X射線單晶回擺曲線測定儀的研制與開發(fā).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文論述了X射線單晶回擺曲線測定儀的研制與開發(fā)。 X射線單晶回擺曲線測定儀是檢測晶體缺陷的專用設(shè)備。它是應(yīng)用小功率X射線發(fā)生裝置的低成本單晶材料檢測儀器。工作光學(xué)原理主要依據(jù)布拉格方程，X射線單晶回擺曲線測定儀的下位機(jī)采用基于Cygnal公司的C8051F005單片機(jī)的數(shù)據(jù)采集控制系統(tǒng)以及步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動系統(tǒng)。首先，本儀器在測量單晶材料過程中，采用了微弱信號檢測技術(shù)，并通過單片機(jī)采集數(shù)據(jù)。經(jīng)RS232串口通訊，數(shù)據(jù)傳輸?shù)交赩B語言

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