基于相移干涉的碟片晶體面型測(cè)量及誤差研究.pdf

1、碟片激光器將傳統(tǒng)的棒狀晶體改為碟片狀，增加了增益介質(zhì)的表面積與體積比，可以有效解決固體激光器的熱效應(yīng)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了高平均功率、高峰值功率和高轉(zhuǎn)換效率的激光輸出。然而，在實(shí)現(xiàn)更高功率激光輸出的同時(shí)，碟片晶體的熱畸變特性成為制約激光功率與光束質(zhì)量進(jìn)一步提高的重要因素之一，因此，開(kāi)展對(duì)于碟片激光晶體光程差的測(cè)量研究是非常有必要的。本論文調(diào)研了目前國(guó)內(nèi)外常用的熱畸變測(cè)量方法，選擇相移干涉法對(duì)非運(yùn)行狀態(tài)下的碟片晶體光程差進(jìn)行測(cè)量。
　　論文詳

2、細(xì)介紹了相移干涉的原理和計(jì)算方法，并闡述了Zernike各項(xiàng)像差、光程差和波像差之間的關(guān)系，建立了一套完備的干涉圖及光程差分析理論。之后從相移干涉測(cè)量中的誤差源入手，分析了其中可能存在的誤差，并主要對(duì)相移誤差進(jìn)行研究。在理論上模擬了相移誤差的產(chǎn)生和對(duì)OPD測(cè)量結(jié)果的影響，討論了不同方向的誤差、不同大小的誤差及隨機(jī)誤差的變化特性，最后提取出振蕩曲線的上下輪廓線，進(jìn)行中心線擬合，來(lái)消除相移誤差引起的非球面紋波。搭建實(shí)驗(yàn)平臺(tái)測(cè)量碟片晶體的面型