儀器自檢技術(shù)的研究和實(shí)現(xiàn).pdf

1、本論文以對(duì)分析儀器的研究為背景，以提高分析儀器的自檢能力為主要目標(biāo)，詳細(xì)討論了分析儀器中各個(gè)主要功能模塊的自檢設(shè)計(jì)方法。
　　 隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用，儀器在改善和提高自身性能的同時(shí)，也大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性。這就給儀器的自檢帶來(lái)了諸多問(wèn)題，如自檢時(shí)間長(zhǎng)，故障診斷困難、使用維護(hù)費(fèi)用高等，儀器的自檢設(shè)計(jì)逐漸引起了人們的高度重視。自檢的目的主要是為了提高系統(tǒng)的可靠性，而可靠性是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)。

2、隨著科技的發(fā)展，在一些高科技領(lǐng)域特別是國(guó)防、航空等領(lǐng)域，可靠性得到越來(lái)越多的重視。如前蘇聯(lián)的切爾諾貝利核電站泄露，美國(guó)“挑戰(zhàn)號(hào)”航天飛機(jī)失事等不可靠性事件的發(fā)生，使我們?cè)絹?lái)越多地意識(shí)到產(chǎn)品可靠性的重要。根據(jù)哲學(xué)的理論，解決問(wèn)題時(shí)要抓住事物的主要矛盾。因此，要提高系統(tǒng)的可靠性就必須提高系統(tǒng)的自檢能力。自20世紀(jì)80年代以來(lái)，自檢技術(shù)在國(guó)外得到了飛速發(fā)展，研究人員開(kāi)展了大量的系統(tǒng)測(cè)試和診斷問(wèn)題的研究，測(cè)試性逐步形成了一門(mén)與可靠性、維修性并行

3、發(fā)展的學(xué)科分支。由于各種原因，我國(guó)對(duì)自檢技術(shù)的研究起步較晚，但發(fā)展迅速。但是，從總體水平來(lái)看，我國(guó)自檢技術(shù)的水平與世界先進(jìn)國(guó)家相比還有一定的差距。不過(guò)值得欣慰的是，隨著我國(guó)對(duì)自檢技術(shù)的重視，將會(huì)逐步減小和國(guó)外的差距。
　　 目前國(guó)內(nèi)外的論文對(duì)自檢技術(shù)的研究主要是針對(duì)儀器的某一個(gè)模塊，如RAM、ROM、輸入輸出通道等，這些論文很多只是理論，有些并沒(méi)有在實(shí)踐中加以應(yīng)用，而且這些論文也沒(méi)有完整的對(duì)一臺(tái)儀器的各個(gè)主要部分進(jìn)行研究過(guò)。本論