面向固定型故障的測試向量生成與壓縮方法研究.pdf

1、集成電路測試技術在集成電路的設計、生產和制造過程中有著重要的意義。為使電路中存在的故障信號能夠表現(xiàn)出來,完成集成電路的測試,需要生成對應于確定故障的測試向量,從而激活電路中的故障。測試向量龐大的數(shù)據(jù)量也為數(shù)據(jù)傳輸和測試過程帶來了巨大的功耗和硬件開銷。測試向量生成與壓縮可以很好地解決上述問題。事實上，電路中70％以上的故障可以被固定型故障覆蓋,同時固定型故障又是其他故障模型的基礎,所以,對于固定型故障的測試向量生成具有重要的意義。因此,從

2、理論的層面開展面向固定型故障的測試向量生成和壓縮方法的研究具有一定的意義。
　　為生成組合和時序電路的測試向量,本文研究了測試生成的經典算法——D算法。D算法是一種針對組合電路的測試向量生成方法。本文在D算法的基礎上，采用全掃描設計的方法,實現(xiàn)時序電路的測試向量生成。除此之外,通過團劃分以及相容向量合并技術將生成的測試向量進行優(yōu)化處理。利用Visual Studio2008開發(fā)環(huán)境實現(xiàn)基于D算法的測試向量生成。實驗表明,該方法生成

3、的測試向量可以實現(xiàn)高可靠性測試,并使測試向量數(shù)目遠小于電路中所面向的故障數(shù)目。對ISCAS’85和ISCAS’89基準電路進行測試生成和仿真驗證,實驗結果表明,生成測試向量的故障覆蓋率為100%。
　　為解決測試向量數(shù)據(jù)量大的問題,本文對測試向量壓縮方法展開研究。
　　(1)提出了一種基于參考向量和糾錯碼的壓縮方法。對全部測試向量進行獨立劃分,得到子向量集合,并利用團劃分方法選擇出每一個集合中的參考向量,結合糾錯碼進行編碼。