輻射電磁干擾對(duì)微波有源電路影響的研究.pdf

1、現(xiàn)代電子工業(yè)對(duì)電氣、電子系統(tǒng)的電磁干擾(Electromagnetic Interference, EMI)效應(yīng)研究有著越來(lái)越普遍的需求。微波有源電路在地面通信、衛(wèi)星通信、導(dǎo)航、制導(dǎo)、雷達(dá)、電子對(duì)抗、微波遙感、測(cè)量?jī)x表以及航天技術(shù)等領(lǐng)域都是必不可少的核心部件之一，是否正常工作直接關(guān)系到設(shè)備的性能。本文采用電磁場(chǎng)全波分析方法和電路方法的混合方法，在輻射電磁干擾對(duì)微波有源電路影響方面展開了如下研究工作：
　　1、采用電磁場(chǎng)全波解算器和

2、電路分析工具相結(jié)合的去耦分析方法對(duì)微波有源電路的輻射電磁干擾效應(yīng)展開研究。通過(guò)不完整屏蔽腔內(nèi)典型功率放大電路的分析，表明外加輻射電磁場(chǎng)會(huì)導(dǎo)致功率放大器增益的明顯下降，并提出了兩種改進(jìn)措施。這種方法沒有考慮印刷電路板微帶線終端不匹配對(duì)傳輸線網(wǎng)絡(luò)造成的耦合。
　　2、考慮了傳輸線終端不匹配造成的互耦影響，深入研究了混合 S參數(shù)矩陣方法。在傳輸線總感應(yīng)電壓模式提取條件下，通過(guò)混合S參數(shù)矩陣的推導(dǎo)計(jì)算，實(shí)現(xiàn)了輻射電磁干擾對(duì)微波有源電路性能