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文檔簡介
1、本文選用Gd2O3、m-ZrO2和摻雜氧化物(CeO2, Nb2O5和MoO3)為原材料,采用無壓燒結(jié)制備出高致密度的置換型稀土鋯酸鹽Gd2(Zr1-xCex)2O7(0≤x≤0.3)、Gd2(Zr1-xNbx)2O7+x(0≤x≤0.3)和Gd2(Zr1-xMox)2O7+2x(0≤x≤0.2)體系的陶瓷材料;采用X射線衍射、掃描電鏡等手段研究了稀土鋯酸鹽材料的微觀組織結(jié)構(gòu)及其轉(zhuǎn)變機理;采用交流阻抗譜法測試了稀土鋯酸鹽材料的電導率,并
2、揭示其導電機理。
對Gd2B2O7型稀土鋯酸鹽材料進行摻雜改性,將不同價態(tài)的陽離子Ce4+, Nb5+和Mo6+引入B4+位合成的Gd2(Zr1-xCex)2O7(0≤x≤0.3)、Gd2(Zr1-xNbx)2O7+x(0≤x≤0.3)和Gd2(Zr1-xMox)2O7+2x(0≤x≤0.2)體系的塊體材料均為完全互溶固溶體,且具有高的致密度,相對密度達到95.0%左右。
在B位摻雜不同價態(tài)陽離子后形成的置換型固溶體
3、Gd2(Zr1-xCex)2O7(0.1≤x≤0.3)、Gd2(Zr1-xNbx)2O7+x(0.1≤x≤0.3)和Gd2(Zr1-xMox)2O7+2x(0.1≤x≤0.2)的晶體結(jié)構(gòu)與陽離子半徑的比值[r(Gd3+)/r(B4+)]有直接的關(guān)系。對于基體Gd2Zr2O7來說,陽離子半徑比值r(Gd3+)/r(Zr4+)等于1.46,正好處于燒綠石結(jié)構(gòu)與缺陷型螢石結(jié)構(gòu)的理論臨界邊界值,并且材料的燒結(jié)溫度(1973K)高于其有序無序相變
4、溫度(1803K),為無序的缺陷型螢石結(jié)構(gòu)。對于置換型固溶體Gd2(Zr1-xCex)2O7(0.1≤x≤0.3)體系,陽離子半徑比值r(Gd3+)/r(B4+)小于1.46,為無序的缺陷型螢石結(jié)構(gòu);而對于置換型固溶體Gd2(Zr1-xNbx)2O7+x(0.1≤x≤0.3)和Gd2(Zr1-xMox)2O7+2x(0.1≤x≤0.2)體系,其陽離子半徑比值r(Gd3+)/r(B4+)均大于1.46,為有序的燒綠石結(jié)構(gòu)。
對于
5、置換型稀土鋯酸鹽Gd2(Zr1-xCex)2O7(0.1≤x≤0.3)和Gd2(Zr1-xMox)2O7+2x(0.1≤x≤0.2)體系,隨著摻雜量x的增加,材料的電導率是降低的。而對于Gd2(Zr1-xNbx)2O7+x體系,隨著摻雜量 x的增加,材料的電導率先上升,然后下降,在x=0.1時,材料的電導率達到最大值(4.34×10-3S·cm-1,1073K)。
對于同一組分的稀土鋯酸鹽Gd2(Zr1-xMx)2O7+δ(M
6、=Ce,Nb,Mo)固溶體體系,材料的電導率隨著溫度的升高而升高。而在同一溫度下,不同摻雜體系和含量的稀土鋯酸鹽材料的電導率與其晶體結(jié)構(gòu)有直接的關(guān)系。發(fā)現(xiàn)置換型稀土鋯酸鹽中金屬陽離子半徑比值r(Gd3+)/r(B4+)在1.48附近,且B位的兩種金屬陽離子半徑相差最小的Gd2(Zr1-xNbx)2O7+x固溶體體系中,材料電導率達到了本文所有研究體系的最大值。
在673-1073K溫度范圍、氧分壓為1.0×104-1.0atm
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