容差模擬電路故障診斷方法研究.pdf

1、模擬電路故障診斷理論是網(wǎng)絡(luò)理論的第三分支，在自動(dòng)測(cè)試技術(shù)中起著支柱作用。自60年代開(kāi)始研究以來(lái)，取得了不少有價(jià)值的理論成果，但總的來(lái)說(shuō)發(fā)展一直比較緩慢。元件容差的普遍存在、電路故障的多樣性等是制約模擬故障診斷理論發(fā)展的主要障礙，尤其是電路中存在軟故障時(shí)，電路的故障狀態(tài)可能與正常狀態(tài)比較接近，或不同故障下的電路狀態(tài)可能重疊，因此診斷難度很大。 隨著微電子技術(shù)尤其是VLSI技術(shù)的發(fā)展，對(duì)模擬電路自動(dòng)測(cè)試和診斷的需求日益迫切。為此，本

2、文對(duì)容差模擬電路故障診斷方法進(jìn)行了較深入的研究，重點(diǎn)探索神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)診斷方法，致力于解決由于容差的存在以及模擬電路故障的多樣性而導(dǎo)致的訓(xùn)練樣本規(guī)模過(guò)大、診斷速率較低、診斷準(zhǔn)確率有待提高等問(wèn)題。 針對(duì)BP網(wǎng)絡(luò)存在收斂速度緩慢、容易陷入局部極小以及網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)難以確定等缺陷，提出了利用概率神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行故障診斷方法。仿真結(jié)果表明：該診斷方法快速、準(zhǔn)確，尤其對(duì)軟故障有較高的識(shí)別能力。 為了解決神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練樣本優(yōu)化選擇的問(wèn)題，采取遺傳算法

3、的全局尋優(yōu)能力與粗糙集理論結(jié)合的方法獲得決策表最小約簡(jiǎn)，該方法為本文所提出的粗糙集神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)集成診斷方案奠定了基礎(chǔ)。 針對(duì)容差電路神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)故障診斷方法訓(xùn)練樣本規(guī)模過(guò)大使得網(wǎng)絡(luò)過(guò)于復(fù)雜，網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練速度較低的問(wèn)題，提出了應(yīng)用自組織競(jìng)爭(zhēng)網(wǎng)絡(luò)—粗糙集—BP網(wǎng)絡(luò)集成進(jìn)行故障診斷的方案，從而降低了神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練樣本規(guī)模，減少了網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練時(shí)間。 針對(duì)容差電路故障元件診斷的不確定性問(wèn)題，提出了基于RBF與BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、D—S證據(jù)理論的故障診斷方