基于阻變存儲芯片功能仿真與驗證系統(tǒng)設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)與信息產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，大容量存儲器的研發(fā)愈發(fā)受到重視。存儲器的驗證測試對于縮短研發(fā)周期，保障產(chǎn)品質(zhì)量起到了至關(guān)重要的作用。而集成電路自動測試設(shè)備(ATE)相對于傳統(tǒng)的測試方法具有良好的人機交互界面、自動化程度強、易操作等特點，降低了操作人員的使用門檻，因此得到了廣泛的應(yīng)用。目前高端ATE市場被國外壟斷且價格昂貴。
　　本文基于阻變存儲器芯片（RAM）的功能仿真開發(fā)了一款經(jīng)濟實用的驗證平臺，主要內(nèi)容有:
　　1、

2、研究了存儲器測試的基本原理和測試技術(shù)，討論了ATE的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀。
　　2、介紹了阻變存儲器基本原理，詳細研究了待測阻變存儲器芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)與時序工作原理;并對芯片進行了詳細的功能時序驗證分析，明確了驗證系統(tǒng)的測試目的。
　　3、詳細介紹了基于待測RRAM芯片開發(fā)的驗證系統(tǒng)硬件電路設(shè)計。包含F(xiàn)PGA器件選型、引腳電路設(shè)計、程控電源設(shè)計。
　　4、重點介紹了驗證系統(tǒng)的可編程邏輯設(shè)計:如ATE通信協(xié)議設(shè)計、定時器設(shè)計、格式

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