小時延測試向量分組與向量篩選方法研究.pdf

1、隨著集成電路(IC)工藝不斷發(fā)展，IC集成度不斷提高，時鐘頻率不斷加快，IC測試變得越來越難，IC測試成為本世紀初半導(dǎo)體工業(yè)中最大的挑戰(zhàn)之一。新材料和新工藝很容易引起電源噪聲、串擾效應(yīng)、工藝變異、電阻開路及短路等現(xiàn)象，導(dǎo)致IC中出現(xiàn)大量的小時延缺陷，因此對小時延缺陷的檢測成為當今IC測試面臨的主要問題。小時延缺陷檢測的關(guān)鍵取決于測試集的質(zhì)量，因此小時延測試向量產(chǎn)生引起人們的關(guān)注。本文著眼于小時延測試向量分組和向量篩選兩個方面，提出了兩種

2、優(yōu)化測試集質(zhì)量和測試集數(shù)據(jù)量的方法。并在ISCAS’85和ISCAS’89基準電路上進行了實驗。本文的主要工作有：
　　首先，提出了一種自調(diào)節(jié)超速測試向量分組方法。超速測試向量分組的方法對小時延缺陷的檢測效果好，但向量分組的粒度太細會引起嚴重的過測試現(xiàn)象。該方法針對如何避免超速測試中過測試現(xiàn)象進行研究，利用故障模擬技術(shù)及靜態(tài)定時分析技術(shù)對超速測試中的過測試現(xiàn)象和測試逃脫現(xiàn)象進行評估，再根據(jù)其各自的情況對向量的測試時鐘進行調(diào)整，從而

3、改變向量分組的結(jié)果。最后利用調(diào)整測試時鐘后的測試向量集進行故障模擬，評估減少過測試現(xiàn)象的比例。在ISCAS’89基準電路上進行的實驗表明，提出的方法在增加少量測試逃脫現(xiàn)象的情況下，減少過測試現(xiàn)象的效果明顯，最高減少了39.30％的過測試現(xiàn)象。
　　其次，提出了一種新的小時延測試向量篩選方法。該方法用固定型測試向量的組合來檢測小時延缺陷，從組合的大測試集中篩選出具有高小時延缺陷覆蓋率的測試向量。最后僅用一個測試集就能同時對固定型故障