光學(xué)薄膜特性多維計算、設(shè)計、測試與分析綜合軟件.pdf

1、隨著鍍膜工業(yè)技術(shù)水平的迅速提高，光學(xué)薄膜設(shè)計軟件在鍍膜領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。多功能、綜合性是光學(xué)薄膜軟件的發(fā)展趨勢。目前該類軟件為國外所壟斷，因此，開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)的多功能、綜合性的光學(xué)薄膜設(shè)計與分析軟件對促進我國光學(xué)薄膜技術(shù)與產(chǎn)業(yè)的發(fā)展具有重要的應(yīng)用意義。 論文對國內(nèi)外同類光學(xué)薄膜軟件進行較全面的介紹和分析，根據(jù)目前光學(xué)薄膜軟件的發(fā)展現(xiàn)狀并結(jié)合實驗室的軟硬件資源，以光學(xué)薄膜設(shè)計分析理論為基礎(chǔ)，使用Visual Basic6.0開發(fā)

2、出一套具有自主知識產(chǎn)權(quán)的多功能、綜合性的光學(xué)薄膜特性多維設(shè)計與分析軟件“SYSU_OTFLab光學(xué)薄膜設(shè)計軟件V1.0”。 該軟件能計算光學(xué)薄膜的各種基本特性(透射率、反射率、相移、電場分布、等效光學(xué)導(dǎo)納、等效位相厚度等)；能使用針法、遺傳算法等多種優(yōu)化算法優(yōu)化已有膜系，提高膜系性能；能對薄膜沉積過程進行仿真分析；并創(chuàng)新性的實現(xiàn)光學(xué)薄膜多維分析計算功能，為使用者提供一個多角度多參數(shù)的光學(xué)薄膜多維分析工具。此外配合實驗室的儀器資源

3、，該軟件能對鍍膜過程中光學(xué)薄膜的厚度進行實時寬光譜監(jiān)控，并能對器件的光譜特性進行測量。 論文以軟件工程思想為指導(dǎo)對光學(xué)薄膜軟件的開發(fā)提出了一些新的解決方案，如：使用單個順序文件開發(fā)材料數(shù)據(jù)庫；將常用函數(shù)編譯為動態(tài)鏈接庫提高代碼重用率；采用混合編程把復(fù)雜優(yōu)化運算交托Matlab后臺處理；使用第三方顯示控件對光學(xué)薄膜分析結(jié)果進行二維或三維的圖形顯示。同時論文運用虛擬儀器技術(shù)，自主研發(fā)光學(xué)鍍膜寬光譜監(jiān)控儀，實現(xiàn)對鍍制任意厚度光學(xué)薄膜的