脈沖激光沉積法制備高質(zhì)量ZnO薄膜及其緩沖層的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、氧化鋅(ZnO)是一種寬帶隙(室溫下3.3eV)Ⅱ-Ⅵ族化合物半導(dǎo)體,激子結(jié)合能為60meV,具有六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)。ZnO薄墨菊有良好的透明導(dǎo)電性、壓電性、光電性、氣敏性和壓敏性,且易于與多種半導(dǎo)體材料實(shí)現(xiàn)集成化。由于這些優(yōu)異的性質(zhì),使其具有廣泛的用途和許多潛在用途,如聲表面波器件、平面光波導(dǎo)、透明電極、紫外光探測器、壓電器件、壓敏器件、紫外發(fā)光器件和氣敏傳感器等。近年來,對其研究和開發(fā)在國內(nèi)外科學(xué)界及工業(yè)部門引起了極大的關(guān)注和興趣。

2、 本文通過采用脈沖激光沉積法在單晶Si(100)襯底上生長了沿c軸高度取向的高質(zhì)量ZnO薄膜。襯底溫度、環(huán)境氧壓、脈沖頻率是影響薄膜質(zhì)量非常重要的三個因素。通過AFM、XRD和PL譜測試研究這三個因素對所制備薄膜的表面形貌、結(jié)晶性能和光學(xué)性質(zhì)的影響。進(jìn)行了ZnO薄膜可控生長方面的研究,對ZnO薄膜的制備條件進(jìn)行了優(yōu)化。 論文進(jìn)行了ZnO薄膜緩沖層的研究。ZnO與Si襯底失配度較大,所生成ZnO薄膜的質(zhì)量受到影響。本文引入了緩

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