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文檔簡介
1、采用直流脈沖等離子體CVD技術(shù)成功制備了含fullerene-like微結(jié)構(gòu)的氫化碳膜,通過優(yōu)化制備工藝條件實現(xiàn)了對fullerene-like微結(jié)構(gòu)的調(diào)控,提出了fullerene-like微結(jié)構(gòu)形成機理,并且研究了限制其應(yīng)用的應(yīng)力問題。 研究內(nèi)容主要包括: 1.用直流脈沖等離子體化學氣相沉積方式成功制備了含fullerene-like微結(jié)構(gòu)的氫化碳膜,發(fā)現(xiàn)薄膜有優(yōu)越的力學和彈性恢復特性。 2.通過優(yōu)化制備工藝
2、條件,對薄膜中fullerene-like卷曲結(jié)構(gòu)的含量進行調(diào)控:(a)通過真空退火有效改善了薄膜中fullerene-like卷曲結(jié)構(gòu)含量,使力學、彈性恢復性能得到了改善;(b)通過改善生長時間獲得了類Fullerene卷曲結(jié)構(gòu)含量與力學、彈性恢復性能的對應(yīng)關(guān)系;(c)通過改善生長過程中H2的流量,發(fā)現(xiàn)制備的薄膜中應(yīng)力越小,氫含量越少,薄膜的力學性能和彈性恢復性能越好,分析認為是由于fullerene-like納米結(jié)構(gòu)的形成使薄膜性能
3、得到改善。 3.制備了膜厚達2μm的含fullerene-like微結(jié)構(gòu)的碳膜,薄膜中應(yīng)力小于1Gpa;提出了新的應(yīng)力釋放模型,認為用直流脈沖等離子體CVD沉積的薄膜中高含量的5元、7元碳環(huán)導致了薄膜中高含量的石墨卷曲結(jié)構(gòu),降低了薄膜中的應(yīng)力;制備了有不同應(yīng)力釋放花紋的碳膜,系統(tǒng)研究了花紋與薄膜結(jié)構(gòu)間的關(guān)系;通過在制備過程中引入Ar有效降低了膜中應(yīng)力,制備出應(yīng)力基本完全釋放而力學性能沒有損失的氫化碳氮膜。 4.研究了成膜
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