb等常見蒸氣發(fā)生元素進(jìn)行了原子熒光法測(cè)定，其對(duì)這些元素的檢測(cè)能力可達(dá)到基于電熱石英爐原子化器的AFS一起的測(cè)定水平，并通過對(duì)一系列As