基于量子粒子群算法的SoC測試調(diào)度優(yōu)化研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路深亞微米制造和設(shè)計(jì)技術(shù)迅速發(fā)展,系統(tǒng)級芯片(SoC)技術(shù)的應(yīng)用大大降低了昂貴的設(shè)計(jì)和制造成本,但對于測試來說卻變得更為復(fù)雜,測試時間越來越長,測試成本也越來越高。SoC測試中,在同一時間內(nèi)對多個 IP核進(jìn)行并行測試是減少總測試時間的有效方法。芯片上的IP核有大有小,各IP核所需要的測試數(shù)據(jù)端口數(shù)目也有多有少,但片上的測試總線數(shù)目一定。因此,可以將幾個較小的IP核分配到不同的測試總線上,允許它們同時進(jìn)行測試,這就需要在SoC設(shè)

2、計(jì)中進(jìn)行測試調(diào)度。但是無限制的多IP核同時工作,使芯片瞬時功耗加大,可能造成測試芯片的損壞。
　　本文研究了SoC測試調(diào)度優(yōu)化方法,在此基礎(chǔ)上對基于測試總線的測試訪問機(jī)制策略進(jìn)行分析,并以縮短 SoC測試時間為目的,建立基于粒子群算法功耗約束下的SoC測試調(diào)度數(shù)學(xué)模型。結(jié)合測試調(diào)度優(yōu)化問題,通過實(shí)驗(yàn)確定算法中各個參數(shù)的最優(yōu)值。為了彌補(bǔ)粒子群算法易陷入局部最優(yōu)解的缺點(diǎn),引入具有量子行為的粒子群算法。然后建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型,提出基于量

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