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文檔簡介
1、電子散斑干涉測量技術(shù)是光學(xué)測量技術(shù)的重要分支。電子散斑干涉測量技術(shù)是利用條紋分析實現(xiàn)變形的無損測量,具有非接觸、全場性、精度高的特點,近二十年來已成為測量變形場的重要方法。電子散斑干涉術(shù)通過在被測物體表面產(chǎn)生干涉條紋(載頻調(diào)制條紋),分析位移場與物面高度之間的關(guān)系,可測量物面的形貌。該方法基于光的干涉,測量靈敏度高。電子散斑面形測量技術(shù)基于傳統(tǒng)的電子散斑干涉技術(shù),具有電子散斑干涉技術(shù)的一系列優(yōu)點。
本文就電子散斑干涉結(jié)合傅里葉
2、變換法用于物體變形、面形測量進(jìn)行了研究與討論,主要內(nèi)容是:
1.介紹了散斑的成因、產(chǎn)生方法及相關(guān)概念;回顧了散斑干涉計量的起源與發(fā)展;系統(tǒng)介紹了電子散斑干涉的原理及散斑干涉中的位相測量技術(shù)。
2.回顧了物體變形及面形測量的發(fā)展過程,重點介紹了電子散斑干涉載頻調(diào)制和傅里葉變換法相結(jié)合的測量物體形貌的方法。
3.根據(jù)電子散斑干涉載頻調(diào)制測量物體形貌的基本原理,物體表面的微小偏轉(zhuǎn)可引入包含物體高度信息的載波干涉條
3、紋。物體的偏轉(zhuǎn)使物體表面產(chǎn)生離面位移與面內(nèi)位移。將物體由于變形而產(chǎn)生的相位差與物體由于偏轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的相位差進(jìn)行對應(yīng)比較,得出了離面位移引入了載波,面內(nèi)位移引入了含有物體高度信息相位的結(jié)論?;谶@種結(jié)論對電子散斑干涉載頻調(diào)制可用的幾種形貌測量方法進(jìn)行了討論,比較得出利用典型電子散斑干涉系統(tǒng)測量物體形貌,載波條紋與物面對載波條紋的調(diào)制均比較明顯,容易利用傅立葉變換解調(diào)出含有物體高度信息的相位,并通過實驗得到了驗證。
4.參與設(shè)計了一
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