低不合格率生產(chǎn)過程的非參統(tǒng)計質(zhì)量控制圖研究.pdf

1、近年來企業(yè)都開始注重質(zhì)量管理，其質(zhì)量水平也隨之提高，低不合格率的產(chǎn)品也越發(fā)普遍，因此對低不合格率過程進行在線質(zhì)量控制、保證生產(chǎn)過程穩(wěn)定顯得十分重要。統(tǒng)計過程控制(Statistical Process Control，SPC)是一種對統(tǒng)計量進行監(jiān)控的方法，而控制圖是實施SPC最重要的工具。傳統(tǒng)監(jiān)控低不合格率過程的控制圖大多以連續(xù)合格品數(shù)作為控制對象，包括以幾何控制圖和負二項控制圖為基礎(chǔ)發(fā)展出的各種參數(shù)型控制圖。而本文在不利用質(zhì)量過程的分

2、布特性的前提下，引入Mann-Whitney U(M-W U)非參數(shù)統(tǒng)計量，構(gòu)建非參數(shù)控制圖來監(jiān)控低不合格率過程，通過對每兩個相鄰的樣本進行監(jiān)測并對比，可以發(fā)現(xiàn)質(zhì)量過程有無異常因素。
　　本文首先介紹了統(tǒng)計過程控制與常規(guī)控制圖的基本理論，描述了參數(shù)型統(tǒng)計方法與參數(shù)型控制圖，并說明其優(yōu)缺點和適用性。在此基礎(chǔ)上，闡述了非參數(shù)統(tǒng)計與非參數(shù)控制圖對于一般質(zhì)量過程監(jiān)控的優(yōu)勢。其次，基于低不合格率過程，介紹了幾種常用的連續(xù)合格品數(shù)控制圖，它們

3、能夠有效的實施過程監(jiān)控。通過對前人研究成果的分析與思考，本文將M-W U非參數(shù)檢驗統(tǒng)計量應(yīng)用于低不合格率過程，構(gòu)建了非參數(shù)控制圖。最后，本文通過一個數(shù)字實例確定了控制限，并對新控制圖的監(jiān)控性能進行分析。選擇控制圖性能比較的指標ARL(Average RunLength)，利用控制圖發(fā)出報警前的平均檢驗產(chǎn)品數(shù)來作具體的評價，與幾何控制圖檢測異常信號的效率進行了對比分析。隨機模擬的結(jié)果顯示，本文所構(gòu)建的Mann-Whitney U非參數(shù)控制