基于誤碼率的磁頭折片可靠性測量工藝研究.pdf

1、硬盤驅(qū)動器的發(fā)展方向是達到盡可能高的單位面積容量同時滿足可靠性要求。誤碼率是硬盤驅(qū)動器可靠性測試的主要指標。磁頭(磁頭折片組合)是決定硬盤驅(qū)動器可靠性的核心部件，如何準確測量其可靠性是一個長期和關(guān)鍵的課題，本文提出應(yīng)用誤碼率配合特定的測量工藝來改善可靠性評測的準確性。
　　本文對磁頭折片階段誤碼率及讀寫性能與硬盤誤碼率的相關(guān)性進行了研究，確認了磁頭讀寫性能并不等同于磁頭的可靠性，采用誤碼率對磁頭折片的可靠性進行測試可獲得磁頭折片階

2、段可靠性測試值與硬盤階段誤碼率測試值較強的相關(guān)性。硬盤通過硬件軟件優(yōu)化提高了整體可靠性，磁頭折片階段誤碼率的測試應(yīng)該以預(yù)測在硬盤階段的表現(xiàn)為目標，測試工藝需要進行相應(yīng)優(yōu)化。
　　本文系統(tǒng)研究分析了誤碼率測量工藝主要參數(shù)對誤碼率測量的影響：信號增益放大可以調(diào)節(jié)讀取的信號幅值從而改善可靠性，測試頻率影響信號強度、信噪比以及可靠性,動態(tài)飛行高度通過調(diào)節(jié)磁頭到磁碟距離以獲得更強的讀寫信號提高誤碼率，測試磁碟的磁特性、電磁變換特性會影響誤碼

3、率。通過正交實驗，發(fā)現(xiàn)信號增益放大會顯著影響誤碼率讀數(shù)的離散度，信號增益放大，測試信號頻率和測試磁碟會顯著影響誤碼率讀數(shù)的測量值。根據(jù)正交實驗和硬盤測試條件提出優(yōu)化測試工藝為：信號增益放大范圍為(160+/-25)；測試信號頻率為正常(210 MHz)；測試磁碟為三代 K型；動態(tài)飛行高度為無調(diào)節(jié)。在原始的磁頭折片測試條件下誤碼率的測量值并不是磁頭可以達到的最優(yōu)表現(xiàn)，優(yōu)化測試工藝可以改善誤碼率的表現(xiàn)。通過采用接近硬盤最新條件的優(yōu)化測試工藝

4、可以提高在磁頭折片階段預(yù)測硬盤誤碼率的準確性。
　　從測量的重復(fù)性、再現(xiàn)性和相關(guān)性進行驗證：優(yōu)化后的誤碼率測量工藝改善了測量的穩(wěn)定性和提高了不同測試設(shè)備之間的相關(guān)性。通過磁頭折片階段測試校驗確認了優(yōu)化條件成功改善了信號幅值較小和較大的磁頭的誤碼率，減小了磁頭折片誤碼率的離散度。通過磁頭折片誤碼率測試到硬盤誤碼率測試的相關(guān)確認了優(yōu)化條件顯著提高了磁頭階段誤碼率與硬盤誤碼率的相關(guān)性。
　　本文的研究對在磁頭折片組合階段如何基于誤