基于調(diào)制度的光學三維測量方法研究.pdf

1、在相位法的光學三維測量中，目前對測量復雜面形物體時，測量效果不好，且需要去包裹。本論文研究的基于調(diào)制度的光學三維測量方法則不需要去包裹。它是利用正弦光柵的對比度在光柵成像面位置處的最大值，通過垂直測量原理來恢復物體的高度信息，具有設備易于實現(xiàn)、非接觸、受外界環(huán)境影響小等優(yōu)點。論文對比了傅立葉變換技術(shù)和相移技術(shù)的兩種光學三維測量的異同點，由于相移技術(shù)的計算相對簡單，受背景影響小，因而論文研究了相移技術(shù)的調(diào)制度測量，獲得了很好的調(diào)制度圖。

2、 在研究基于相移技術(shù)的調(diào)制度測量原理中，編寫了相移誤差分析及光柵性能分析的程序，并分析了相移誤差對獲取調(diào)制度信息的影響。為了減少結(jié)構(gòu)光場中的非正弦性對調(diào)制度測量技術(shù)的影響，論文從經(jīng)濟性及實用性的角度出發(fā)，研究了正弦光柵的制備，通過0.618法，找到了最佳曝光時間，獲得的正弦光柵具有高的精度和對比度。 分析了幾種高度恢復算法，給出了程序流程圖和部分程序，同時研究了幾種垂直掃描方式，指出整體式掃描方式最好。 最后，分析